Kratos Analytical AXIS Supra X射线光电子能谱仪

 

Analytical AXIS Supra X射线光电子能谱仪具有自动样品装载、用于样品识别和定位的光学显微镜以及直观的数据采集和处理软件。可以在几分钟内构建元素及其化学状态在表面的分布图。由于光谱仪室配备了大量法兰,AXISSupra成为多功能设备,能够结合以下分析方法:紫外光电子能谱(UFES)、俄歇电子能谱和显微镜(OES、OEM))、扫描电子显微镜(SEM)、离子散射光谱(ISS)以及其他必要的方法。

Kratos Analytical AXIS Supra X射线光电子能谱仪

科研实验应用:1、材料表面分析:研究固体材料的表面化学组成,帮助理解材料的表面特性和反应性;2、薄膜和涂层研究:分析薄膜和涂层的元素组成及其化学状态,评估其性能及应用潜力;3、纳米材料研究:研究纳米材料的表面特性和功能,推动纳米技术的发展;4、催化剂研究:分析催化剂表面的元素和化学状态,优化催化剂的性能。

Kratos Analytical AXIS Supra X射线光电子能谱仪技术参数:

真空系统:

  • 样品分析室:µ-金属制成的真空室,涡轮分子泵400l/s,使用钛升华泵进行额外抽气
  • 样品装载室:样品盒(最多3个大型样品架)、带有无油涡旋前真空泵的涡轮分子泵(240l/s)

辐射源:

  • 单色高功率Al Kα辐射源
  • 直径500毫米的罗兰圆
  • 带自动校准功能的环形石英单色仪
  • 全电脑控制,包括压力增加时阻断
  • 从AlKα辐射自动过渡到AgLα辐射
  • 双阳极消色差辐射:AlKα/MgKα(可选)
  • 紫外气体放电灯:HeI/HeII(可选)
  • 带热场肖特基阴极的电子枪(可选)

电子能量分析仪:

  • 180°半球分析仪(用于光谱)
  • 球面镜型分析仪(用于平行映射)

光电子探测器:

  • 带延迟线检测器的多通道板:扫描和快照采集模式(2D并行映射)

电荷中和器:

  • 具有低能电子的同轴电荷中和器

样品装载和转移:

  • 自动将样品转移至分析室并返回
  • 标准样品架
  • 支架自动旋转

Kratos Analytical AXIS Supra X射线光电子能谱仪使用方法:

  1. 样品准备:确保样品表面光滑、干净,去除污染物,以获得可靠的分析结果。
  2. 设备设置:打开XPS仪器,进行预热和校准,选择合适的分析模式。
  3. 样品装载:将样品放置在样品台上,确保其在光路中的位置正确。
  4. 选择X射线源:根据样品的特性选择合适的X射线源(如铝或镉)。
  5. 进行测量:启动测量程序,获取样品表面的光电子能谱。
  6. 数据分析:使用配套软件分析光谱数据,识别元素及其化学状态,生成报告。
  7. 清理与维护:分析结束后,清洁样品室,定期对设备进行维护和校准。

Kratos Analytical AXIS Supra X射线光电子能谱仪有哪些实验室在用:

  • 浙江大学材料科学与工程学院材料表征中心:用于功能陶瓷、复合材料等新型材料的表面成分和化学态分析。
  • 南京工业大学材料科学与工程学院先进材料实验室:主要应用于金属基复合材料、钛合金等材料的表面特性表征。
  • 中国科学院化学研究所材料表征中心:主要用于催化材料、高分子材料等的表面化学分析。
  • 西安交通大学材料科学与工程学院材料分析实验室:应用于新能源电池材料、航空航天材料等的表面性质表征。
  • 哈尔滨工业大学材料科学与工程学院材料实验中心:主要用于先进制造材料、功能性陶瓷等的表面化学分析。

Kratos Analytical AXIS Supra X射线光电子能谱仪售后服务支持:

  • 安装与调试:提供专业的设备安装和调试服务,确保仪器按照制造商的标准正确设置和运行。
  • 培训服务:为用户提供仪器操作和数据分析的培训,帮助用户熟悉设备的功能和使用方法。
  • 定期维护:提供定期的预防性维护服务,确保设备的稳定性和长期使用性能,减少故障发生。
  • 故障排除:设有技术支持团队,能够及时响应用户的故障报告,提供远程或现场的故障排查和解决方案。
  • 备件供应:提供原厂备件和耗材的供应,确保用户在需要时能够迅速获得更换部件。
  • 软件更新:定期提供仪器软件的更新和升级,确保用户获得最新的功能和改进。
  • 技术支持:提供全天候的技术支持,通过电话、电子邮件或在线聊天帮助用户解决问题。

相关产品:

扫描电子显微镜 (SEM):结合使用,以获取样品的形貌信息,辅助XPS分析。

透射电子显微镜 (TEM):用于分析样品的微观结构,与XPS结合提供更全面的样品特征。

傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR):用于分析材料的化学结构,提供补充的化学信息。

质谱仪 (MS):进行成分分析,与XPS结合使用,深入理解材料的组成。

X射线衍射仪 (XRD):研究材料的晶体结构,与表面化学分析相结合,提供全面的材料特性。

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