JEOL JSM-IT810扫描电子显微镜

 

JEOL JSM-IT810提供高达1.0nm的分辨率,具备快速扫描功能,能够在短时间内获取高质量图像。配备直观的操作界面,简化了用户的操作流程。可用于多种样品,包括导电和非导电材料。

JEOL JSM-IT810扫描电子显微镜

有哪些实验室在用:1、材料科学:用于研究材料的微观结构和成分分析;2、生物医学:观察生物样品的细胞结构和组织;3、纳米技术:分析纳米材料的形貌和特性;4、半导体行业:用于半导体器件的缺陷分析和表面研究;5、化学研究:研究化学反应后的产物形态。

JEOL JSM-IT810扫描电子显微镜技术参数:

  • 二次电子图像分辨率:0.5nm(加速电压15kV)
  • 背散射电子图像分辨率:1.5nm
  • 放大倍数:×10至×2,000,000
  • 加速电压:0.01kV至30kV
  • 探针电流:从几皮安到≥500nA
  • 电子枪:In-lensSchottky场发射电子枪
  • 样品台:全欧心式单晶片样品台
  • 样品交换:一键式交换机制
  • 电子探测系统:In-lens探测器,EverhartThornley探测器,可选配可缩回的背散射电子探测器、STEM探测器等
  • 分析系统:EDS(JEOL带/不带窗口,第三方系统)、SXES、EBSD、WDS、CL等

JEOL JSM-IT810扫描电子显微镜使用方法:

  1. 样品准备:确保样品表面干净且适合电子显微镜观察,必要时进行金属镀膜处理。
  2. 设备设置:打开显微镜电源,等待预热。
  3. 调整真空系统,确保样品室达到所需真空度。
  4. 样品安装:将样品固定在样品台上,确保其稳定。
  5. 选择成像模式:根据实验需求选择合适的成像模式(SE或BSE)。
  6. 调整参数:设置加速电压、束流强度等参数。
  7. 开始成像:启动扫描,观察实时图像并进行必要的调整。
  8. 保存数据:完成观察后,保存图像和数据,进行后续分析。

JEOL JSM-IT810扫描电子显微镜有哪些实验室在用:

  • 中国科学院金属研究所:用于金属材料的微观结构分析。
  • 清华大学材料科学与工程系:研究新材料的形貌特征。
  • 北京大学生物医学工程学院:观察细胞和组织样品。
  • 复旦大学化学系:分析化学反应产物的微观形态。
  • 上海交通大学电子工程系:用于半导体器件的缺陷分析。
  • 中山大学纳米科学与技术研究中心:研究纳米材料的特性。

JEOL JSM-IT810扫描电子显微镜售后服务支持:

  • 服务内容:提供专业的安装和调试服务,确保设备正常运行。
  • 定期维护:建议每年进行一次全面的维护,包括硬件检查和软件更新。
  • 校准服务:按照国际标准对设备进行校准,保证测试结果的准确性。
  • 热线支持:提供24小时技术热线,解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
  • 在线支持:通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
  • 原厂配件:提供原厂认证的配件和耗材,确保设备的长期稳定运行。
  • 用户培训:为操作人员提供设备使用和维护的培训,确保用户熟练掌握操作技能。
  • 定期研讨会:定期举办用户交流会,分享最佳实践和最新技术。

相关产品:

JEOLJEM-2100透射电子显微镜:用于更高分辨率的内部结构观察。

X射线衍射仪(XRD):用于材料的晶体结构分析。

原子力显微镜(AFM):用于表面形貌的高分辨率成像。

激光粒度仪:用于测量样品的粒径分布。

能谱仪(EDS):用于样品成分分析。

样品制备机:用于样品的切割和抛光,确保适合显微镜观察。

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