Park FX40原子力显微镜

Park FX40原子力显微镜可自主成像并获取由其人工智能、机器人和机器学习功能驱动的数据。附加轴相机可自动与激光束和光电探测器对准。充分利用8探头盒的便利性以及磁控机制，可以自动安装探头。新装载的探针芯片载体上印有二维码，可提取并显示每个可用探针头的所有相关信息，包括类型、型号、应用和用途。这使您能够快速为每项工作选择最佳探针头。

科研实验应用：1、材料表面形貌表征：测量金属、陶瓷、聚合物等材料的表面形貌和粗糙度；2、纳米结构表征：观察和分析碳纳米管、纳米粒子、薄膜等纳米级结构；3、生物样品分析：研究细胞、生物膜、DNA等生物样品的微观结构；4、薄膜厚度测量：测量各类薄膜(金属、半导体、绝缘体等)的厚度。

Park FX40原子力显微镜技术参数：

• XY扫描仪结构：单模块、并联运动2D弯曲扫描仪，比串行运动弯曲扫描仪更好的对称性
• XY扫描范围：100µmx100µmZ扫描器
• Z扫描范围：15µm
• 装载样品：磁性吸盘，可安放4个样品载片
• FX多功能嵌入式样品台
• Z位移台行程范围：22mm（机动）
  
• 视野：样品同轴视野，CCD510万像素
• 像素大小：3.45μmx3.45μm
• 原子力显微镜控制器锁相放大器：4通道集成DC-5MHz
• 自动换针：使用自动换针技术可以在不到一分钟时间内更换
• 装载探针：使用芯片载体进行预对准安装
  

Park FX40原子力显微镜使用方法：

• 样品制备：根据所测试的材料类型，采用合适的清洗、切割、沉积等方法制备适合AFM测试的样品。
• 仪器校准：使用标准校准样品对AFM探针、测量环境等进行校准，确保测量结果的准确性。
• 扫描设置：选择合适的扫描模式(接触模式、半接触模式等)、扫描范围、扫描速度等参数。
• 数据采集：进行高分辨率的表面形貌扫描，获取样品的三维拓扑图像。
• 数据分析：利用配套的软件对扫描数据进行分析处理，测量表面粗糙度、颗粒大小等参数。

Park FX40原子力显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院上海微系统与信息技术研究所以原子分辨技术国家重点实验室
• 中国科学院微电子研究所
• 北京大学化学与分子工程学院材料分析实验中心
• 中国科学院材料研究院结构材料重点实验室
• 西安交通大学先进材料国家重点实验室

Park FX40原子力显微镜售后服务支持：

• 保修期内对仪器的正常故障提供免费维修。
• 提供备用零件支持，确保快速修复。
• 配备专业的维修工程师团队，提供上门维修或送修服务。
• 定期进行预防性维护，确保仪器长期稳定运行。
• 对于复杂故障提供深入诊断和问题定位。
• 提供操作培训、应用指导等专业技术支持服务。
• 定期组织用户培训班，传授最新的测试技术和数据分析方法。
• 建立用户论坛和技术支持热线，快速响应用户问题。
• 针对软硬件进行定期升级，提升仪器的性能和功能。
• 根据用户需求提供定制化的改造服务，满足特殊应用需求。
• 提供样品前处理等配套服务，优化整体测试效率。

相关产品：

扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)：与AFM形成互补，能够提供更高分辨率的微观形貌。

X射线衍射仪(XRD)：与AFM联合使用，可以获得材料的晶体结构信息。

拉曼光谱仪：可以提供材料的化学组成和键合状态信息。

接触角测量仪：测量材料的表面润湿性，与AFM表征的表面粗糙度相结合。