JEOL JSM-IT800扫描电子显微镜

 

JEOL JSM-IT800扫描电子显微镜采用镜头内肖特基Plus场发射电子枪，用于高分辨率成像和快速元素映射，并采用了创新的电子光学控制系统Neo Engine以及无缝GUI系统SEM Center用于快速元素映射，并配备了完全嵌入的JEOL能量色散X射线光谱仪 (EDS) 作为通用平台。配备了一个巨大的样品室，可同时容纳多种探测器。

科研实验应用：1、材料表征：察各种材料（包括金属、陶瓷、聚合物等）的表面形貌和微观结构；2、纳米结构研究：适用于纳米材料的形貌分析和尺寸测量，如纳米颗粒、纳米线等；3、半导体分析：在半导体行业中，用于晶片和器件的缺陷分析、表面粗糙度测量等；4、生物样品观察：用于生物材料和组织的表面形貌观察，常用于生物医学研究。

JEOL JSM-IT800扫描电子显微镜技术参数：

• 分辨率：0.7nm（20kV）1.3nm(1kV)3.0nm(15kV,5nA,WD10mm)
• 照片放大倍数:x10至x2,000,000(128x96mm)放大倍数
• 显示放大倍数:x27至x5,480,000(1,280x960像素)
• 着陆电压：0.01tp30IV
• 探针电流：pA至300nA(30kV)，pA至100nA(5kV)
• 电子枪：二次电子探测器(SED)，上部电子探测器(UED)
• 孔径角控制：内置
• 物镜：混合透镜
• 样品台：全同心测角台
• 控制：5轴电机驱动
• 类型1（标准）：最大直径：170mm，最大高度：45mm（WD5mm）
• 载物台移动范围（X：70mmY：50mmZ：1至41mm倾斜：-5至70旋转：360°）
• 类型2（选项）样品尺寸：最大直径：200mm，最大高度：55mm（WD5mm）[拉出]
• 载物台移动范围（X：100mmY：100mmZ：1至50mm倾斜：-5至70旋转：360）
• 类型3（选项）最大直径：200mm，最大高度：45mm（WD5mm）
• 载物台移动范围（X：140mmY：80mmZ：1至41mm倾斜：-5至70°旋转：360）

JEOL JSM-IT800扫描电子显微镜使用方法：

1. 设备检查与准备：检查电子显微镜的电源、真空泵、冷却系统等是否正常。
2. 样品准备：准备样品，确保样品表面干净、平整，必要时进行金属镀膜以提高导电性。
3. 样品装载：将样品固定在样品台上，确保样品位置正确。
4. 启动设备：启动电子显微镜，打开真空泵，抽真空至所需压力。
5. 设定参数：在控制面板上设置加速电压、束流强度、工作距离等参数。
6. 成像：选择合适的探测器（如二次电子探测器或背散射电子探测器），开始成像。调整焦距和对比度以获得最佳图像。
7. 数据记录：保存所需图像和数据，进行后续分析。
8. 样品取出：完成观察后，关闭设备，恢复真空室压力，取出样品。
9. 设备清理：清理样品台及显微镜周围环境，准备下次使用。

JEOL JSM-IT800扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院过程工程研究所能源材料实验室
• 中国科学院长春应化所新能源电池研究所
• 天津大学环境科学与工程学院环境材料实验室
• 中国科学院物理研究所材料结构分析实验室
• 清华大学材料科学与工程学院微结构分析中心
• 复旦大学材料科学与工程学院功能材料实验室

JEOL JSM-IT800扫描电子显微镜售后服务支持：

• 提供标准的保修期，涵盖因制造缺陷导致的故障和性能问题。
• 在线支持：通过电子邮件或在线聊天，用户可以获得快速的技术咨询和问题解决。
• 电话支持：专业技术人员通过电话提供实时支持，帮助用户解决操作和维护中的问题。
• 在设备出现故障时，JEOL提供现场维修服务，确保设备能够尽快恢复正常运行。
• 技术人员会进行故障诊断、维修和必要的零部件更换。
• 建议用户进行定期的维护保养，以确保仪器的长期稳定性和性能。
• JEOL提供定期检查和校准服务，确保设备始终处于最佳状态。
• 提供用户培训，包括操作手册、软件使用和数据分析等，确保用户能够熟练掌握设备的使用。
• 培训可以在用户现场进行，也可以通过在线课程提供。

相关产品：

能量色散X射线光谱仪 (EDX)：用于分析样品的元素组成和分布。

X射线衍射仪 (XRD)：结合XRD进行晶体结构分析。

透射电子显微镜 (TEM)：用于更高分辨率的微观结构观察。

激光粒度分析仪：分析样品颗粒的尺寸分布。

原子力显微镜 (AFM)：进行更高分辨率的表面形貌分析。