JEOL JIB-4000扫描电子显微镜
JIB-4000扫描电子显微镜配备高功率FIB镜筒,最大离子束电流为60nA,可实现快速横截面铣削。大电流高速铣削特别适用于大面积加工,即使尺寸超过100µm,也可以轻松制作用于观察的横截面,标准配置包括一个大样本电动台,可以观察20毫米x20毫米大样本的整个表面。可以通过气锁室快速进行样品交换。
科研实验应用:1、材料表征:用于金属、陶瓷、聚合物等材料的微观结构分析和表面形貌观察;2、半导体研究:在半导体制造和开发中,用于观察晶圆表面的缺陷和结构;3、纳米技术:研究纳米材料和纳米结构的形貌、尺寸和分布;4、地质和矿物学:用于岩石和矿物样品的成分分析和形态观察。
JEOL JIB-4000扫描电子显微镜技术参数:
离子源 | Ga(镓)液态金属离子源 |
加速电压 | 1~30kV(5kV/步) |
放大倍率 | ×60 (用于视场搜索) ×200~×300,000 |
图像分辨率 | 5nm(30kV) |
束流 | 60nA(at30kV) |
可变光阑 | 12档(马达驱动) |
离子束加工形状 | 矩形、线状、点状 |
样品台 | 块状样品用5轴测角样品台 X:±11mm Y:±15mm Z:0.5~-23mm T:-5~+60° R:360°无限 样品zei大尺寸: 28mmφ(高度13mm)、50mmφ(高度2mm) |
JEOL JIB-4000扫描电子显微镜使用方法:
- 确保显微镜放置在稳定的台面上,连接电源并进行预热。
- 将样品固定在样品台上,确保其表面干净且平整。如有必要,可进行金属镀膜以提高导电性。
- 将样品台放入显微镜的样品室,确保正确锁定。
- 在控制面板上设置加速电压、工作距离和探测器模式等参数。
- 通过粗调和细调焦距,获得清晰的图像。
- 观察所需区域,记录和保存图像和数据。
- 如果需要,进行图像处理和数据分析。
- 使用后清理样品室和显微镜外部,定期进行设备维护和校准。
JEOL JIB-4000扫描电子显微镜有哪些实验室在用:
- 中国科学院物理研究所:用于新型功能材料的高分辨表面形貌分析
- 北京大学材料科学与工程学院:应用于先进金属合金及陶瓷材料的微观结构表征
- 清华大学材料科学与工程学院:用于新型能源转换材料的纳米结构观察
- 复旦大学材料科学国家重点实验室:应用于高性能聚合物及复合材料的微细形貌分析
- 浙江大学材料科学与工程学院:用于电子功能陶瓷材料的微观结构表征
JEOL JIB-4000扫描电子显微镜售后服务支持:
- 保修期限:一般提供一定期限的保修服务,具体根据购买协议而定。
- 保障内容:涵盖因材料或工艺缺陷导致的设备故障,提供免费的维修或更换服务。
- 在线支持:通过电话、电子邮件及在线支持平台提供技术咨询,解答用户在操作和维护中的问题。
- 现场支持:在设备出现技术问题时,安排专业技术人员到现场进行支持和维修,确保快速解决故障。
- 现场维修:提供及时的现场维修服务,确保设备能够快速恢复正常运行,减少停机时间。
- 返厂维修:用户可将设备寄回指定维修中心进行检修,通常在收到设备后的几天内完成。
- 定期校准:建议用户定期进行设备校准,以确保测量和成像的准确性,提供相关的校准服务。
- 维护服务:包括定期检查、清洁和必要的部件更换,以确保设备的长期稳定运行。
相关产品:
能谱仪 (EDS):进行元素分析,提供样品成分信息。
透射电子显微镜 (TEM):对样品进行更深入的结构分析。
原子力显微镜 (AFM):结合使用以获取样品的三维形貌和表面特性。
激光共聚焦显微镜:用于观察生物样品的细节和层次结构。
X射线衍射仪 (XRD):用于分析材料的晶体结构信息。
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