JEOL JSM-IT500HR扫描电子显微镜

 

JEOL JSM-IT500HR扫描电子显微镜高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。基于64位Windows10操作系统，可靠、极其简单和直观。

科研实验应用：1、材料科学（于研究材料的微观结构、晶体形貌和相互作用等）；2、纳米科学与纳米技术（观察和表征纳米材料和纳米结构）；3、生物医学研究（观察细胞、组织和生物材料的微观形态和结构）；4、环境科学（分析和观察环境样品中的微观颗粒、纤维和微生物等）5、半导体工业（半导体器件的表征、故障分析和质量控制等）。

JEOL JSM-IT500HR扫描电子显微镜参数：

• 电子枪：肖特基场发射枪，LaB6阴极
• 加速电压：0.5-30kV
• 真空系统：涡轮分子泵（TMP）和双回转泵（RP）
• 高真空模式：1.5nm（加速电压30kV，WD5mm，二次电子图像）4.0nm（加速电压1kV，WD5mm，二次电子图像）
• 分析性能：3.0nm（加速电压15kV，工作距离10mm，探针电流1nA，二次电子图像）
• 低真空模式：1.8nm（加速电压15kV，WD5mm，样品室压力10Pa背散射电子图像）
• 照片放大倍数：x5-x600,000
• 探头电流：30kV时1pA-20nA
• 样品室压力控制范围：10-150Pa
• 物镜孔径：4级可切换（20μmφ、40μmφ、60μmφ、100μmφ）
• 探测器：二次电子探测器（ET探测器）和背散射电子探测器（半导体探测器）
• 样品移动：5个轴（X、Y、Z、R、T），由CPU驱动和控制
• 试件移动范围：X方向：125毫米，Y方向：100毫米，Z方向：同心平面移动范围WD5-80毫米（聚焦范围WD4-48毫米）
• 倾斜：-10°-90°，倾斜限制取决于样品尺寸
• 旋转：360°无限旋转
• 最大样本尺寸：8英寸=203.2mmΦ可安装；7英寸=177.8mmΦ整个区域可观察（使用R轴旋转）
• 最大试件承载能力：2公斤（超过1公斤的试件不可倾斜）
• 内置能量色散X射线光谱仪(EDS)可使用干式SD（硅漂移）检测器进行快速且高精度的分析。

JEOL JSM-IT500HR扫描电子显微镜使用方法：

• 样品准备：样品需要进行适当的预处理和固定，以便在显微镜中观察。
• 调节参数：根据样品特性和观察要求，设置加速电压、探测器类型、探测器信号等参数。
• 放置样品：将样品放置在样品台上，并确保样品与电子束之间的距离适当。
• 观察和图像获取：通过控制软件进行显微镜的操作，观察样品表面，并获取高质量的图像。
• 数据分析：对获得的图像进行分析、测量和处理，以提取所需的信息。

JEOL JSM-IT500HR扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学技术大学材料科学与工程学部实验中心
• 北京科技大学材料科学与工程学院实验中心
• 武汉理工大学材料科学与工程学院实验中心
• 华中科技大学材料科学与工程学院实验室
• 同济大学材料科学与工程学院实验中心

JEOL JSM-IT500HR扫描电子显微镜售后服务支持：

• 免费安装及技术培训，便于用户正确使用显微镜。
• 免费仪器保养，6个月一次。
• 保内经确认质量问题非人为问题，免费更换。
• 报修承诺，24小时内到达现场并开始维修。

相关产品：

能谱仪：样品的元素分析和成分表征。

样品制备设备：如切片机、离心机等，样品制备和前处理。

原位观察设备：如加热台、冷冻台等，在SEM下对样品进行原位观察和操作。

电子束曝光设备。