CHOTEST中图 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪

 

SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪采用白光干涉技术，能够实现亚纳米级的表面测量，支持垂直扫描干涉模式（VSI）、相移干涉模式（PSI）以及自适应通用测量模式（USI），满足不同测量需求。具备自动聚焦、自动调亮度、自动多区域测量和拼接测量等功能，支持多达300种2D和3D参数的评估。

科研实验应用：1、半导体制造：用于半导体器件的表面质量检测，确保制造过程中的精度和一致性；2、光学加工：在光学元件的生产中进行表面形貌的精确测量，确保光学性能；3、微纳材料研究：对微纳米材料的表面特性进行深入分析，推动材料科学的发展；4、MEMS器件测试：在微机电系统（MEMS）器件的研发中进行表面形貌测量；5、航空航天应用。

CHOTEST中图 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪技术参数：

型号		CHOTEST中图 SuperView W1-Pro
光源		白色/绿色发光二极管
视频系统		1024×1024
标准视野		0.98×0.98毫米
最大视野(可选)		6.0×6.0毫米
对象 表	尺寸	(320×300)mm
	旅行范围	(200×200)mm
	负载能力	10千克
	控制方法	机动化
	倾斜	±5手动
Z轴行程范围		100毫米机动
Z轴行程扫描范围		10毫米
Z轴扫描速度		45μm/s
Z轴分辨率		0.1纳米
横向分辨率		0.1μm
测试对象的特征		超平滑表面，粗糙表面；反射率0.05%~100%
准确度	准确度	0.3%
	重复性	0.08%
电源		AC100~240V，50/60Hz，4A，300W
尺寸		L900*W700*h1500毫米
重量		<160公斤

CHOTEST中图 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪使用方法：

1. 样品准备：将待测样品放置在夹具上，确保样品稳定。
2. 设备设置：开启CHOTEST中图 SuperView W1-Pro，检查电源和连接状态。
3. 选择测量模式：在软件界面上选择适合的测量模式（如VSI或PSI）。
4. 调整位置：使用操纵杆调节Z轴，找到样品表面干涉条纹。
5. 开始测量：点击开始测量，仪器将自动进行数据采集。
6. 数据分析：测量完成后，使用软件进行数据处理和分析，生成报告。

CHOTEST中图 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪哪些实验室在用：

• 清华大学：用于半导体器件的表面质量检测。
• 北京大学：在光学元件的生产中进行表面形貌测量。
• 华南理工大学：用于微纳米材料的表面特性分析。
• 浙江大学：在汽车零部件的检测中应用。
• 南京大学：用于MEMS器件的表面质量测试。
• 西安交通大学：在航空航天领域进行关键部件的表面检测。

CHOTEST中图 SuperView W1-Pro光学3D表面轮廓仪售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

光学显微镜：用于观察样品的微观结构，辅助表面形貌分析。

扫描电子显微镜（SEM）：提供更高分辨率的表面形貌图像，进行详细分析。

粗糙度仪：用于测量表面粗糙度，提供与3D轮廓仪的互补数据。

激光测距仪：用于快速测量样品的几何尺寸，确保与3D测量数据的一致性。

数据采集系统：记录和分析测量数据，支持科研实验的深入研究。

温度测试仪：监测样品在测量过程中的温度变化，确保测量的准确性。