SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统

 

SCK ALD系统温度范围RT ~ 500℃,能够以原子级别的精确度控制薄膜厚度,适用于超薄膜的沉积。支持多达六种前驱体的同时使用,适应不同材料的沉积需求。ALD技术的自限制特性确保每次沉积的材料量一致,保证薄膜的均匀性和一致性。能够在较低的温度下进行沉积,适合温度敏感材料的应用。

SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统

科研实验应用:1、半导体制造:用于制造高性能半导体器件,确保器件的电气性能和可靠性;2、光电器件:在光电器件(如太阳能电池和OLED)中应用,提升器件的光电转换效率;3、纳米技术:用于纳米材料的制备和改性,推动纳米技术的发展;4、MEMS器件:在微机电系统(MEMS)中进行薄膜沉积,确保器件的功能性和稳定性。

SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统技术参数:

型号 SCK-超高压ALD
工艺温度 温度范围:RT~500℃ (可定制)
准确度 ±1℃(可定制)
前体路径 支持6个前体气体路径 (可定制),包括固体和液体前体源瓶
加热系统 加热温度范围: RT~150 ℃
反应物路径数 支持2个反应物气体通路 (可定制)
载气 标准: N2、MFC流量控制 (可定制)
高真空系统 支持高真空度需求的高性能分子泵
胶片转印系统 手动磁棒薄膜转移,配有专用薄膜转移室、闸阀、真空系统 (可定制)
控制系统 19英寸显示,支持触摸工业级嵌入式工业计算机,可靠性高,支持扩展
操作系统 Win7操作系统,工业级可编程逻辑控制器,支持现场总线和实时多任务操作

SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统使用方法:

  1. 设备准备:确保ALD系统处于超高真空状态,检查所有连接和前驱体气体的状态。
  2. 选择前驱体:根据沉积需求选择合适的前驱体,并设置气体流量。
  3. 设置温度:根据材料特性设置合适的沉积温度,确保温度控制精度。
  4. 启动沉积过程:启动ALD系统,按照预设的沉积循环进行操作。
  5. 监控过程:实时监控沉积过程中的压力、温度和气体流量,确保工艺稳定。
  6. 数据记录与分析:沉积完成后,记录数据并进行后续的薄膜特性分析。

SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统哪些实验室在用:

  • 清华大学:用于半导体器件的高精度薄膜沉积。
  • 北京大学:在光电器件研究中应用,提升器件性能。
  • 华南理工大学:用于纳米材料的制备和改性。
  • 浙江大学:在MEMS器件的开发中进行薄膜沉积。
  • 南京大学:用于催化剂的研究与开发。
  • 西安交通大学:在生物医药领域进行生物材料的表面改性。

SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统售后服务支持:

  • 保修期:设备通常提供一定期限的保修期,涵盖制造缺陷和材料问题。
  • 备件供应:确保常用备件的及时供应,减少设备停机时间。
  • 软件更新:定期提供软件升级服务,添加新功能和修复已知问题。
  • 硬件升级:可根据需求提供硬件升级服务,提升设备性能。
  • 问题响应:针对客户反馈的问题,提供快速响应和解决方案。
  • 保修范围:在保修期内,涵盖设备的材料和工艺缺陷。
  • 在线资源:提供用户手册、操作指南和常见问题解答(FAQ)的在线访问。
  • 满意度调查:定期进行客户满意度调查,收集反馈以改进服务质量。

相关产品:

扫描电子显微镜(SEM):用于观察沉积薄膜的微观结构,分析薄膜质量。

原子力显微镜(AFM):用于测量薄膜的表面粗糙度和形貌特征。

X射线光电子能谱(XPS):用于分析薄膜的化学成分和化学状态。

椭偏仪:用于测量薄膜的光学常数和厚度,评估薄膜的光学性能。

气相色谱仪(GC):用于分析前驱体气体的纯度和成分,确保沉积过程的稳定性。

热重分析仪(TGA):用于评估薄膜在不同温度下的热稳定性,确保材料的可靠性。

文章标签:原子层沉积系统ALD超高真空原子层沉积系统sck半导体科研仪器设备 评论收藏分享

采购、售后(仪器设备提交仪器设备信息

"SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统"相关

Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统
Kurt J. Lesker Company ALD-150LE原子层沉积系统配置为纯热ALD,独立基板加热台,最高工作温度可达 500°C。其独特的工艺室设计可促进均匀的前体分散和输送。独特的垂直

发表我的评价

当前位置:首页 » SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统 温度范围RT ~ 500℃
0