ZEISS蔡司 ORION NanoFab扫描电子显微镜

 

ORION NanoFab扫描电子显微镜能够实现亚10纳米结构的超高精度加工,适用于纳米技术和材料科学领域。显微镜集成了镓、氖和氦离子束,用户可以根据不同的应用需求选择合适的离子束进行加工和分析。0.5纳米图像分辨率,具有纳米图案和可视化引擎,集成的硬件和软件控制系统。

ZEISS蔡司 ORION NanoFab扫描电子显微镜

科研实验应用:1、材料科学:用于研究纳米材料的结构、形貌和组成,分析新材料的物理和化学性质;2、半导体制造:在半导体器件的研发和生产中,进行微观结构分析和缺陷检测;3、纳米技术:适用于纳米结构的观察和分析;4、生物医学:观察生物样品的超微结构,支持生物材料的开发和细胞研究。5、表面科学:研究材料表面的特性和行为,分析表面处理和涂层的效果。

ZEISS蔡司 ORION NanoFab扫描电子显微镜技术参数:

  • 5轴电动平台
  • 基于64位Windows7操作系统的高级工作流程用户界面
  • Powervar Security Plus不间断电源
  • GFIS柱视野:900µm-100nm@8mm
  • 氦离子束分辨率:0.5nm
  • 束能量:10-35kV
  • 束电流:0.1至100pA
  • 氖离子束分辨率:1.9nm
  • 束能量:10-30kV
  • 束电流:0.1至50pA
  • 腔体内部尺寸(长x宽x高):280x280x260mm
  • 80毫米负载锁
  • 可定制检修门
  • 6个视线端口可供选择
  • 样品运输时间:3分钟
  • 样品台电动:5轴同心台
  • 台面跟踪顺序(从下到上):倾斜、y、x、旋转、z载物台行程:x=50毫米、y=50毫米、z=8毫米,旋转:0-360°,倾斜:0-56°
  • 镓FIB选项的重合点位于8毫米氦/氖束工作距离处

ZEISS蔡司 ORION NanoFab扫描电子显微镜使用方法:

  1. 设备准备:确保显微镜放置在稳固的工作台上,并连接好电源和计算机。
  2. 样品准备:根据样品特性进行适当的处理,确保样品表面光滑且干燥,适合进行电子显微镜观察。
  3. 样品放置:将样品固定在样品台上,确保其位置准确,以便于电子束的聚焦。
  4. 设置实验参数:通过控制软件设置加速电压、束流和探测器参数,优化成像条件。
  5. 启动观察:启动显微镜,调整焦距和视场,获取高分辨率图像。
  6. 数据采集与分析:采集图像并使用软件进行后续分析,提取所需的形貌和结构信息。
  7. 清洁与维护:使用后定期清洁样品台和相关部件,保持设备的良好状态。

ZEISS蔡司 ORION NanoFab扫描电子显微镜有哪些实验室在用:

  • 中国科学院物理研究所:该所从事新型材料、纳米技术等方面的基础研究
  • 清华大学材料学院:该学院的先进材料及器件实验室开展纳米材料研究
  • 北京大学前沿交叉学科研究院:该院有专门的纳米技术实验室,进行纳米结构分析
  • 复旦大学微纳电子学国家重点实验室:该实验室从事微电子和纳电子领域的基础与应用研究
  • 上海交通大学材料科学与工程学院:该学院的新型功能材料实验室进行表征分析
  • 浙江大学材料科学与工程学院:该学院的先进材料实验室涉及ORION NanoFab应用
  • 电子科技大学微电子学院:该学院从事微纳电子技术研究,对器件结构进行表征

ZEISS蔡司 ORION NanoFab扫描电子显微镜售后服务支持:

  • 质保期:提供标准的1定年限的整机质保期,在此期间如出现质量问题可免费维修或更换。
  • 维修服务:超过质保期后,仍提供专业的维修服务。用户可与服务团队联系,由经验丰富的工程师进行故障诊断和维修。
  • 备件供应:公司确保ORION NanoFab所有关键备件的长期供应,用户随时可以购买所需零件。
  • 技术支持:设有专门的技术支持热线,用户可随时咨询仪器使用及操作问题,获得专业指导。
  • 培训服务:为新用户提供ORION NanoFab的操作培训,确保用户掌握正确的使用方法。
  • 远程支持:工程师可通过远程连接的方式,协助用户排查和解决设备故障。
  • 升级改造:可为用户提供硬件和软件方面的升级改造服务,以提升仪器性能。
  • 应用支持:拥有丰富的应用经验,可为用户提供操作指导、样品制备等应用层面的支持。

相关产品:

透射电子显微镜 (TEM):用于更高分辨率的材料分析,研究样品的内部结构和晶体特性。

原子力显微镜 (AFM):观察样品的表面形貌,提供纳米级别的表面分析。

X射线衍射仪 (XRD):分析样品的晶体结构,提供补充的晶相信息。

光谱分析仪(如 EDS):结合能谱分析,提供样品的元素组成和化学形态信息。

激光颗粒分析仪:用于分析样品的粒径分布,补充显微镜观察的数据。

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