BestScope BSEM-400扫描电子显微镜

 

BSEM-400扫描电子显微镜配备高亮度长寿命肖特基场发射电子枪。凭借三级聚光电子光学镜筒设计和大的连续可调束流，在EDS、EBSD、WDS和其他分析应用中具有优势。该系统支持低真空模式，可以直接观察导电性差甚至不导电的样品。标准的光学导航模式，以及直观的用户操作界面，使分析工作变得轻松。

科研实验应用：在科研实验中具有广泛应用。用于材料科学、纳米技术、生物医学科研实验室。它可用于高分辨率的表面形貌观察、纳米级结构表征、材料表面成分分析、颗粒分析、纳米材料研究等。

BestScope BSEM-400扫描电子显微镜技术参数：

型号	BSEM-400
电子光学系统	高亮度肖特基场发射电子枪			●
	分辨率：1nm@30kV（SE）、0.9nm@30kV（STEM）			●
	放大倍数：1-1,000,000x			●
	加速电压：200V-30kV			●
探测器和扩展	Everhart-Thornley探测器(ETD)			●
	低真空检测器(LVD)			○
	背散射电子探测器(BSE)			○
	隔振台			○
	轨迹球和旋钮控制面板			○
标本室	真空系统：全自动控制			●
	低真空：最大180Pa			○
	相机	双摄像头		●
		光学导航		○
		室内监控		○
	载物台范围：X：120mm。Y：115毫米。Z：50毫米。右：360°右：-10°-+90°			●
软件	视窗。导航摄像头，手势快速导航。自动亮度和对比度、自动对焦和自动散光仪。			●

注：●标配 ○选配

BestScope BSEM-400扫描电子显微镜使用方法：

• 样品制备：将样品固定，并使用金或碳做导电层涂覆在样品表面。
• 真空泵气：使用扩散泵和离心泵将工作室内真空度先降到10Pa以下。
• 调整参数：设定加速电压(如15kV)、工作距离、分辨率等工作参数。
• 自动对焦：使用自动对焦功能，快速获得清晰的初步焦点。
• 手动微调：据观察情况轻按对焦旋钮，进行细致的手动对焦。
• 观察与照相：使用显微镜查看样品情况，通过CCD相机进行拍照。
• 变换区域：用移样器更换样品区域进行观察。
• 收样离开：完成后关闭加速电压，开启泵气恢复工作室压力。

BestScope BSEM-400扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院微机电研究所
• 北京大学材料科学与工程学院
• 上海交通大学材料科学与工程学院
• 武汉理工大学材料科学与工程学院
• 长春理工大学微尺寸科技学院

BestScope BSEM-400扫描电子显微镜售后使用注意事项：

• 样品表面应进行金属镀层，保证导电性好。
• 样品安装后舱压应恢复到工作压力范围内。
• 调整参数时不要频繁调整，以免影响效果。
• 进出样品时须重新泵真空，避免排放污染物。
• 对焦时要小心观察，轻按对焦钮微调焦点。
• 使用完毕应迅速收容样品，防止损坏或污染。
• 禁止在工作模式下打开舱盖或插拔电源线。
• 不要进行镜面清洗，须由专业人员定期维护镜面。
• 电源线应平整整齐布局，避免卷绕或压迫。

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