ZEISS EVO LS10扫描电子显微镜
EVO LS10扫描电子显微镜采用先进的TTL和BeamSleeve技术设计,可在变压(VP)模式下实现无与伦比的更好图像质量。大型5轴平台、标配低真空模式、各种可选附件,由最新一代OptiBeam软件很大程度上自动控制。每个电子光学镜头都有独立的独立电源。

科研实验应用:1、材料科学:观察和分析金属、合金、陶瓷和复合材料的微观结构、相分布和缺陷;2、生物医学:观察生物样品的细胞结构、组织形态和病理特征,帮助进行疾病研究;3、半导体行业:用于微电子器件的缺陷分析、表面结构观察和工艺开发;4、纳米技术:研究纳米材料的形貌、尺寸和分布特性。
ZEISS EVO LS10扫描电子显微镜参数:
| 允许 | 3纳米(2纳米) | @30kV,SE,W(LaB6) |
| 4.5纳米 | @30kV,BSD(VP模式) | |
| 15纳米 | @30kV,1nA,LaB6 | |
| 20纳米(15纳米) | @1kV,SE,W(LaB6) | |
| 10纳米 | @3kV,SE | |
| 加速电压 | 0.2–30kV | |
| 增加 | <7–1,000,000x |
|
| 视野尺寸 | 分析工作距离(AWD)为6毫米 | |
| X射线分析 | 8.5毫米AWD和35度探测器倾斜 | |
| OptiBeam®模式 | 分辨率、分析、景深、景深、鱼眼 | |
| 压力范围 | 10–3000帕 |
|
| 可用探测器 | BSD--背散射电子探测器 | |
| ETSE–Everhart-Thornley二次电子探测器 | ||
| VPSE–VP模式的二次电子探测器 | ||
| EPSE–EP模式二次电子探测器 | ||
| SCD-采样电流计 | ||
| STEM–透射电子探测器(透射模式) | ||
| CL-阴极发光检测器 | ||
| 样品室 | 310毫米(直径)x220毫米(高) | |
| 5轴电动样品台 | X=80毫米,Y=100毫米, | |
| Z=35毫米,T=-10°+90°, | ||
| R=360°(连续) | ||
| 鼠标控制 | ||
| 或额外的操纵杆和 | ||
| 从控制面板 | ||
| 最大样品高度 | 100毫米 | |
| 可能的修改 | BeamSleeve®,扩展压力(EP)模式,水蒸气注入腔室 | |
| 图像尺寸 | 3072x2304点,单次累积和连续显示模式 | |
| 控制系统 | SmartSEM®GUI鼠标和键盘控制 | |
| Windows®XP多语言操作系统 | ||
| 附加信息 | 电源:100–240V,50或60Hz单相,风冷 | |
ZEISS EVO LS10扫描电子显微镜使用方法:
- 设备准备:确保显微镜连接到电源,启动设备并进行自检。
- 样品准备:根据样品类型进行处理(如金属样品需镀金),确保样品表面光滑且清洁。
- 样品安装:将样品固定在样品台上,确保其稳定且位置正确。
- 设置显微镜参数:调整加速电压、束流和工作距离,选择适合样品的成像模式(如二次电子成像或背散射电子成像)。
- 进行成像:启动显微镜并调整焦距,观察样品表面,获取高分辨率图像。
- 数据记录与分析:保存图像并进行必要的图像处理与分析,提取所需的科学数据。
- 清理与维护:使用后清洁样品台和显微镜,定期检查和维护设备以确保最佳性能。
ZEISS EVO LS10扫描电子显微镜有哪些实验室在用:
- 武汉大学材料科学与工程学院:应用于生物医用材料的微观形貌分析
- 哈尔滨工业大学材料科学与工程学院:用于航天航空先进复合材料的微观结构表征
- 中国科技大学材料科学与工程学院:应用于新型光电子功能材料的微观形貌分析
- 重庆大学材料科学与工程学院:用于能源与环境材料的微观结构表征
- 华南理工大学材料科学与工程学院:应用于纳米技术相关材料的微观形貌分析
ZEISS EVO LS10扫描电子显微镜售后服务支持:
- 电话和在线支持:用户可以通过电话或在线平台获得技术咨询和问题解答。
- 故障排查:提供故障诊断和解决方案,帮助用户快速恢复设备的正常运行。
- 定期检查:定期进行设备检查和校准,确保显微镜性能稳定。
- 维修服务:提供现场或返厂维修服务,解决设备故障。
- 用户培训:为用户提供仪器操作和应用的培训,确保用户熟悉设备的功能和操作流程。
- 技术研讨会:定期组织技术研讨会和培训课程,以提升用户的专业技能和知识。
- 原厂配件:提供原厂认证的配件和耗材,确保设备的高效运行和长期稳定性。
- 快速供货:对于常用配件,提供快速供货服务,减少用户的等待时间。
相关产品:
能谱仪(EDS):结合能谱仪进行元素分析,获取样品的成分信息。
X射线衍射仪(XRD):用于分析样品的晶体结构,提供更全面的材料特性。
光学显微镜:用于初步观察样品,确定样品特性后再进行 SEM 测试。
样品制备设备:包括离子磨削机和冷冻切片机等,用于样品的预处理和制备。
数据分析软件:使用相关软件进行图像分析和定量研究。
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