Tonghui同惠 TH511半导体器件C-V特性测试仪
TH511集成了LCR测量、低压源（VGS）和高压源（VDS），并配备通道切换功能，栅极电压（VGS）可调范围为0至±40V，漏极电压（VDS）可调范围为0至±200V，适用于多种半导体器件的测试。支持10kHz至2MHz的测试频率，能够满足不同类型半导体器件的C-V特性分析需求。
科研实验应用：1、半导体材料研究：用于研究新型半导体材料的电气特性；2、功率器件开发：在功率MOSFET、IGBT等器件的研发中进行C-V特性测试；3、电子器件测试：用于消费电子、5G通讯等领域的器件性能测试；4、新能源技术：在电动汽车和可再生能源系统中评估半导体器件的性能；5、电力电子。
Tonghui同惠 TH511半导体器件C-V特性测试仪技术参数：
| 产品型号 | TH511 | ||
| 通道数 | 2（可选配4/6通道） | ||
| 显示 | 显示器 | 10.1英寸(对角线)电容触摸屏 | |
| 比例 | 16:9 | ||
| 分辨率 | 1280×RGB×800 | ||
| 测量参数 | CISS、COSS、CRSS、Rg，四参数任意选择 | ||
| 测试频率 | 范围 | 10kHz-2MHz | |
| 精度 | 0.01% | ||
| 分辨率 | 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz | ||
| 100mHz10.0000kHz-99.9999kHz | |||
| 1Hz 100.000kHz-999.999kHz | |||
| 10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | |||
| 测试电平 | 电压范围 | 5mVrms-2Vrms | |
| 准确度 | ±（10%×设定值+2mV） | ||
| 分辨率 | 1mVrms5mVrms-1Vrms | ||
| 10mVrms1Vrms-2Vrms | |||
| VGS电压 | 范围 | 0-±40V | |
| 准确度 | 1%×设定电压+8mV | ||
| 分辨率 | 1mV 0V-±10V | ||
| 10mV ±10V-±40V | |||
| VDS电压 | 范围 | 0-200V | |
| 准确度 | 1%×设定电压+100mV | ||
| 输出阻抗 | 100Ω，±2%@1kHz | ||
| 数学运算 | 与标称值的绝对偏差Δ，与标称值的百分比偏差Δ% | ||
| 校准功能 | 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD | ||
| 测量平均 | 1-255次 | ||
| AD转换时间（ms/次） | 快速+：0.56ms(＞5kHz)快速：3.3ms中速：90ms慢速：220ms | ||
| 最高准确度 | 0.1%（具体参考说明书） | ||
| CISS、COSS、CRSS | 0.00001pF-9.99999F | ||
| Rg | 0.001mΩ-99.9999MΩ | ||
| Δ% | ±（0.000%-999.9%） | ||
| 多功能参数列表扫描 | 点数 | 20点，每个点可设置平均数，每个点可单独分选 | |
| 参数 | 测试频率、Vg、Vd、通道 | ||
| 触发模式 | 顺序SEQ：当一次触发后，在所有扫描点测量，/EOM/INDEX只输出一次 | ||
| 步进STEP：每次触发执行一个扫描点测量，每点均输出/EOM/INDEX，但列表扫描比较器结果只在最后的/EOM才输出 | |||
Tonghui同惠 TH511半导体器件C-V特性测试仪使用方法：
- 设备准备：确保TH511连接到电源，并检查所有连接线是否完好。
- 样品安装：将待测半导体器件安装在测试夹具中，确保固定牢靠。
- 设置参数：根据测试需求设置栅极电压（VGS）和漏极电压（VDS），选择测试模式。
- 启动测试：按下启动按钮，开始进行C-V特性测试，设备将实时显示测量结果。
- 数据记录：在测试过程中，记录所需的数据，TH511支持数据导出功能。
- 分析结果：使用内置的分析工具对测量结果进行分析，生成报告。
Tonghui同惠 TH511半导体器件C-V特性测试仪哪些实验室在用：
- 清华大学电子工程系：用于半导体材料的电气特性研究。
- 北京大学物理学院：在半导体器件的研发中进行性能测试。
- 上海交通大学电气工程系：用于功率器件的C-V特性分析。
- 中科院半导体研究所：进行新型半导体材料的测试与评估。
- 华南理工大学：在新能源技术研究中评估半导体器件性能。
- 浙江大学电子科学与技术系：用于电子器件的性能测试和分析。
Tonghui同惠 TH511半导体器件C-V特性测试仪售后服务支持：
- 保修期：设备通常提供一定期限的保修期，涵盖制造缺陷和材料问题。
- 备件供应：确保常用备件的及时供应，减少设备停机时间。
- 软件更新：定期提供软件升级服务，添加新功能和修复已知问题。
- 硬件升级：可根据需求提供硬件升级服务，提升设备性能。
- 问题响应：针对客户反馈的问题，提供快速响应和解决方案。
- 保修范围：在保修期内，涵盖设备的材料和工艺缺陷。
- 在线资源：提供用户手册、操作指南和常见问题解答（FAQ）的在线访问。
- 满意度调查：定期进行客户满意度调查，收集反馈以改进服务质量。
相关产品：
LCR测量仪：用于测量电感、电容和电阻，配合C-V测试进行全面分析。
示波器：用于观察电压和电流波形，帮助分析半导体器件的动态特性。
频谱分析仪：用于分析信号的频谱，识别谐波和噪声源。
数据采集系统：用于实时监测和记录多个电力参数，增强数据分析能力。
温度控制设备：监测测试过程中器件的温度变化，确保测试的准确性。
电源供应器：提供稳定的电源，确保测试过程中电压的准确性和稳定性。
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