HITACHIS-3400N扫描电子显微镜

 

S-3400N扫描电子显微镜在高真空模式下，二次电子成像分辨率可达3.0nm（30kV），加速电压可调范围为0.3kV至30kV，适应不同样品的观察需求。具备低真空模式，能够观察不导电或潮湿样品，避免样品表面荷电。最大样品直径为200mm，支持多种样品的观察。

科研实验应用：1、材料科学：用于金属、非金属材料的微观形貌和成分分析；2、生物学：观察生物样品的细胞结构和组织形态；3、电子元件：分析电子元件的表面缺陷和微观结构；4、矿物学：对矿石样品进行成分和形貌的研究；5、考古学：用于古文物的表面分析和保护；6、化学研究。

HITACHIS-3400N扫描电子显微镜技术参数：

项目	描述
SE分辨率	3.0nm(30kV)，高真空模式/10nm(3kV),高真空模式
BSE分辨率	4.0nm(30kV)，低真空模式
加速电压	0.3~30kV
低真空范围	6~270Pa
最大样品尺寸	直径200mm
样品台	I型，II型
X	0~80mm，0~100mm
Y	0~40mm，0~50mm
Z	5~35mm；5~65mm
R	360o；360o
T	-20o~+90o；-20o~+90o
T	-20o~+90o；-20o~+90o
最大样品高度	35mm(WD=10mm)80mm(WD=10mm)
驱动类型	手动五轴马达驱动
灯丝	预对中钨灯丝
物镜光栏	可移动式4孔物镜光栏
枪偏压	固定比例偏压、手动偏压和自动4偏
检测器	二次电子检测器高灵敏度半导体背散射电子检测器
分析位置	WD=10mm,TOA=35o
控制	鼠标、键盘，手动旋钮
自动调校	自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦消像散、自动亮度对比度

HITACHIS-3400N扫描电子显微镜使用方法：

1. 设备准备：确保扫描电子显微镜连接电源并正常工作，检查真空系统。
2. 样品准备：将待观察样品固定在样品台上，确保样品表面清洁。
3. 真空抽取：启动真空系统，抽取样品室内的空气，达到所需的真空度。
4. 参数设置：根据样品类型设置加速电压、分辨率和成像模式。
5. 图像采集：启动扫描，实时监控图像采集过程。
6. 数据分析：使用配套软件对采集到的图像进行处理和分析，生成报告。

HITACHIS-3400N扫描电子显微镜哪些实验室在用：

• 清华大学：用于材料科学研究，分析金属和合金的微观结构。
• 北京大学：在生物医学领域观察细胞和组织样品。
• 华南理工大学：用于电子元件的失效分析和质量控制。
• 浙江大学：在矿物学研究中分析矿石样品的成分。
• 上海交通大学：用于考古学研究，分析古文物的表面特征。
• 中国科学院：在化学研究中观察化学材料的微观形貌。

HITACHIS-3400N扫描电子显微镜售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

能谱仪（EDX）：用于样品成分的定性和半定量分析。

离子溅射仪：用于样品表面处理，改善成像质量。

激光扫描仪：用于高精度的三维数据采集，结合SEM进行全面分析。

光学显微镜：用于细节观察，结合SEM进行多层次分析。

样品制备设备：如切割机和抛光机，用于样品的前处理。

计算机视觉软件：用于图像处理和分析，生成三维模型或报告。