WITec alpha300RA原子力显微镜

 

alpha300RA是一款集成式拉曼AFM系统,纳米级综合表面表征(AFM)与化学成像(拉曼)的完美结合,可实现高分辨率纳米级表面表征,测量期间无样品移动,通过物镜转盘的旋转实现测量技术之间的切换,可以轻松实现两种技术的图像对比、叠加和分析,操作简便。

WITec alpha300RA原子力显微镜

科研实验应用:1、材料科学:用于分析材料的表面形貌、粗糙度和纳米结构;2、生物学:观察生物样品(如细胞、蛋白质和DNA)的表面结构;3、纳米技术:分析纳米材料的特性,研究纳米器件的制造和性能;4、半导体与电子工程:用于半导体材料的表面分析和缺陷检测;5、化学与药物研发:研究化学反应的表面过程。

WITec alpha300RA原子力显微镜技术参数:

  • 定位检测噪声:≤0.5nm
  • 样品尺寸:直径小于15mm,厚度小于5mm
  • 样品台移动范围:≤120mm
  • 配有6倍物镜转盘的研究级光学显微镜
  • 摄像系统:目镜彩色摄像机
  • LED白光源,用于尖端和样品的科勒照明
  • 压电驱动扫描台(扫描范围100x100x20µm;其他可选)
  • x、y和z方向的自动电动样品定位器,行程范围为25毫米(行程范围为50毫米可选)
  • 自动共焦拉曼成像(25x25毫米;可选50x50毫米)
  • 自动化大面积共焦拉曼成像(150x100毫米)
  • 超快拉曼成像(每秒1300个光谱)可选
  • 暗场、相衬和DIC可选
  • AFM操作模式:AC模式(轻敲模式)、数字脉冲力模式(DPFM)、升力模式、磁力显微镜(MFM)、电力显微镜(EFM)、相位成像、力距离曲线、横向力显微镜(LFM)、化学力显微镜(CFM)、电流检测模式

WITec alpha300RA原子力显微镜使用方法:

  1. 样品准备:确保样品表面清洁,适合进行原子力显微镜扫描。根据样品性质选择合适的基底。
  2. 仪器启动:打开电源,等待系统自检完成,确保各个部件正常工作。
  3. 样品安装:将样品固定在样品台上,确保样品与探针的接触良好。
  4. 探针选择:根据实验需求选择合适的探针类型(如尖端探针、接触模式探针等)。
  5. 设定扫描参数:在软件中设置扫描模式(如接触模式、非接触模式、轻敲模式)和扫描参数(如扫描范围、分辨率、扫描速度)。
  6. 运行实验:启动扫描程序,仪器将自动进行数据采集,生成表面形貌图像。
  7. 数据分析:使用软件对获得的图像进行分析,提取表面特征(如高度、粗糙度、颗粒分布等)。
  8. 结果整理:整理实验结果,撰写报告,总结分析结果和实验发现。
  9. 仪器维护:定期检查和更换探针,清洁样品台和光学元件,确保仪器性能的稳定性。

WITec alpha300RA原子力显微镜有哪些实验室在用:

  • 中国科学院物理研究所:用于二维材料、纳米结构等样品的表征分析
  • 北京大学工学院:应用于功能性薄膜、纳米器件等材料的表面形貌表征
  • 复旦大学材料科学与工程学院:用于无机非晶材料和有机高分子的纳米结构表征
  • 华中科技大学材料科学与工程学院:应用于先进能源材料、生物医用材料的表面拓扑分析
  • 中南大学材料科学与工程学院:用于金属、陶瓷等无机材料的纳米尺度表面形貌测试

WITec alpha300RA原子力显微镜售后服务支持:

  • 热线服务:提供技术支持热线,用户可以通过电话或电子邮件咨询技术问题,获得迅速的解答。
  • 在线支持:通过WITec网站,用户可以访问知识库、常见问题解答(FAQ)和技术文档。
  • 定期维护:提供定期维护服务,包括仪器的检查、校准和清洁,以确保设备的稳定性和性能。
  • 维护手册:用户将获得详细的维护和操作手册,指导其进行日常保养和故障排查。
  • 用户培训:提供现场或在线培训课程,帮助用户掌握仪器的操作、数据分析和维护技巧。
  • 研讨会和网络培训:定期举办研讨会和网络培训,介绍新功能、应用案例以及最佳实践。
  • 配件供应:提供原厂配件和耗材(如探针、样品台等),确保用户能够方便地进行更换和维护。
  • 快速交付:承诺快速发货,确保用户在需要时能及时获得必要的配件。
  • 保修政策:提供合理的保修期,涵盖主要部件,确保用户在保修期内享受免费的维修服务。
  • 服务合同:提供灵活的服务合同选项,用户可以选择延长保修期或获得更全面的维护和支持服务。

相关产品:

扫描电子显微镜(SEM):用于观察样品的微观结构,结合AFM提供更全面的形貌分析。

傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):分析样品的化学组成,结合AFM提供表面化学信息。

X射线衍射仪(XRD):用于分析样品的晶体结构,结合AFM研究材料的综合特性。

原子层沉积仪(ALD):用于制备纳米薄膜,结合AFM研究薄膜的生长过程和表面特性。

光学显微镜:用于快速观察样品,结合AFM进行更详细的表面分析。

热分析仪(TGA/DSC):研究材料的热性质变化,结合AFM分析材料在不同温度下的形貌变化。

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