WAYNE KERR 6500B阻抗分析仪

 

6500B阻抗分析仪频率范围20Hz至120MHz，适用于高频阻抗测量。基本测量精度为±0.05%，确保高准确度。可测量阻抗（Z）、电阻（R）、电容（C）、电感（L）、消耗因子（D）、品质因子（Q）、电导（G）、电抗（X）、导纳（Y）及相位角。大型触摸屏，易于上手。支持USB接口，方便数据存储和导出。

科研实验应用：1、材料特性分析：用于测试电介质和磁性材料的介电常数和磁导率；2、电子元件测试：对电容器、电感器和其他被动元件进行特性分析；3、半导体研究：用于半导体器件的电学特性测试；4、电路设计优化：帮助工程师优化电路设计，分析元件性能。

WAYNE KERR 6500B阻抗分析仪技术参数：

测量函数	电容 (C)、 电感 (L)、 电阻 (R)、 电抗 (X) 电导、 (G) 电纳、 (B) 损耗因数 (D)、 品质因数 (Q)、 阻抗 (Z)、 导纳 (Y)、 相位角 (Ø)
频率范围	6505B 20Hz至5MHz； 6510B 20Hz至10MHz； 6515B 20Hz至15MHz； 6520B 20Hz至20MHz； 6530B 20Hz至30MHz； 6550B 20Hz至50MHz； 65120B 20Hz至120MHz； 频率步长0.1MHz； 设定频率精度±0.005%。
交流驱动级别	5mV至1Vrms（随频率变化） 100µA至20mArms（随频率变化）
测量速度	4种速度可选， 测试频率≥100Hz时，最高可达每秒20次测量。
准确性	损耗因数-±0.0005 (1+D²)品质， 因数-±0.05%(Q+1/Q)， 电容/电感/阻抗-±0.05%， 精度随频率、驱动电平和测量阻抗而变化
直流偏置电流（可选）	/D10至+100mA直流偏置电流和0至+40V直流偏置电压， /D2-40V至+40V直流偏置电压
分箱（选项）	10个电压档位，具有绝对限值和百分比限值； 25针D型接口连接器； /B1（非隔离）公共 0V 档位输出，0至5V（正常），具有 >10mA 的电流吸收能力； /B2（隔离）公共24V输入输出，0至24V，具 >10mA的电流源能力
输入规格	电源-输入电压90VAC至264V AC（自动量程） 市电频率47至63Hz
展示	8.4英寸VGA（640x480）彩色TFT触摸屏
测量连接	前面板上的四个BNC连接器允许连接两、三或四根端子，屏蔽层接地。 标配的1J1011元件夹具可用于连接引线元件和器件。
打印机	HP-PCL兼容图形打印（本地和网络） 、Centronics/并行打印机端口、Epson兼容文本/票据打印（本地）
远程触发器	后面板BNC接口，带内部上拉电阻，逻辑低电平或触点闭合时工作
GPIB接口	外部仪器控制24针IEEE488连接器
USB接口	两个， 符合USB1.1标准的通用串行总线 (USB) 接口
VGA接口	除了内置屏幕外，还配备一个 15针D型连接器，用于驱动外部显示器。
网络接口	10/100-BASETX以太网控制器， RJ45连接器
键盘接口	标准USB或PS/2键盘接口。插入键盘后，仪器前面板仍保持活动状态。
鼠标界面	标准USB或PS/2鼠标接口。 连接鼠标时，触摸屏仍保持启用状态。

WAYNE KERR 6500B阻抗分析仪使用方法：

1. 准备工作：确保仪器接地并连接电源。安装适当的测试夹具。
2. 设置参数：打开仪器，选择所需的测量模式（如阻抗测量、LCR测量等）。根据测试需求设置频率范围和电压。
3. 连接被测元件：将待测元件连接到测试夹具。
4. 进行测量：启动测量，观察屏幕上的实时数据。根据需要调整测量参数。
5. 数据分析：使用内置软件或导出数据到计算机进行进一步分析。生成报告和图表，便于结果展示。
6. 维护与清洁：定期检查连接线和夹具，保持仪器的清洁和良好状态。

WAYNE KERR 6500B阻抗分析仪哪些实验室在用：

• 清华大学：用于电介质材料的介电常数测试。
• 北京大学：用于半导体器件的电学特性分析。
• 复旦大学：用于电感器和电容器的特性测试。
• 华中科技大学：用于材料科学研究中的阻抗测量。
• 南京大学：用于电路设计优化实验。
• 浙江大学：用于新材料的电学性能评估。

WAYNE KERR 6500B阻抗分析仪售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

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