SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统
SCK ALD系统温度范围RT ~ 500℃,能够以原子级别的精确度控制薄膜厚度,适用于超薄膜的沉积。支持多达六种前驱体的同时使用,适应不同材料的沉积需求。ALD技术的自限制特性确保每次沉积的材料量一致,保证薄膜的均匀性和一致性。能够在较低的温度下进行沉积,适合温度敏感材料的应用。

科研实验应用:1、半导体制造:用于制造高性能半导体器件,确保器件的电气性能和可靠性;2、光电器件:在光电器件(如太阳能电池和OLED)中应用,提升器件的光电转换效率;3、纳米技术:用于纳米材料的制备和改性,推动纳米技术的发展;4、MEMS器件:在微机电系统(MEMS)中进行薄膜沉积,确保器件的功能性和稳定性。
SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统技术参数:
| 型号 | SCK-超高压ALD |
| 工艺温度 | 温度范围:RT~500℃ (可定制) |
| 准确度 | ±1℃(可定制) |
| 前体路径 | 支持6个前体气体路径 (可定制),包括固体和液体前体源瓶 |
| 加热系统 | 加热温度范围: RT~150 ℃ |
| 反应物路径数 | 支持2个反应物气体通路 (可定制) |
| 载气 | 标准: N2、MFC流量控制 (可定制) |
| 高真空系统 | 支持高真空度需求的高性能分子泵 |
| 胶片转印系统 | 手动磁棒薄膜转移,配有专用薄膜转移室、闸阀、真空系统 (可定制) |
| 控制系统 | 19英寸显示,支持触摸工业级嵌入式工业计算机,可靠性高,支持扩展 |
| 操作系统 | Win7操作系统,工业级可编程逻辑控制器,支持现场总线和实时多任务操作 |
SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统使用方法:
- 设备准备:确保ALD系统处于超高真空状态,检查所有连接和前驱体气体的状态。
- 选择前驱体:根据沉积需求选择合适的前驱体,并设置气体流量。
- 设置温度:根据材料特性设置合适的沉积温度,确保温度控制精度。
- 启动沉积过程:启动ALD系统,按照预设的沉积循环进行操作。
- 监控过程:实时监控沉积过程中的压力、温度和气体流量,确保工艺稳定。
- 数据记录与分析:沉积完成后,记录数据并进行后续的薄膜特性分析。
SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统哪些实验室在用:
- 清华大学:用于半导体器件的高精度薄膜沉积。
- 北京大学:在光电器件研究中应用,提升器件性能。
- 华南理工大学:用于纳米材料的制备和改性。
- 浙江大学:在MEMS器件的开发中进行薄膜沉积。
- 南京大学:用于催化剂的研究与开发。
- 西安交通大学:在生物医药领域进行生物材料的表面改性。
SCK 特高压ALD超高真空原子层沉积系统售后服务支持:
- 保修期:设备通常提供一定期限的保修期,涵盖制造缺陷和材料问题。
- 备件供应:确保常用备件的及时供应,减少设备停机时间。
- 软件更新:定期提供软件升级服务,添加新功能和修复已知问题。
- 硬件升级:可根据需求提供硬件升级服务,提升设备性能。
- 问题响应:针对客户反馈的问题,提供快速响应和解决方案。
- 保修范围:在保修期内,涵盖设备的材料和工艺缺陷。
- 在线资源:提供用户手册、操作指南和常见问题解答(FAQ)的在线访问。
- 满意度调查:定期进行客户满意度调查,收集反馈以改进服务质量。
相关产品:
扫描电子显微镜(SEM):用于观察沉积薄膜的微观结构,分析薄膜质量。
原子力显微镜(AFM):用于测量薄膜的表面粗糙度和形貌特征。
X射线光电子能谱(XPS):用于分析薄膜的化学成分和化学状态。
椭偏仪:用于测量薄膜的光学常数和厚度,评估薄膜的光学性能。
气相色谱仪(GC):用于分析前驱体气体的纯度和成分,确保沉积过程的稳定性。
热重分析仪(TGA):用于评估薄膜在不同温度下的热稳定性,确保材料的可靠性。
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