HITACHI SU8600场发射扫描电子显微镜

 

HITACHI的高亮度冷场发射源即使在超低电压下也能提供超高分辨率图像。配备了电子光学自动对准功能，可以稳定地设置光学条件。信号可以同时显示或存储在多达6个通道上。除了SEM图像外，还可以显示相机导航图像和标本室相机图像。高清图像捕捉选项允许保存大图像，最大尺寸可达40,960×30,720像素。支持大量数据的获取。

科研实验应用：广泛应用于各种科研和应用领域。如材料科学实验室、纳米技术研究实验室、生物科学实验室、半导体研发实验室。用于纳米材料、金属合金、陶瓷材料、细胞组织、细菌、昆虫、集成电路、晶体管、如薄膜、涂层表征和分析功能。

HITACHI SU8600场发射扫描电子显微镜规格参数：

• 二次电子分辨率：0.8nm@15kV；0.9nm@1kV
• 放大倍率：20-2000.000x
• 电子枪：肖特基场发射电子源
• 加速电压：0.1-30kV
• 着陆电压：0.01-7kV
• 最大束流：200nA
• 样品室样品尺寸：最大150mmx4
• 真空范围：5～300Pa
• 标配探测箭：上探测器(UD)，下探测器(LD)
• 选配探测器3：镜筒内背散射电子探测器(MD)、半导体式背散射电子探测器(PD-BSE)、高灵敏低真空探测器(UVD)、扫描透射探测器(STEM)
• 选配附件*2：X射线能谱仪(EDS)、电子背散射衍射探测器(EBSD)

HITACHI SU8600场发射扫描电子显微镜使用方法步骤：

1. 准备样品：准备您要观察和分析的样品，根据需要进行必要的样品制备步骤。
2. 启动仪器：打开仪器，并进行必要的预热和真空抽取过程，以确保仪器处于适当的操作状态。
3. 样品加载：将样品安装在样品台上，并根据需要调整样品的位置和角度。
4. 参数设置：根据您的研究目的和样品特性，设置加速电压、探针电流、成像模式等参数。
5. 观察和成像：使用适当的操作模式和参数，对样品进行观察和成像。调整聚焦、亮度和对比度等参数以获得清晰的图像。
6. 数据分析：根据所获得的图像和数据，进行样品的表征和分析，如粒径测量、形貌分析、元素分布等。

HITACHI SU8600场发射扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 北京大学化学与分子工程学院分析实验中心
• 南京化工职业技术学院无机化学实验中心
• 华中科技大学分析测试中心
• 浙江大学化学化工学院分析实验中心
• 西安交通大学先进材料研究院

HITACHI SU8600场发射扫描电子显微镜售后服务：

• 技术支持：您可以通过电话、电子邮件或在线支持渠道与Hitachi的技术支持团队联系，获取有关仪器操作、故障排除和应用问题的指导和支持。
• 维修服务：如果设备需要维修或更换零部件，Hitachi的售后团队可以提供维修服务。您可以与他们联系，并根据需要将设备送往指定的维修中心。
• 培训和培训材料：以帮助用户熟悉仪器的操作和应用。
• 售后保修：Hitachi的SU8600 FE-SEM通常附带一定的保修期限。在保修期内，如果设备出现制造缺陷或故障，Hitachi将提供免费的维修和支持服务。

相关产品：

能谱分析系统（EDS）：进行元素分析和成分定量分析，以获得样品的化学信息。

电子背散射衍射仪（EBSD）：研究晶体结构、晶体取向和晶界分析。

离子束刻蚀系统（FIB）：样品制备、纳米加工和断面分析。

原子力显微镜（AFM）。