KRATOS Axis Supra+ X射线光电子能谱仪

 

Axis Supra+ X射线光电子能谱仪利用128通道延迟检测器（DLD）在不到1秒的时间内快速、非扫描快照模式采集光谱。拥有大型500毫米罗兰圆单色AI Ka X射线源和优化的电子光学系统，确保出色的分辨率。通过Flexi-lock样品仓和样品分析室自动台的协调，实现了分析过程中无人看管的样品架转移和交换。

科研实验应用：1、表面分析：用于材料表面的化学成分分析，研究材料的表面特性和化学状态；2、薄膜研究：适用于薄膜材料的成分和厚度分析，如半导体、涂层和纳米材料；3、催化剂研究：在催化剂开发中，分析催化剂的表面组成和化学状态，优化催化性能；4、生物材料分析：用于生物材料的表面特性研究，如生物相容性和表面改性效果。

KRATOS Axis Supra+ X射线光电子能谱仪技术参数：

• 自动双阳极AlKa/AgLa（1486.7/2984.2eV）单色X射线源
• 最大样本尺寸：最大横向尺寸34mmx75mm，最大厚度7mm
• 大面积模式（700x300um2）和小点模式（直径110um、55um、27um和15um）光谱
• 成像XPS（800x800um2、400x400um2和200x200um2视场），空间分辨率低至1um
• XPS图像拼接模式（最大至10x10mm2）
• 负载锁照相机和高倍分析室显微镜
• 角度分辨XPS分析
• Ar+/Arn+气体团簇离子源（GCIB）如下：Ar+在50kV，以及Ar500+、Ar1000+、Ar2000+或Ar3000+选项在5、10、15或20KV
• 分析室加热和冷却（-100°C至+800°C）
• 3种气体配料系统
• 惰性气体或真空样品转移容器

KRATOS Axis Supra+ X射线光电子能谱仪使用方法：

1. 设备准备：确保X射线光电子能谱仪处于正常工作状态，检查所有连接和校准。
2. 样品准备：根据样品类型清洁样品表面，确保无污染物和杂质，必要时进行物理或化学处理。
3. 样品装载：将样品放入真空腔中，确保准确对准并固定，避免样品移动。
4. 设置参数：根据实验需求设置合适的X射线能量、探测器参数和扫描模式。
5. 启动分析：启动仪器进行数据采集，监控信号强度和分析过程，确保数据质量。
6. 数据处理：使用专用软件进行数据分析，生成光谱图和化学成分分布图，提取相关信息。
7. 清洁与维护：完成实验后，清洁样品室和光学部件，定期进行设备维护和校准，确保长期稳定运行。

KRATOS Axis Supra+ X射线光电子能谱仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院半导体研究所
• 上海交通大学材料科学与工程学院
• 华南理工大学材料科学与工程学院
• 西安交通大学材料科学与工程学院
• 哈尔滨工业大学材料科学与工程学院

KRATOS Axis Supra+ X射线光电子能谱仪售后服务支持：

• 设有多家售后服务中心，配备经过专业培训的维修工程师团队。
• 能够提供快速响应的上门维修服务，解决用户设备故障问题。
• 拥有充足的备件库存，确保维修效率和设备正常运转。
• KRATOS公司定期组织免费的用户培训课程，传授设备操作、数据分析等专业知识。
• 提供详细的用户手册和维护指南，帮助用户更好地掌握设备使用。
• 针对特定需求，可提供定制化的培训方案。
• 设有专门的技术支持热线，由经验丰富的应用工程师提供7*24小时的技术咨询。
• 可以远程协助用户诊断问题，提供故障排除建。
• 对于复杂问题，还可以安排现场技术支持人员进行指导。

相关产品：

扫描电子显微镜（SEM）：用于对样品进行形貌观察，结合XPS分析提供更全面的信息。

傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于分析样品的分子结构和化学环境，提供补充的化学信息。

能量色散X射线谱仪（EDX）：结合XPS和EDX可实现元素成分和分布的全面分析。

质谱仪：用于分析样品的分子量和结构，提供更深入的化学信息。

热分析仪（TGA/DSC）：结合热分析数据，研究材料的热稳定性和相变行为。