Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统

 

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统配置为纯热ALD,独立基板加热台,最高工作温度可达 500°C。其独特的工艺室设计可促进均匀的前体分散和输送。独特的垂直流设计反应器,最多13个前体源,两个独立的室入口用于前体输送,独立的基板加热器阶段,304L不锈钢工艺室结构。

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统

科研实验应用:1、半导体制造:制备高质量的绝缘层、导电层和掺杂层;2、纳米材料研究:精确控制纳米薄膜的厚度,适用于纳米器件的开发;3、催化剂开发:在催化剂表面沉积薄膜,以提高催化活性和选择性;3、光电材料:用于制备光电材料的薄层,以改善其光电性能;4、传感器应用:在传感器器件中沉积功能薄膜,提高灵敏度和选择性;5、薄膜太阳能电池。

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统技术参数:

前体

  • 最多13个前体源,配备两个独立的腔室入口
  • 有多种前体输送选项可供选择,包括蒸汽吸入、流通和脉冲气体输送
  • 曝光模式包括动态、静态和可变驻留模式
  • 臭氧源

典型工艺

  • Al2O3、TiO2、SiO2、Ta2O5、HfO2、ZrO2、HZO、ZnO、AZO、AlN、TiN、GaN、Pt 和 Ru

基板转移

  • 手动加载
  • 手套箱

系统加热

  • 独立基板加热台,最高工作温度可达 500°C
  • 工艺室和前体输送管线加热至 250°C
  • 前驱体加热至200°C
  • 输送管线加热至 250°C
  • 高达200°C的阀门加热

软件和控制

  • KJLC eKLipse系统控制软件(基于 LabView)
  • 实时控制器
  • 真正精密的 ALD 阀门定时

系统控制

  • 基板尺寸和类型:最大150mm单晶圆,100mmX100mm太阳能硅晶圆
  • 粉末和颗粒:多孔且高纵横比(高达1:2500)
  • 基板转移手动开放式:手套箱(单个或多个工具配置)
  • 工艺模块尺寸宽x深x高(大约):862mmX1002.7mmX1063mm
  • 所需电源(基于选项):208-240VAC,50-60Hz,单相,3线
  • 工艺泵:>14CFM化学系列推荐

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统使用方法:

  1. 设备准备:确保ALD-150LE系统处于正常工作状态,连接电源和气体源。
  2. 样品准备:将待处理样品固定在反应腔内,确保样品表面清洁。
  3. 设置参数:根据实验需求设置温度、压力、气体流量和沉积时间。
  4. 气体选择:选择合适的前驱体气体和辅助气体(如惰性气体),并进行系统预热。
  5. 开始沉积:启动沉积过程,系统将自动进行气体脉冲和真空抽取。
  6. 监测过程:实时监控沉积过程中的压力和温度变化,确保实验条件稳定。
  7. 数据记录与分析:完成沉积后,记录实验参数,使用相关软件进行数据分析。

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统有哪些实验室在用:

  • 浙江大学材料科学与工程学院:半导体薄膜材料的原子级沉积与表征
  • 华中科技大学材料科学与工程学院:先进微电子器件结构的制备与性能研究
  • 中国科学院长春应用化学研究所:高介电常数、宽禁带半导体材料的开发
  • 中国科学院电工研究所:功能性纳米薄膜在光电子、能源等领域的应用
  • 中国科学院武汉物理与数学研究所:新型二维材料及其异质结构的制备与表征

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统售后服务支持:

  • 专业安装调试:由公司认证的工程师负责现场安装和调试,确保设备能快速投入使用并达到最佳性能。
  • 技术培训支持:提供系统操作、维护保养等方面的专业培训,帮助用户快速掌握设备的各项功能。
  • 全天候技术支持:建立7x24小时的技术咨询热线,及时解答用户在使用过程中遇到的问题。
  • 快速维修服务:拥有经验丰富的维修工程师团队,提供快速响应和现场维修服务。
  • 备件及时供应;备有常用备件库存,能及时满足更换需求,确保设备长期稳定运行。
  • 免费软件升级:定期推出软件版本更新和功能优化,帮助用户获得最新的技术支持。
  • 延长质保政策:标配1年质保,可根据需求提供延长服务,保修期内免费提供维修和配件更换。

相关产品:

扫描电子显微镜 (SEM):用于观察沉积薄膜的表面形貌和微观结构。

原子力显微镜 (AFM):进行薄膜表面粗糙度和形貌的高分辨率分析。

X射线衍射仪 (XRD):分析沉积薄膜的晶体结构和相组成。

傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR):研究薄膜的化学成分和官能团。

热重分析仪 (TGA):测量薄膜的热稳定性和质量变化。

气相色谱仪 (GC):分析沉积过程中产生的气体反应产物。

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统是一款功能强大的设备,通过精确控制沉积过程,该系统能够满足科研人员对薄膜制备的高要求,并与多种分析仪器联用,提供全面的实验数据支持。

文章标签:原子层沉积系统ald-150lekurt j. lesker company半导体科研仪器设备 评论收藏分享

采购、售后(仪器设备提交仪器设备信息

"Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统"相关

CHOTEST中图 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪
SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪采用白光干涉技术,能够实现亚纳米级的表面测量,支持垂直扫描干涉模式(VSI)、相移干涉模式(PSI)以及自适应通用测量模式(USI),满足不同测量需求

发表我的评价

当前位置:首页 » Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统 温度可达 500°C
0