JEOL JEM-F200透射电子显微镜

 

JEOL JEM-F200是一款场发射透射电子显微镜，配备冷场发射电子枪，可确保高稳定性、高亮度和高能量分辨率（<0.33eV）。可同时配备两个大面积硅漂移探测器 (SDD)，提供高灵敏度分析。自动增益和偏移、自动对焦、自动像散校正，使初学者也可以轻松操作。

科研实验应用：1、材料科学：观察金属、合金、陶瓷和复合材料的微观结构、缺陷及相变；2、纳米技术：分析纳米材料的形貌、尺寸和晶体结构，如纳米粒子、纳米线和薄膜；3、生物学：观察细胞结构、细胞器和生物大分子，帮助研究生物样品的形态和功能；4、半导体研究：用于半导体材料的缺陷分析、结构表征和材料性能评估；5、晶体学。

JEOL JEM-F200透射电子显微镜技术参数：

规格		超高分辨率	高分辨率
TEM分辨率 （200kV时）	点分辨率 晶格分辨率 信息极限	0.19纳0.1纳米 ≦0.11纳米(采用冷FEG) ≦0.12纳米(采用肖特基FEG)	0.23nm 0.1nm ≦0.11nm(采用冷FEG) ≦0.12nm(采用肖特基FEG)
STEM分辨率 （200kV时）	HAADF-STEM图像	0.14nm(采用冷FEG) 0.16nm(采用肖特基FEG)	0.14nm(采用冷FEG) 0.16nm(采用肖特基FEG)
电子枪		冷场发射电子枪 肖特基型场发射电子枪
加速电压		20kV～200kV (默认200kV、80kV可选，其他加速电压可选)
标本运动		X,Y±1.0毫米Z±0.1毫米	X,Y±1.0毫米Z±0.2毫米
样品倾斜角度		TX/TY(双倾斜支架)±25°/±25° TX(高倾斜支架)±60°	TX/TY(双倾斜支架)±35°/±30° TX(高倾斜支架)±80°
主要可安装选项		能量色散X射线谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、 数码相机、TEM/STEM/EDS断层扫描系统

移动范围可能会根据标本支架类型或是否插入物镜光圈而改变。

JEOL JEM-F200透射电子显微镜使用方法：

1. 开机：按下主电源开关，等待自检完成。
2. 真空系统：启动真空泵，确保样品室达到高真空状态。
3. 电子枪预热：开启电子枪，预热一段时间以稳定电子束。
4. 样品制备：确保样品薄到适合透射的厚度（通常在100纳米以下）。
5. 样品安装：将样品固定在样品支架上，确保安装牢固。
6. 选择模式：选择所需的成像模式（如亮场、暗场、高分辨率等）。
7. 调整参数：设置加速电压、束流强度和成像放大倍数。
8. 聚焦：使用粗调和细调旋钮对样品进行聚焦。
9. 拍摄图像：根据需要调整对比度和亮度，获取清晰的图像。
10. 记录数据：保存图像和相关实验参数，便于后续分析。
11. 退出真空：在完成观察后，逐步降低样品室的真空度。
12. 关闭电源：关闭电子枪和设备电源，最后关闭真空阀。

JEOL JEM-F200透射电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科技大学材料科学与工程学院
• 中车株洲电力机车研究所
• 中国电子科技集团公司第十五研究所
• 华为技术有限公司先进材料实验室
• 宁波韦伯新材料有限公司
• 江苏索普集团有限公司

JEOL JEM-F200透射电子显微镜售后服务支持：

• 电话支持：提供专业的技术支持热线，解决使用过程中的问题。
• 在线支持：用户可通过官方网站获取技术文档、用户手册和常见问题解答。
• 原厂配件：提供官方认证的替换部件，确保设备正常运行。
• 耗材管理：建议定期检查和更换耗材，确保测试的准确性。
• 操作培训：为用户提供设备操作和安全使用的培训。
• 培训方式：可选择现场培训或远程在线培训。
• 满意度调查：定期进行用户满意度调查，以收集反馈并改进服务质量。
• 建议渠道：鼓励用户提供使用体验和建议，以优化产品和服务。
• 快速响应：在设备出现严重故障时，提供优先响应的紧急服务。

相关产品：

能谱仪（EDS）：结合透射电子显微镜进行元素组成分析，获取样品的化学成分。

扫描电子显微镜（SEM）：用于样品的初步观察和形貌分析，补充TEM的微观分析。

X射线衍射仪（XRD）：用于分析样品的相组成和晶体结构，提供与TEM结果的互补信息。

热重分析仪（TGA）：研究样品的热稳定性和分解特性，辅助材料性能评估。

差示扫描量热仪（DSC）：了解材料的热性质，与TEM结合分析材料的热行为。

原子力显微镜（AFM）：用于高分辨率表面形貌分析，与TEM互为补充。