CIQTEK国仪量子 SEM5000Pro场发射扫描电子显微镜

 

SEM5000Pro场发射扫描电子显微镜二次电子图像分辨率可达0.8nm@15kV，放大倍数范围从1倍到2,500,000倍，采用高压隧道技术（SuperTunnel）和低像差无漏磁物镜设计，确保在低电压下实现高分辨率成像。配备五轴全自动样品台，支持样品的精确定位和多角度观察。

科研实验应用：1、材料科学：用于观察和分析金属、陶瓷、聚合物等材料的微观结构；2、半导体制造：在高端芯片的研发和制造中，提供精确的微观结构分析；3、生物医学：用于生物样品的微观结构观察，帮助研究细胞和组织的形态；4、纳米技术：在纳米材料的研究中，观察其形态和分布特征。

CIQTEK国仪量子 SEM5000Pro场发射扫描电子显微镜技术参数：

关键参数	分辨率	0.8nm@15kV，SE；1.2nm@1.0kV，SE；0.7nm 35kVSTEM
	加速电压	20V～30kV（可升级35kV）
	放大倍率	1～2,500,000x
	电子枪类型	肖特基场发射电子枪
样品室	摄像头	双摄像头 （光学导航+样品仓内监控）
	样品台行程	X：110mm，Y：110mm，Z：65mm， T：-10°～+70°,R：360°
探测器和扩展	标配	镜筒内电子探测器：Inlens 仓室内电子探测器：ETD
	选配	插入式背散射电子探测器（BSED） 插入式扫描透射探测器(STEM) 低真空二次电子探测器（LVD） 能谱仪（EDS） 背散射衍射（EBSD） 样品交换仓（4寸/8寸） 轨迹球&旋钮板
软件	语言	中文SEM软件
	操作系统	Windows
	导航	光学导航、手势快捷导航、轨迹球（选配）
	自动功能	自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

CIQTEK国仪量子 SEM5000Pro场发射扫描电子显微镜使用方法：

1. 准备工作：确保设备清洁，检查所有连接和电源。
2. 样品准备：将待观察样品固定在样品台上，确保样品表面平整。
3. 设置参数：在控制界面上设置加速电压、放大倍数和其他观察参数。
4. 启动设备：开启扫描电子显微镜，开始进行样品观察。
5. 数据记录：实时记录观察到的图像和数据，便于后续分析。
6. 结束实验：完成观察后，关闭设备，清理样品台和设备。

CIQTEK国仪量子 SEM5000Pro场发射扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院上海光学精密机械研究所：用于材料微观结构分析。
• 中国科学技术大学理化科学实验中心：用于半导体材料的研究。
• 复旦大学材料科学系：用于陶瓷材料的显微观察。
• 清华大学生物医学工程系：用于生物样品的微观结构研究。
• 浙江大学环境科学与工程学院：用于环境样品的污染物分析。
• 南开大学纺织科学与工程学院：用于纺织材料的微观结构分析。

CIQTEK国仪量子 SEM5000Pro场发射扫描电子显微镜售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

X射线能谱仪：用于快速分析材料的元素组成。

激光粒度仪：用于测量样品的粒径分布。

原子力显微镜（AFM）：用于观察样品的表面形貌。

电子探针显微分析仪（EPMA）：用于定量分析样品的化学成分。

高分辨透射电子显微镜（HRTEM）：用于观察材料的晶体结构。

样品制备机：用于样品的切割、抛光和镀膜等前处理。