Semplor NANOS扫描电子显微镜

 

Semplor NANOS扫描电子显微镜（SEM）设备体积小，2倍和12倍光学变焦成像模式，适合在非实验室环境中使用。能够提供高达纳米级别的分辨率，配备EDS功能，能够快速进行元素分析和成分映射。支持多种成像模式，包括二次电子成像和背散射电子成像，适用于多种应用场景。

科研实验应用：1、材料科学：用于分析材料的微观结构、缺陷及其表面特性；2、生物医学：观察细胞、组织及生物样品的微观结构，帮助研究生物过程；3、纳米技术：研究纳米材料的形貌、尺寸和分布，推动纳米科技的发展；4、矿物学与地质学：用于矿物和化石的微观形态分析，帮助理解其成分和形成过程。

Semplor NANOS扫描电子显微镜参数：

成像模式	光学的	2倍和12倍光学变焦，最高60倍数码变焦
	扫描电子显微镜	放大倍数范围：100-200.000x
	解决	<8纳米
	捕获分辨率	高达4096x4096像素(4K)
照明	光学	明场
	电子光学	优化的热电子源（钨）
		使用寿命：ECO模式下可运行400多个小时
	加速电压	默认值：1、2、5、7、10、15和20kV
探测器		二次电子探测器（SED）
		背散射电子探测器（BSD）-4象限
		能量色散光谱检测器(EDS)–嵌入式
轻型光学导航摄像机		颜色
图像格式		JPEG、TIFF、PNG、BMP
用户界面		通信、成像和分析使用单个显示器，并通过无线鼠标和键盘进行控制
		启用远程控制和诊断
数据存储		网络、USB、工作站
样品台		同心倾斜台（+15°至-40°）手动
		计算机控制电动X、Y：25x25毫米
样本量		直径最大可达45毫米（最大倾斜度+15°至-15°）
		高度最大为14毫米（可选22和40毫米）
EDS规格	探测器类型	硅漂移探测器（SDD），热电冷却
	探测器有效面积	30毫米2
	能量分辨率	@MnKα<132eV
	最大输入计数率	30万cps
	硬件集成	完全嵌入式SDD、脉冲处理器和扫描发生器
软件		安装在WindowsPC上并通过用户界面控制
		EDS点分析、线分析和映射
		导出函数
系统规格	脚印	280（宽）x470（深）x550（高）毫米
	重量	62公斤
	泵	普发涡轮分子泵和无油膜预真空泵
	真空模式	高真空SEM模式（标准）低真空模式（标准）：40帕斯卡真空，减少充电
		通过用户界面电机控制真空度
	工作站	预配置一体式电脑，配备27英寸显示器。安装SEM成像和EDS分析软件
环境条件	温度	15°C-25°C（59°F-77°F）
	湿度	20-80％相对湿度
	力量	系统通常处于成像模式：110W（最大140W）

Semplor NANOS扫描电子显微镜使用方法：

1. 样品准备：确保样品表面干净且适合观察。
2. 仪器开机：启动扫描电子显微镜并进行自检。
3. 样品放置：将样品固定在样品台上。
4. 设置参数：根据需要调整加速电压和放大倍数。
5. 开始扫描：启动扫描并观察图像。
6. 数据记录：保存所需的图像和数据。

Semplor NANOS扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 北京大学材料科学与工程学院
• 清华大学生物医学工程学院
• 上海交通大学材料科学与工程学院
• 中山大学化学学院
• 南京大学物理学院
• 中国科学院金属研究所

Semplor NANOS扫描电子显微镜售后服务支持：

• 服务内容：提供专业的安装和调试服务，确保设备正常运行。
• 定期维护：建议每年进行一次全面的维护，包括硬件检查和软件更新。
• 校准服务：按照国际标准对设备进行校准，保证测试结果的准确性。
• 热线支持：提供24小时技术热线，解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
• 在线支持：通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
• 原厂配件：提供原厂认证的配件和耗材，确保设备的长期稳定运行。
• 用户培训：为操作人员提供设备使用和维护的培训，确保用户熟练掌握操作技能。
• 定期研讨会：定期举办用户交流会，分享最佳实践和最新技术。

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