Thermo Scientific Quattro扫描电子显微镜

 

Thermo Scientific Quattro扫描电子显微镜配备全面的分析和原位功能。场发射枪 (FEG) 可对样品进行高分辨率成像，多种探测器，可用的探测器选项包括标准Everhart Thornley探测器 (ETD) 和用于二次电子成像的低真空探测器等， 可在各种加速电压（200V –30kV）和电流（1pA – 200nA）下运行。在STEM模式下运行时，最大二次电子成像分辨率为3.0nm（1kV）或0.8nm（30 kV）。可实现低真空成像，最高可达4000Pa（30 Torr）。

科研实验应用：金属和合金、断裂、焊缝、抛光切片、磁性和超导电材料、陶瓷、复合材料、塑料、薄膜/涂层、地质切片、矿物；软材料：聚合物、药品、滤片、凝胶、组织、植物材料、颗粒、多孔材料、纤维。结晶/相变、氧化、催化、材料生长、水合/脱水/润湿/接触角分析、拉伸（带加热或冷却）。

Thermo Scientific Quattro扫描电子显微镜参数：

分辨率	高真空模式 0.8nm@30kV（STEM） 1.0nm@30kV（SE） 3.0nm@1kV（SE） 低真空和环扫模式 1.3nm@30kV（SE）
标准检测器	ETD、低真空SED(LVD)、ESEMSED(GSED)、红外CCD
可选检测器	Nav-Cam+、DBS、DBS-GAD、ESEM-GAD、ICD、STEM3+、WetSTEM、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC等
ChemiSEM技术（可选）	可基于能量色散X射线光谱(EDS)进行实时定量元素面分布。包含点分析、线扫描、面分布及元素定量。
样品台减速（可选）	-4000V至+50V
低真空模式	高达2600Pa(H2O)或4000Pa(N2)
样品台	5轴马达优中心样品台，110x110mm2，105°倾斜范围。最大样品重量：未倾斜位置，5kg。
标准样品支架	标准多样品SEM支架可单独直接安装在载物台上，可容纳多达18个标准样品托(⌀12mm)，无需工具即可安装样品
样品仓	340mm内宽，12个接口，最多可接三个EDS检测器（两个呈180°对称），并具有与共面EDS共面的EBSD接口。
原位配件（可选）	软件控制的-20°C至+60°CPeltier冷台 软件控制的1,000°C低真空/ESEM热台 软件控制的1,100°C高真空热台 软件控制的1,400°C低真空/ESEM热台 集成气体注入系统：用于下列材料的电子束诱导沉积，最多支持2种气体（其他配件可能限制可用的注气系统(GIS)数量）： 铂 钨 碳 纳米机械手 液氮致冷台 电子探针/多探针台
软件选项	ThermoScientificMaps软件可进行大面积图像自动采集和拼接，并可与其它设备联用 ThermoScientificAutoScript4软件；基于Python的应用程序编程界面 图形发生软件 TopoMaps软件用于图像着色及分析和3D表面重建

Thermo Scientific Quattro扫描电子显微镜使用方法：

1. 确保仪器连接正常，打开电源，进行自检。
2. 准备好待测样品，确保样品表面平整、干净，并根据需求进行涂层处理（如金属喷涂）。
3. 将样品固定在样品台上，确保稳固，避免震动影响。
4. 启动真空泵，待内腔形成必要的真空环境。
5. 调整电子束参数（如加速电压、束流等），选择合适的成像模式（如二次电子、背散射电子等）。
6. 使用操作界面进行实时观察，调整焦距和对比度，获取所需图像。
7. 保存显微图像，并根据需要进行定量分析。
8. 完成实验后，逐步关闭真空系统，清理样品台，定期进行维护和校准。

Thermo Scientific Quattro扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院上海有机化学研究所分析部
• 北京大学物理科学与材料专业学院
• 武汉大学材料科学与工程学院
• 中国科学技术大学材料科学与工程学院
• 武汉理工大学应用化学与材料工程学院

Thermo Scientific Quattro扫描电子显微镜售后服务支持：

• 保修与维护：提供一定期限的保修服务，包括材料和工艺缺陷。
• 技术支持：在线和电话支持，解答使用中遇到的技术问题。
• 现场服务：提供定期的现场维护和维修服务，确保仪器运行稳定。
• 用户培训：定期举办培训课程，帮助用户掌握仪器操作和应用技巧。
• 软件更新：提供定期更新，保持软件的最新功能和性能。
• 备品与耗材供应：确保关键零部件和耗材供应，减少停机时间。
• 客户反馈：收集用户反馈，持续改善产品与服务质量。

相关产品：

能量色散X射线光谱仪 (EDS)：结合使用，进行元素成分分析。

原子力显微镜 (AFM)：用于表面形貌分析和纳米尺度测量。

气相色谱仪 (GC) 或液相色谱仪 (HPLC)：进行样品的化学成分分离与分析。

X射线衍射仪 (XRD)：补充矿物相分析，确定样品的结晶结构。

样品前处理设备：如冷冻切割机、研磨机，用于样品的制备。