JEOL JXA-8530FPlus电子探针显微分析仪

 

JXA-8530FPlus电子探针显微分析仪In-Lens肖特基场发射电子枪与新软件相结合，在保持高稳定性的同时提供了更高的吞吐量，30mm2硅漂移探测器 (SDD)。配备高度可扩展的标本室和标本交换室，强大、洁净的真空系统，包括两台磁悬浮涡轮分子泵。此外，还为电子光柱提供了两级中间室，通过差动抽气保持电子枪腔内高真空。

科研实验应用：1、材料分析：对金属、陶瓷、聚合物等材料进行元素定量分析和成分表征；2、矿物学：研究矿物的成分和结构，进行矿石和土壤样本的分析；3、半导体行业：分析半导体材料的成分和缺陷；4、生物材料：研究生物材料的微观结构和组成；5、故障分析：通过分析材料失效的微观原因，帮助改善材料设计和使用。

JEOL JXA-8530FPlus电子探针显微分析仪技术参数：

元素分析范围	WDS：(Be)B到U，EDS：B到U
X射线光谱范围	WDS光谱范围：0.087至9.3nm EDS能量范围：20keV
X射线光谱仪数量	WDS：1至5可选，EDS：1
最大样品尺寸	100毫米×100毫米×50毫米（高）
加速电压	1至30kV（0.1kV步进）
探针电流稳定性	±0.3%/小时
二次电子图像分辨率	3纳米，工作距离11毫米，30千伏
	10kV、10nA、WD11mm时为20nm 10kV、100nA、WD11mm时为50nm
放大	ｘ40至ｘ300,000(工作距离11mm)
扫描图像像素分辨率	最高5,120ｘ3,840

JEOL JXA-8530FPlus电子探针显微分析仪使用方法：

1. 样品准备：确保样品表面光滑、干净，以获得最佳的分析结果。
2. 设备设置：打开仪器，设置电子束的工作电压和束流，选择适当的探测模式。
3. 样品装载：将样品固定在样品台上，确保其在光路中的位置正确。
4. 图像获取：启动扫描，获取样品的二次电子图像和背散射电子图像。
5. 元素分析：使用能量色散X射线光谱（EDS）进行元素定量分析，记录光谱数据。
6. 结果处理：使用配套软件分析图像和光谱数据，生成分析报告。
7. 清理与维护：分析结束后，清洁样品台和探头，定期进行设备维护。

JEOL JXA-8530FPlus电子探针显微分析仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院地球化学研究所现代分析技术中心：主要为岩石、矿物、土壤等地球化学样品提供微区元素分析和成像服务。
• 武汉大学地球科学学院先进分析测试中心：为岩石圈过程、矿产资源等地学领域的研究项目提供微区元素表征。
• 中国地质大学(武汉)地球科学与资源学院有分析测试中心：为地质学、矿产学、环境地质学等领域的微区元素分析提供支持。
• 浙江大学材料科学与工程学院分析测试中心：为金属材料、功能陶瓷、复合材料等领域的微区成分分析提供服务。
• 中国科学院上海硅酸盐研究所分析测试中心：为先进陶瓷、玻璃、纳米材料等领域的微区成分分析和表征提供支持。

JEOL JXA-8530FPlus电子探针显微分析仪售后使用注意事项：

• 确保样品表面光滑且干净，避免灰尘和污染物影响分析结果。
• 样品应固定牢固，防止在分析过程中移动。
• 在开机前检查所有连接，确保电源和气体供应正常。
• 操作时应遵循仪器用户手册中的步骤，避免操作不当导致设备损坏。
• 根据样品类型和分析需求合理设置电子束电压和束流。
• 不要超过仪器的额定工作范围，以防损坏探头或其他组件。
• 在进行元素分析时，确保记录完整的实验参数和结果。
• 使用配套软件导出数据，保留原始数据以便后续分析。
• 定期清洁样品台和探头，确保没有残留物。
• 定期检查和更换耗材，如探针和窗口。
• 若设备出现异常，立即停止操作并记录故障现象。
• 联系售后服务团队进行故障排查，避免自行修理造成更大损失。

相关产品：

扫描电子显微镜 (SEM)：结合使用以获取更全面的样品形貌和微观结构信息。

透射电子显微镜 (TEM)：进行更高分辨率的微观结构分析。

X射线衍射仪 (XRD)：结合使用以分析材料的晶体结构和相组成。

傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR)：分析材料的化学组成，提供补充的化学结构信息。

激光粒度仪：用于分析颗粒的大小分布，结合使用以全面了解材料特性。

质谱仪 (MS)：用于分析样品中的分子成分，提供定性和定量信息。