HITACHI SU3800扫描电子显微镜
SU3800扫描电子显微镜0.3kV~30kV加速电压,配备多用途大样品室,还支持原位分析。配备简单的GUI,只需单击即可轻松操作,主窗口为 1280x960 像素。设置样品后,电子束照射的各种图像调整将自动进行,即可以高吞吐量获取数据。通过改进自动对焦调整算法,即使对于难以调整的平面样品,现在也可以更轻松地获得良好的图像。
科研实验应用:1、材料科学:用于分析金属、合金、陶瓷和复合材料的微观结构和表面形貌;2、纳米技术:研究纳米材料的形态、尺寸和分布,助力纳米科学的进展;3、生物医学:分析生物样本(如细胞、组织)的微观结构,研究生物体内的细胞相互作用;4、半导体行业:用于半导体器件的表征和缺陷分析,确保产品的质量和性能;5、环境科学。
HITACHI SU3800扫描电子显微镜技术参数:
型号 | SU3800 | |
---|---|---|
二次电子分辨率 | 3.0nm(加速电压30kV,WD=5mm,高真空模式) | |
15.0nm(加速电压1kV,WD=5mm,高真空模式) | ||
背散射电子分辨率 | 4.0nm(加速电压30kV,WD=5mm,低真空模式) | |
观察倍率 | ×5至×300,000(照片放大倍率*1) | |
×7~×800,000(实际显示倍率*2) | ||
加速电压 | 0.3kV~30kV | |
低真空设置 | 6~650帕 | |
图像偏移 | ±75μm (WD=10mm) | |
最大样本量 | 直径200毫米 | |
样品台 | X | 0~100mm |
是 | 0~50mm | |
Z | 5~65毫米 | |
右 | 360°连续 | |
时间 | -20°~+90° | |
最大观测范围 | 直径130mm(与R组合) | |
最大可观测高度 | 80毫米(工作距离=10毫米) | |
电机驱动 | 5轴电机驱动 | |
电子光学系统 | 电子枪 | 预中心筒式钨丝发夹 |
物镜孔径 | 4孔活动光圈 | |
检测系统 | 二次电子探测器、高灵敏度半导体背散射电子探测器 | |
EDX 分析 WD | WD=10mm(TOA=35°) | |
图像展示 | 自动轴调整功能 | 光束自动调整(AFS→ABA→AFC→ABCC) |
光轴调整(当前对准)自动 | ||
光束亮度自动 | ||
自动图像调整功能 | 自动亮度和对比度控制 (ABCC) | |
自动对焦控制(AFC) | ||
自动污点和聚焦 (ASF) | ||
自动灯丝饱和 (AFS) | ||
自动光束对准 (ABA) | ||
自动启动(HV-ON→ABCC→AFC) | ||
操作辅助功能 | 光栅旋转、动态聚焦、图像质量改善功能、数据输入(两点测量、角度测量、文本)、预设倍率、载物台位置导航功能(SEM MAP)、光束标记功能 | |
选项 | 硬件:轨迹球、操纵杆、操作面板、压缩机、高灵敏度低真空检测器(UVD)、腔镜、相机导航系统 软件:SEM数据管理器、外部通信接口、3D-Capture、载物台移动限制解除功能、EDS集成 | |
选项(外部设备) | 能量色散X射线光谱仪(EDS)、波长色散X射线光谱仪(WDS)、 各种外部工作台(加热台、冷却台、拉伸台) |
HITACHI SU3800扫描电子显微镜使用方法:
- 设备准备:将扫描电子显微镜放置在稳定的工作环境中,连接电源并完成设备自检。
- 样品准备:根据样品类型进行适当处理,如镀金、涂层,以提高导电性和表面平整度。
- 设置参数:根据样品特性设置加速电压、束流、扫描模式等参数。
- 加载样品:将样品放置在样品台上,确保固定稳固,避免震动。
- 图像采集:启动扫描程序,观察显示屏上的图像,并根据需要调整焦距和对比度。
- 数据记录与分析:完成图像采集后,保存图像数据,使用相关软件进行后续分析和处理。
HITACHI SU3800扫描电子显微镜有哪些实验室在用:
- 北京大学材料科学与工程学院材料表征中心
- 清华大学材料科学与工程系先进材料分析实验室
- 中国科学院物理研究所纳米科学与技术实验室
- 浙江大学材料科学与工程学院材料表征中心
- 中国科学技术大学材料科学与工程系材料分析实验室
- 南开大学化学学院微纳米分析实验室
HITACHI SU3800扫描电子显微镜售后服务支持:
- 专业培训:为用户提供操作培训、应用开发培训等,确保高效利用该设备。
- 维修保养:拥有专业的技术服务团队,可提供定期保养、故障维修等服务。
- 应用支持:针对特殊需求提供技术咨询、数据分析等应用支持服务。
- 备件供应:确保用户可及时获得所需的备件和耗材。
- 升级改造:提供软硬件升级服务,延长设备使用寿命。
- 远程支持:可通过远程诊断等方式为用户提供技术支持。
相关产品:
样品制备设备:如冷冻切片机或离子束切割机,用于样品的切割和制备。
真空泵:保持显微镜内部的真空环境,确保电子束的有效传输。
能谱仪(EDS):结合使用,进行元素分析,获取样品的成分信息。
光学显微镜:用于初步观察样品,辅助样品的选择和制备。
图像处理软件:用于对获取的显微图像进行分析和处理,提取所需信息。
文章标签:扫描电子显微镜su3800hitachi扫描电镜 扫描电子显微镜 SEM 评论收藏分享
采购、售后(仪器设备提交仪器设备信息
"HITACHI SU3800扫描电子显微镜"相关
- OPTO-EDU A63.7032扫描电子显微镜
- OPTO-EDU A63.7032扫描电子显微镜300000x放大倍率,带探测器SE+CCD,可选 LVD、BSE、EDS,标准5轴自动工作台,可选3轴自动工作台,通过旋钮控制面板或鼠标滚轮和手势快速
- HITACHI SU8600场发射扫描电子显微镜
- HITACHI的高亮度冷场发射源即使在超低电压下也能提供超高分辨率图像。配备了电子光学自动对准功能,可以稳定地设置光学条件。信号可以同时显示或存储在多达6个通道上。除了SEM图像外,还可以显示相机导航
- HITACHI S3400N扫描电子显微镜
- HITACHI S3400N扫描电子显微镜(SEM)拥有新开发的电光系统,具有更多的自动化功能,结合了自动轴功能,包括自动横梁设置、自动同轴轴。还具有3kV时低加速电压保证10nm分辨率、实时显示两幅