Bruker ContourGT-K1三维光学表面轮廓仪

 

ContourGT-K1三维光学表面轮廓仪垂直分辨率高，能够在0.5到200倍的放大倍率下进行亚埃级至毫米级的垂直测量，灵活的样品安装，适用于各种形状和尺寸的样品，满足不同实验需求。白光干涉仪（WLI）技术，能够实现高精度的几何长度和折射率测量。提供多种可选功能，如自动样品台、高速聚焦、缝合功能和XY自动移动功能，灵活性强。

科研实验应用：1、材料科学：评估材料表面的微观结构和形貌，研究材料的物理和化学性质；2、半导体行业：精确测量半导体材料和器件的表面轮廓，监测制造过程中的表面缺陷；3、光学元件：测量光学元件的表面光滑度和形状，确保光学性能符合设计要求；4、生物材料：研究生物材料表面的粗糙度和结构，评估其在生物相容性和细胞附着性方面的表现。

Bruker ContourGT-K1三维光学表面轮廓仪技术参数：

• XY样品台：150mm（6in）手动样品，样品台±6°倾斜调整
• Z方向聚焦：计算机自动控制聚焦
• 光学组件模块：新一代双LED照明电源；自动视场目镜转台；自动滤波片切换
• 物镜：可共焦物镜：2.5X，5X，10X，20X，50X；100X
• 长焦物镜：1X，1.5X，2X，5X，10X
• 物镜搭台： 单物镜适配器或四位置自动塔台
• 处理器：多核，Windows® 7.0
• 系统软件：Vision64 操作和分析软件
• 可选分析软件：MATLAB®, SureVision, TCP/IP Control, ThickFilm, Annular, Optical
• 其他自动化：标准自动光强设定；标准摄像头自动聚焦
• 校准：手动，使用可追溯标准样品

Bruker ContourGT-K1三维光学表面轮廓仪使用方法：

1. 设备准备：确保仪器处于正常工作状态，检查光源和探头的设置。
2. 样品准备：根据实验需求准备样品，确保样品表面干净且适合进行光学测量。
3. 样品固定：将样品固定在测量平台上，确保其稳定性和正确位置。
4. 设置测量参数：根据样品特性和测量需求，设定测量范围、分辨率和扫描速度。
5. 开始测量：启动测量程序，实时监测数据采集过程，观察样品表面的三维轮廓。
6. 数据分析：利用仪器自带的软件分析测量数据，评估表面的粗糙度、形貌特征及其他相关参数。
7. 生成报告：生成详细的测量报告，包含三维轮廓图、粗糙度参数及分析结果。

Bruker ContourGT-K1三维光学表面轮廓仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院物理研究所：应用于新型功能薄膜、微纳结构表面形貌表征
• 清华大学材料学院：用于先进陶瓷、金属合金表面微纳米形貌分析
• 浙江大学材料科学与工程学院：应用于柔性电子、MEMS器件表面拓扑测量
• 南京工业大学材料科学与工程学院：用于3D打印制品、生物医用材料表面形貌表征
• 华中科技大学材料科学与工程学院：应用于半导体薄膜、碳纳米管阵列表面拓扑分析

Bruker ContourGT-K1三维光学表面轮廓仪售后服务支持：

• Bruker为ContourGT-K1提供一定期限的标准质保服务。
• 质保期内，如果出现任何因制造或材料缺陷导致的故障，Bruker将免费维修或更换相关部件。
• 拥有专业的维修团队，能够在48小时内到达现场进行故障排查和维修。
• 对于紧急情况，Bruker承诺在24小时内派遣维修人员到达客户现场。
• 建有完备的备品备件库存，能确保客户及时获得所需的配件。
• 对于一些关键易损件，Bruker建议用户适当备有备用品。
• 设有7*24小时的技术咨询热线，提供专业的应用指导和问题解决。
• 技术支持团队由富有经验的工程师组成，能够快速高效地回答用户提出的各种问题。

相关产品：

扫描电子显微镜（SEM）：结合SEM进行更高分辨率的表面形貌观察，补充光学测量结果。

原子力显微镜（AFM）：用于高精度的表面粗糙度测量，提供更详细的微观结构信息。

光谱仪：用于分析样品的光学特性，结合表面轮廓分析进行综合评估。

材料测试机：在进行表面分析的同时，进行材料的力学性能测试，研究其相关性。

数据处理软件：用于进一步分析和可视化测量数据，生成图表和分析报告。