JEOL JEM-2100Plus透射电子显微镜

 

JEM-2100Plus透射电子显微镜将光学系统与先进的控制系统相结合，增强了操作的简便性。64位Windows兼容控制软件，TEMCenter直观的用户界面，旨在最大程度地简化操作。配备了完整的自动化功能，包括自动对焦、自动​​对比度/亮度、自动曝光、自动蒙太奇、漂移补偿。

科研实验应用：材料科学的晶体结构分析、晶体缺陷观察、纳米颗粒的形貌和尺寸分析等。1、生物学（细胞和组织的超微结构观察、细胞器的定位和形态分析、病毒和细菌的观察等）；2、纳米技术（纳米材料的形貌和尺寸分析）；3、界面和表面科学（材料表面的成分分析、表面形貌和结构的观察、界面反应和相互作用的研究等）。

JEOL JEM-2100Plus透射电子显微镜技术参数：

物镜极靴*1	超高分辨UHR	高分辨HR	高倾斜HT
分辨率
点分辨率	0.194nm	0.23nm	0.25nm
线分辨率	0.14nm	0.14nm	0.14nm
STEM明场像*2	1.0nm
加速电压	80、100、120、160、200kv
倍率（TEM）*2
MAG模式	x2,000–1,500,000		x1,500–1,200,000
LowMAG模式	x30–6,000
SAMAG模式	x8,000–800,000		x6,000–600,000
倍率（STEM）*2
MAG模式	x2,000–2,000,000
LowMAG模式	x100–15,000

JEOL JEM-2100Plus透射电子显微镜使用方法：

• 样品制备：准备样品并进行必要的处理，如切片、薄膜制备、染色等，以获得适合观察的样品。
• 透射电子显微镜设置：设置透射电子显微镜的工作条件，包括电子束的对准、聚焦、亮度和对比度的调整等。
• 选择放大倍数：根据样品的特点和需要，选择合适的放大倍数以获得所需的图像细节。
• 获取图像：将样品放置在透射电子显微镜的样品台上，并通过控制器获取和记录图像。可以使用数字图像捕捉设备来保存和处理图像。
• 数据分析和解释：使用图像处理软件和相关工具对获取的图像进行分析、测量和解释。可以进行颗粒计数、晶体结构分析、尺寸测量等。

JEOL JEM-2100Plus透射电子显微镜售后服务：

技术支持：专业的技术支持团队，可以通过电话、电子邮件或在线支持平台为用户解答仪器操作、故障排除和应用方面的问题。

维修和保养：仪器的维修和保养服务。如果仪器出现故障或需要维护，用户可以联系售后服务团队进行维修安排。

零部件支持：保证提供原厂认证的零部件供应。如果仪器需要更换零部件，用户可以从JEOL或其授权代理商处获得合适的零部件，并确保其品质和兼容性。

售后培训：用户培训课程，以帮助用户熟悉仪器的操作和应用。

相关产品：

能谱仪（EDS）：通过将能谱仪与透射电子显微镜联用，可以进行元素分析和成分定量分析，以获得样品的化学信息。

选区电子衍射仪（SAED）：SAED装置可以与透射电子显微镜联用，用于样品的晶体学分析和晶格结构表征。

低温样品台：通过使用低温样品台，可以在低温下观察样品的结构和性质，以研究冷冻物质、低温相变等。

原位观察装置。