HITACHI SU3800扫描电子显微镜

 

SU3800扫描电子显微镜0.3kV~30kV加速电压,配备多用途大样品室,还支持原位分析。配备简单的GUI,只需单击即可轻松操作,主窗口为 1280x960 像素。设置样品后,电子束照射的各种图像调整将自动进行,即可以高吞吐量获取数据。通过改进自动对焦调整算法,即使对于难以调整的平面样品,现在也可以更轻松地获得良好的图像。

HITACHI SU3800扫描电子显微镜

科研实验应用:1、材料科学:用于分析金属、合金、陶瓷和复合材料的微观结构和表面形貌;2、纳米技术:研究纳米材料的形态、尺寸和分布,助力纳米科学的进展;3、生物医学:分析生物样本(如细胞、组织)的微观结构,研究生物体内的细胞相互作用;4、半导体行业:用于半导体器件的表征和缺陷分析,确保产品的质量和性能;5、环境科学。

HITACHI SU3800扫描电子显微镜技术参数:

型号 SU3800
二次电子分辨率 3.0nm(加速电压30kV,WD=5mm,高真空模式)
15.0nm(加速电压1kV,WD=5mm,高真空模式)
背散射电子分辨率 4.0nm(加速电压30kV,WD=5mm,低真空模式)
观察倍率 ×5至×300,000(照片放大倍率*1)
×7~×800,000(实际显示倍率*2)
加速电压 0.3kV~30kV
低真空设置 6~650帕
图像偏移 ±75μm (WD=10mm)
最大样本量 直径200毫米
样品台 X 0~100mm
0~50mm
Z 5~65毫米
360°连续
时间 -20°~+90°
最大观测范围 直径130mm(与R组合)
最大可观测高度 80毫米(工作距离=10毫米)
电机驱动 5轴电机驱动
电子光学系统 电子枪 预中心筒式钨丝发夹
物镜孔径 4孔活动光圈
检测系统 二次电子探测器、高灵敏度半导体背散射电子探测器
EDX 分析 WD WD=10mm(TOA=35°)
图像展示 自动轴调整功能 光束自动调整(AFS→ABA→AFC→ABCC)
光轴调整(当前对准)自动
光束亮度自动
自动图像调整功能 自动亮度和对比度控制 (ABCC)
自动对焦控制(AFC)
自动污点和聚焦 (ASF)
自动灯丝饱和 (AFS)
自动光束对准 (ABA)
自动启动(HV-ON→ABCC→AFC)
操作辅助功能 光栅旋转、动态聚焦、图像质量改善功能、数据输入(两点测量、角度测量、文本)、预设倍率、载物台位置导航功能(SEM MAP)、光束标记功能
选项 硬件:轨迹球、操纵杆、操作面板、压缩机、高灵敏度低真空检测器(UVD)、腔镜、相机导航系统 软件:SEM数据管理器、外部通信接口、3D-Capture、载物台移动限制解除功能、EDS集成
选项(外部设备) 能量色散X射线光谱仪(EDS)、波长色散X射线光谱仪(WDS)、
各种外部工作台(加热台、冷却台、拉伸台)

HITACHI SU3800扫描电子显微镜使用方法:

  1. 设备准备:将扫描电子显微镜放置在稳定的工作环境中,连接电源并完成设备自检。
  2. 样品准备:根据样品类型进行适当处理,如镀金、涂层,以提高导电性和表面平整度。
  3. 设置参数:根据样品特性设置加速电压、束流、扫描模式等参数。
  4. 加载样品:将样品放置在样品台上,确保固定稳固,避免震动。
  5. 图像采集:启动扫描程序,观察显示屏上的图像,并根据需要调整焦距和对比度。
  6. 数据记录与分析:完成图像采集后,保存图像数据,使用相关软件进行后续分析和处理。

HITACHI SU3800扫描电子显微镜有哪些实验室在用:

  • 北京大学材料科学与工程学院材料表征中心
  • 清华大学材料科学与工程系先进材料分析实验室
  • 中国科学院物理研究所纳米科学与技术实验室
  • 浙江大学材料科学与工程学院材料表征中心
  • 中国科学技术大学材料科学与工程系材料分析实验室
  • 南开大学化学学院微纳米分析实验室

HITACHI SU3800扫描电子显微镜售后服务支持:

  • 专业培训:为用户提供操作培训、应用开发培训等,确保高效利用该设备。
  • 维修保养:拥有专业的技术服务团队,可提供定期保养、故障维修等服务。
  • 应用支持:针对特殊需求提供技术咨询、数据分析等应用支持服务。
  • 备件供应:确保用户可及时获得所需的备件和耗材。
  • 升级改造:提供软硬件升级服务,延长设备使用寿命。
  • 远程支持:可通过远程诊断等方式为用户提供技术支持。

相关产品:

样品制备设备:如冷冻切片机或离子束切割机,用于样品的切割和制备。

真空泵:保持显微镜内部的真空环境,确保电子束的有效传输。

能谱仪(EDS):结合使用,进行元素分析,获取样品的成分信息。

光学显微镜:用于初步观察样品,辅助样品的选择和制备。

图像处理软件:用于对获取的显微图像进行分析和处理,提取所需信息。

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