JEOL JSM-6010LA扫描电镜
JEOL JSM-6010LA扫描电镜是一款多功能通用SEM,轻松实现5倍至300,000倍放大倍率下的样本导航,同时捕捉多个实时图像和影片。采用新型操作屏和触摸屏,可实现直观操作。 EDS元素分析完全集成。标准配置还包括低真空模式,无需预处理即可轻松观察绝缘体。
科研实验应用:1、材料科学:用于分析金属、合金、陶瓷和复合材料的微观结构,评估其物理和化学性质;2、生物学:观察生物样品(如细胞、组织切片等)的超微结构,帮助研究生物体的功能和疾病机制;3、纳米技术:在纳米材料的研究中,分析纳米颗粒和纳米结构的形貌及分布;4、半导体行业:用于半导体材料和器件的表面形貌及缺陷分析,支持电子元器件的研发。
JEOL JSM-6010LA扫描电镜技术参数:
分解能 | 高真空模式4nm(20kV)8nm(3kV)15nm(1kV) 低真空模式5nm(20kV) |
---|---|
放大 | ×5至×300,000(图像尺寸128mm×96mm) |
图像模式 | 二次电子像、REF像组成像、凹凸像、立体像 |
真空压力低 | 10~100帕 |
加速电压 | 0.5kV~20kV(43段) |
灯丝 | 预定心发夹型钨钢 |
电子枪 | 完全自动、手动调整可能 |
聚光透镜 | 电磁两级变焦聚光透镜系统 |
物镜 | 超圆锥迷你镜头 |
物镜孔径 | 1步,带XY微调 |
散光记忆 | 是的 |
图像偏移 | ±50μm(作动距离10mm) |
预设倍率 | 5个阶段,用户可配置 |
样品台 | 优心载物台 X:80mmY:40mmZ:5mm~48mm 倾斜:-10°~+90°,旋转:360° |
最大样本量 | 直径150毫米 |
样品交换 | 舞台抽拉式 |
图像记忆 | 5,120×3,840×16位1个 |
像素数 | 640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840 |
图像处理功能 | 数字变焦、平均、双活、分割活、灵活窗口、 信号附加功能、伪彩、双倍放大 |
长度测量功能 | 两点长度测量、圆测量、线宽测量、 角度测量、面积测量、计数 |
比较画面 | 1画面+SNS画面(可选*2) |
文件格式 | BMP、TIFF、JPEG图像自动保存有 |
EDS功能*1 | 光谱采集/点分析、定性/定量分析、元素映射、探针跟踪 |
电脑 | 台式触摸屏电脑 |
系统 | Windows7 |
监视器 | 23型触摸屏 |
网络 | 以太网无线局域网(可选) |
定制 | 观察条件、样品台、真空模式 |
自动功能 | 灯丝调节、对准调节、 聚焦、散光、曝光调节 |
排气系统 | 完全自动、TMP:1台、RP:1台 |
JEOL JSM-6010LA扫描电镜使用方法:
- 确保电子扫描电镜的电源和真空系统正常工作,检查样品台和探测器。
- 根据实验需求准备样品,确保样品表面清洁,并进行适当的导电处理(如镀金)。
- 将样品固定在样品台上,确保样品与台面的接触良好。
- 启动真空系统,抽取样品室至所需的真空度,确保电子束的有效传输。
- 在控制面板上设置加速电压、束流强度和扫描速度等参数。
- 启动电子束,观察样品的表面形貌,并调整观察位置和放大倍数。
- 进行图像采集,记录所需的图像和数据,必要时进行能谱分析(EDS)。
- 对采集的数据进行分析,整理实验结果,撰写报告。
- 使用后定期检查和维护设备,保持清洁,确保长期稳定运行。
JEOL JSM-6010LA扫描电镜有哪些实验室在用:
- 中国科学院上海微系统与信息技术研究所:用于微电子元器件部件及结构观察
- 北京大学材料科学与工程学院:用于金属材料微观结构分析
- 清华大学材料科学与工程系:用于新能源材料进行表征分析
- 复旦大学材料科学与工程学院:用于生物材料表征研究
- 武汉理工大学光伏材料与元器件国家重点实验室:用于观察薄膜结构
- 中国科学院合肥物质科学研究院:用于导电聚合物表面形貌分析
JEOL JSM-6010LA扫描电镜售后服务支持:
- 提供24小时在线技术支持,实现远程故障诊断和服务。
- 定期通过培训和返厂检修保证设备性能稳定可靠。
- 专业工程师赴站进行现场系统优化、运行评估和问题解决。
- 备件库备足备件如替换键件,实时支持用户维修更换需求。
- 定期软件升级优化操作界面和数据处理模块。
- 提供各地售后服务站和授权维修点,协调解决问题。
- 定期回访客户并收集反馈,优化服务内容和流程。
- 提供技术支持、产品培训、设备检测与诊断服务。
- 完善售后跟踪管理和客户满意度调研机制。
- 建立全面售后服务保障体系满足客户个性需求。
相关产品:
能谱仪 (EDS):用于化学成分分析,提供样品元素组成的定性和定量信息。
电子探针显微镜 (EPMA):用于进行高分辨率的元素分析和分布图像获取。
扫描探针显微镜 (SPM):用于表面形貌的高分辨率观察,补充电子显微镜的数据。
X射线衍射仪 (XRD):用于材料的相分析和晶体结构研究。
样品制备设备:如离子抛光机或冷冻切割机,用于样品制备,确保样品表面光滑。
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