CIQTEK国仪量子 SEM4000X场发射扫描电镜

 

SEM4000X场发射扫描电镜0.6nm@15kv和1.0nm@1kv的超高分辨率,支持4寸晶圆的快速换样仓,适合各种类型样品的高分辨拍样。可升级超级减速模式,进一步提升低压下的分辨率,增强成像能力。配备长寿命的肖特基场发射电子枪,提供稳定的电子束。

CIQTEK国仪量子 SEM4000X场发射扫描电镜

科研实验应用:1、材料科学:用于材料的微观结构分析,研究材料的成分和形貌;2、纳米技术:在纳米材料的表征和分析中发挥重要作用;3、生物医学:用于生物样品的观察,研究细胞和组织的微观结构;4、半导体行业:分析半导体材料的缺陷和微结构;5、化学研究:用于催化剂和化学反应产物的表征。

CIQTEK国仪量子 SEM4000X场发射扫描电镜技术参数:

关键参数 分辨率 0.9nm@30kV,SE
1.2nm@15kV,SE
1.9nm@1kV,SE
1.5nm@1kV(超级减速)
1.0nm@15kV(超级减速)
加速电压 200V~30kV
放大倍率 1~1,000,000×
电子枪类型 肖特基场发射电子枪
样品室 低真空模式 /
摄像头 双摄像头(光学导航+样品仓内监控)
XY行程 110mm
Z行程 65mm
T行程 -10°~+70°
R行程 360°
探测器 镜筒内电子探测器 UD-BSE/UD-SE
仓室内电子探测器 LD
插入式背散射电子探测器(BSED)
插入式扫描透射电子探测器(STEM)
低真空二次电子探测器(LVD)
能谱仪(EDS)
背散射衍射(EBSD)
扩展 样品交换仓(4寸/8寸)
旋钮板&轨迹球
双减速技术(Duo-Dec) /
超级减速技术
软件 操作软件 Windows操作系统,中文SEM软件
导航 光学导航、手势快捷导航、轨迹球(选配)
自动功能 自动亮度对比度、自动
●标配 ○选配 /无

CIQTEK国仪量子 SEM4000X场发射扫描电镜使用方法:

  1. 样品准备:将待观察的样品进行适当处理,确保其适合电子显微镜观察。
  2. 设备开机:启动SEM4000X,进行自检和预热。
  3. 样品安装:将样品固定在样品台上,确保其稳定。
  4. 设置参数:根据样品类型设置加速电压和束流等参数。
  5. 成像观察:启动电子束,观察样品表面,调整焦距和对比度以获得清晰图像。
  6. 数据记录:保存观察到的图像和数据,进行后续分析。

CIQTEK国仪量子 SEM4000X场发射扫描电镜哪些实验室在用:

  • 中国科学技术大学:用于材料科学研究,分析新型合金材料。
  • 清华大学:在纳米技术研究中应用,观察纳米颗粒的形貌。
  • 北京大学:用于生物医学研究,分析细胞结构。
  • 复旦大学:在半导体材料研究中应用,检测材料缺陷。
  • 上海交通大学:用于化学催化剂的表征。
  • 浙江大学:在环境科学研究中分析污染物的微观结构。

CIQTEK国仪量子 SEM4000X场发射扫描电镜售后服务支持:

  • 在线支持:提供在线技术支持,用户可以通过电子邮件或官方网站提交问题。
  • 电话支持:专业技术团队可通过电话为用户提供实时帮助。
  • 保修期限:提供一定期限的保修服务,具体视购买协议而定。
  • 现场维修:提供现场维修服务,确保设备快速恢复正常运行。
  • 运输维修:若设备不能现场修复,可以安排运输至服务中心进行维修。
  • 维护计划:提供定期维护服务,以确保设备的最佳性能和准确度。
  • 校准服务:定期校准设备,确保测量结果的可靠性。
  • 用户培训:提供设备操作培训,确保用户能够熟练使用仪器。
  • 应用培训:针对特定应用提供培训,以帮助用户发挥设备的最大潜力。

相关产品:

X射线衍射仪:用于材料的晶体结构分析。

透射电子显微镜(TEM):用于更高分辨率的样品观察。

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能谱仪(EDS):用于样品成分分析。

扫描探针显微镜(SPM):用于纳米尺度的表面分析。

激光粒度仪:用于颗粒尺寸分布的测量。

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