TESCAN AMBER场发射扫描电镜

 

TESCAN AMBER场发射扫描电镜0.9nm@15KV1.3nm@1KV分辨率，2x–2000,000x放大倍数。具有独特的TriBE和TriSE光束内检测功能，可用于高级纳米表征。电子束快速设置，飞行中光束追踪保证最佳成像条件，直观的软件模块化平台设计轻松操作。

科研实验应用：1、材料科学：分析金属、合金、陶瓷及复合材料的微观结构；2、纳米科技：研究纳米材料的形态和分布，分析纳米颗粒的尺寸、形状及其在复合材料中的分散情况；3、生物医学：对生物样品如细胞、组织和生物材料进行形态学研究；4、电子器件：对半导体材料和器件的微观结构进行分析。

TESCAN AMBER场发射扫描电镜技术参数：

电子枪

• 分辨率：0.9nm@15KV1.3nm@1KV/li>
• 放大倍数：2x–2000,000x（屏幕放大倍数）
• 加速电压：0.05-30KV
• 探针电流：2pA-400nA

离子枪

• SEM-FIB重合点的统计学分辨率≤2.5nm@30kv
• 离子枪加速电压0.5-30kv
• 离子枪探针电流：1pA-100nA

样品台

• 样品室：宽度340mm x深度315mm
• 样品台：5轴计算机控制优中心全自动马达驱动样品台X=130mm；Y=130mm；Z=90mm；T=-60°-90°；R=360°连续旋转

飞行时间二次离子质谱

• 质谱分辨率>800
• 检出限：优于5ppm
• 可测H,Li等元素
• 可进行同位素和化学官能团的分析
• 可进行元素的三维分布重构

能谱仪（EDS）

• 能谱仪的有效面积不小于60mm2
• 能量分辨率：在100,000CPS条件下MnKa保证优于129eV
• 轻元素分辨率：C-K/57eV,F-K/67eV
• 元素分析范围：Be4～Cf98
• 采用纤细化等技术提高固体角，单个探指直径仅18.2mm，改善系统分析效率

电子背散射衍射附件（EBSD）

• 花样采集速度：945花样/秒@8×8binning630花样/秒4×4binning
• 配合RapidEBSD功能，在线解析标定速度最高10,000花样/秒
• 同轴TKD功能，达到<10nm空间分辨率；可实现EDS谱图采集与EBSD花样采集同步

TESCAN AMBER场发射扫描电镜使用方法：

1. 设备准备：开启设备并进行自检，确保仪器处于正常工作状态。
2. 样品制备：根据样品类型选择合适的制备方法，可能包括镀金、冷冻切割等，以提高导电性和成像质量。
3. 样品装载：将样品安装在样品台上，确保固定牢靠并在真空环境下进行观察。
4. 调整参数：在操作界面上设置加速电压、工作距离和探测器类型，优化成像条件。
5. 成像与分析：启动扫描，实时观察样品表面，捕捉高分辨率图像，进行后续分析。
6. 数据处理：使用配套软件进行图像处理和分析，提取所需信息，如颗粒大小、形貌和成分。
7. 清洁与维护：使用后及时清洁样品室，定期进行仪器维护和校准。

TESCAN AMBER场发射扫描电镜有哪些实验室在用：

• 清华大学材料科学与工程系复合材料研究：观察复合材料中各组分的分布及界面特征，研究其力学性能的影响。
• 北京大学生命科学学院生物样品观察：对细胞和组织切片进行形态学分析，以了解其结构与功能的关系。
• 中国地质大学（武汉）矿物学研究：分析矿石样品的微观结构，研究矿物的成分和形成过程。
• 天津大学化学工程与技术系催化剂研究：分析催化剂的颗粒形态和分布，优化催化剂的性能。
• 北京航空航天大学材料科学与工程学院航空材料分析：对航空用金属和复合材料进行微观结构和成分分析，支持航空航天材料的研发。
• 中国科学院合肥物质科学研究院功能材料研发：研究新型功能材料的微观结构，探索其在能源转换和储存中的应用。

TESCAN AMBER场发射扫描电镜售后服务支持：

• 操作培训：提供用户培训，帮助操作人员掌握仪器的使用方法和维护技巧。
• 应用咨询：为用户提供实验设计和数据分析方面的专业建议。
• 定期维护：建议定期进行设备维护，确保仪器的稳定运行和性能。
• 故障排除：提供故障诊断和排除服务，快速响应用户的技术问题。
• 快速更换部件：提供原厂备件，确保设备在发生故障时能够快速修复。
• 库存管理：支持常用备件的库存管理，减少用户的停机时间。
• 系统更新：定期发布软件更新，提升仪器性能和功能。
• 数据处理软件支持：提供数据分析和处理软件的更新和技术支持。

相关产品：

透射电子显微镜（TEM）：结合TEM进行更高分辨率的内部结构分析，获取样品的晶体结构信息。

能谱仪（EDS）：配合能谱仪进行元素分析，提供样品的化学成分信息。

激光粒度仪：用于颗粒大小分布的分析，与SEM结合，提供材料的全面特性。

光学显微镜：在样品准备阶段进行初步观察，帮助选择合适的样品处理方法。

X射线衍射仪（XRD）：结合XRD分析样品的晶体结构，提供补充的物相信息。