原子力显微镜 AFM

原子力显微镜 英文：Atomic Force Microscope，缩写：AFM，原子力显微镜属于扫描探针显微镜，通常用来研究固体材料表面结构的分析，是研究纳米尺度样品的通用且强大的显微镜技术，主要通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。优质原子力显微镜的特点：通常具有低漂移、低噪音、高分辨率和多功能性等特点。同类相关仪器：扫描隧道显微镜。