Tescan INDUSEM扫描电子显微镜

 

INDUSEM扫描电子显微镜低真空模式3-500Pa，具有紧凑的设计和可移动的底盘，适合日常运输。配备额外的大型样品室，适合进行质量控制和故障分析。主动振动隔离，有效减少环境振动，提高成像质量。采用四镜头宽视场光学设计，提供多种工作和显示模式。支持自动操作、设置和对准。

科研实验应用：1、材料科学：用于材料性能优化，提供高分辨率成像和表面分析；2、半导体研究：在半导体器件的故障分析和工艺优化中应用；3、生物医学研究：用于生物样品的高分辨率成像和分析；4、纳米技术：在纳米材料的表征和开发中使用；5、质量控制：在生产过程中进行质量控制和故障分析。

Tescan INDUSEM扫描电子显微镜技术参数：

分辨率高真空(二次电子)低真空(背散射电子)	3.0nm(30kV)，8nm(3kV) 3.5nm(30kV)
工作真空低真空模式	3-500Pa
电子光学工作模式	分辨率/景深/视野/大视野/电子衍射花样
放大倍率	1.5x-1，000，000x
加速电压	200V至30KV
电子枪	钨灯丝
探针电流	1pA至2μA
扫描速度	从20ns/pixel至10ms/pixel，可分段或连续调整
聚焦窗口	形状、尺寸和位置连续可调
扫描特性	动态聚焦，聚焦窗口，点和线扫描，倾斜校正，实时三维图像
图象尺寸	可达8192×8192象素，图像比例可选1：1、4：3或2：1
显微镜控制	通过触摸屏操作VEGA TC软件，所以显微镜的功能均可在WindowsTM平台下实现
自动程序	实时电子束追踪优化，束斑直径优化放大倍数，聚焦消象散，对比度&亮度，扫描速度（根据信噪比），灯丝饱和调整，电子枪对中，光阑&透镜对中，真空控制，加速电压的补偿，灰度级调整。
远程控制	通过TCP/IP
样品室
内部尺寸	300mm宽×330mm深
门宽	280mm宽×310mm深
接口数量	12+
样品室减振方式	内置主动式电磁减振
样品载台
类型	全电脑化优中心
移动范围	X=130mm-马达驱动 Y=130mm-马达驱动 Z=100mm-马达驱动 旋转：360°连续可调-马达驱动 倾斜：-30°到+90°-马达驱动
样品高度	145mm

Tescan INDUSEM扫描电子显微镜使用方法：

1. 设备准备：确保电源连接正常，打开扫描电子显微镜。
2. 样品准备：将待测样品固定在样品台上，确保其稳定。
3. 设置参数：在触摸屏上设置所需的加速电压、真空度和其他成像参数。
4. 对焦：调整焦距以获得清晰的图像。
5. 开始扫描：启动扫描程序，观察实时图像并进行必要的调整。
6. 数据记录：保存所需的图像和数据，进行后续分析。

Tescan INDUSEM扫描电子显微镜哪些实验室在用：

• 清华大学材料科学与工程系：用于材料性能分析和研究。
• 北京大学物理学院：在纳米材料研究中应用。
• 华南理工大学生物医学工程学院：用于生物样品的成像和分析。
• 浙江大学环境科学与工程学院：在环境样品分析中使用。
• 上海交通大学电子工程系：用于半导体器件的故障分析。
• 南京大学化学化工学院：在化学材料的表征中应用。

Tescan INDUSEM扫描电子显微镜售后服务支持：

• 服务内容：提供专业的安装和调试服务，确保设备正常运行。
• 定期维护：建议每年进行一次全面的维护，包括硬件检查和软件更新。
• 校准服务：按照国际标准对设备进行校准，保证测试结果的准确性。
• 热线支持：提供24小时技术热线，解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
• 在线支持：通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
• 原厂配件：提供原厂认证的配件和耗材，确保设备的长期稳定运行。
• 用户培训：为操作人员提供设备使用和维护的培训，确保用户熟练掌握操作技能。
• 定期研讨会：定期举办用户交流会，分享最佳实践和最新技术。

相关产品：

能谱仪（EDS）：用于元素分析，结合扫描电子显微镜进行材料成分分析。

聚焦离子束（FIB）系统：用于样品的微纳加工和制备。

X射线衍射仪（XRD）：用于材料的晶体结构分析，配合SEM进行综合研究。

激光共聚焦显微镜：用于生物样品的三维成像，结合SEM进行细节分析。

样品制备设备：用于样品的切割、抛光和镀膜，确保样品适合SEM分析。

计算机辅助设计（CAD）软件：用于数据分析和图像处理，支持SEM数据的后续分析。