CIQTEK国仪量子 SEM4000Pro场发射扫描电镜

 

SEM4000Pro场发射扫描电镜配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪，提供优异的成像质量。三级磁透镜设计，束流最大可达200nA，在30kV下，分辨率优于0.9nm，适合纳米级材料的观察。标配低真空模式，能够观察导电性弱或不导电样品，适应性强。

科研实验应用：1、半导体制造：用于缺陷分析和材料表征；2、纳米材料研究：观察纳米结构的形貌和成分；3、材料科学：分析材料的微观结构和性能；4、生命科学：用于细胞和组织的超微结构观察；5、地球科学：研究矿物和岩石的微观特征。

CIQTEK国仪量子 SEM4000Pro场发射扫描电镜技术参数：

关键参数	分辨率	0.9nm@30kV，SE
		2.0nm@30kV，BSE
		1.5nm@30kV,SE,30Pa
	加速电压	200V~30kV（35kV可选）
	放大倍率	1~1,000,000x
	电子枪类型	肖特基场发射电子枪
样品室	低真空模式	最大180Pa
	摄像头	双摄像头
		（光学导航+样品仓内监控）
	行程	X=110mm，Y=110mm，Z=65mm
		T:-10°~+70°，R:360°
探测器和扩展	标配	仓室内电子探测器（ETD）
		低真空二次电子探测器（LVD）
		插入式背散射电子探测器
	选配	能谱仪（EDS）
		背散射衍射（EBSD）
		插入式扫描透射探测器（STEM）
		样品交换仓（4寸/8寸）
		轨迹球&旋钮板
软件	语言	中文SEM软件
	操作系统	Windows
	导航	光学导航、手势快捷导航、轨迹球（选配）
	自动功能	自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散
	可选软件	自动矿物分析软件、大图拼接软件

CIQTEK国仪量子 SEM4000Pro场发射扫描电镜使用方法：

1. 样品准备：将待测样品制备成适合观察的形态，通常需要进行镀金或镀碳处理。
2. 仪器设置：打开电镜，设置加速电压、束流和成像模式。
3. 样品放置：将样品放置在样品台上，确保其固定并对准电子束。
4. 成像：启动电子束，观察样品表面，调整焦距和对比度以获得清晰图像。
5. 数据采集：使用EDS或EBSD等功能进行元素分析或晶体结构分析，记录数据。
6. 数据处理：使用相关软件分析成像和谱图数据，生成实验报告。

CIQTEK国仪量子 SEM4000Pro场发射扫描电镜哪些实验室在用：

• 中国科学技术大学：用于材料科学和纳米技术研究。
• 复旦大学：应用于生命科学领域的细胞观察。
• 清华大学：在半导体材料研究中进行缺陷分析。
• 浙江大学：用于新能源材料的微观结构研究。
• 南开大学：在地球科学研究中观察矿物特征。
• 华中科技大学：用于材料性能的微观分析。

CIQTEK国仪量子 SEM4000Pro场发射扫描电镜售后服务支持：

• 保修期：设备通常提供一定期限的保修期，涵盖制造缺陷和材料问题。
• 备件供应：确保常用备件的及时供应，减少设备停机时间。
• 软件更新：定期提供软件升级服务，添加新功能和修复已知问题。
• 硬件升级：可根据需求提供硬件升级服务，提升设备性能。
• 问题响应：针对客户反馈的问题，提供快速响应和解决方案。
• 保修范围：在保修期内，涵盖设备的材料和工艺缺陷。
• 在线资源：提供用户手册、操作指南和常见问题解答（FAQ）的在线访问。
• 满意度调查：定期进行客户满意度调查，收集反馈以改进服务质量。

相关产品：

能量色散谱（EDS）：用于元素成分分析，提供样品的化学组成信息。

电子背散射衍射（EBSD）：用于晶体结构分析，提供材料的晶体取向和相信息。

波长色散谱（WDS）：用于高分辨率的元素分析，适合复杂样品的成分分析。

高效液相色谱仪（HPLC）：用于样品的化学成分分离和分析，常与电镜结合使用。

原子力显微镜（AFM）：用于表面形貌的高分辨率观察，补充电镜的观察结果。

激光粒度仪：用于粒子大小分布的测量，常用于材料的前期分析。