Amptech XRF-K5X射线荧光光谱仪

 

XRF-K5X射线荧光光谱仪可同时检测最多30种元素，分析范围从0.010%到99.999%，能够满足不同材料和应用场景的成分分析需求。测试精度达到±0.03%（以999金为例），支持设备通过网络控制，用户可以远程监控和操作设备，可进行多点连续测试，适合于大批量样品的快速筛查，提升工作效率。

科研实验应用：1、材料成分分析：用于金属、合金、矿石、塑料等材料的化学成分检测，适合材料科学研究和质量控制；2、环境监测：可用于土壤、水质和废弃物中重金属元素的检测，支持环境保护和监测工作；3、矿产勘探：在矿业中应用广泛，用于快速评估矿石中的金属成分，辅助矿产资源的开发和利用；4、电子行业。

Amptech XRF-K5X射线荧光光谱仪技术参数：

名称：	AmptechK5数字合金元素分析银测试试验机黄金纯度钻石Xrf金属便携式
分析要素：	K(19号)~U(92号)
探测器：	AMPTEK定制硅引脚 探测器面积：6mm² 分辨率：145±5eV
分析范围：	0.01%~99.999%
测试样品：	贵金属合金/液体
内置工业电脑：	增强型比例计数器管
测试时间：	英特尔i3双核+ win11系统
窗户材料：	玻璃窗
包装尺寸：	566mmx531mmx560mm毫米
试验箱尺寸：	297x294x80mm毫米
额定功率：	150W
噪音：	<50dB
X射线管：	50KV/1mA
测试精度：	±0.03%(999金)
输入电压：	AC100~240V，50Hz
X射线源：	钼靶x射线管(无辐射)
高压电源：	50KV/1mA数字高压
机器尺寸：	420毫米x350毫米x300毫米
毛重：	44公斤
净重：	32公斤
操作环境：	温度：15℃~31℃ 湿度：<70%(非冷凝)

Amptech XRF-K5X射线荧光光谱仪使用方法：

1. 设备准备：确保仪器放置稳定，并连接电源和必要的外部设备。
2. 样品准备：根据测试要求准备待测样品，确保样品表面光滑、干净，适合进行荧光分析。
3. 选择测试模式：根据实验需求选择合适的测试模式和参数设置，确保符合样品类型。
4. 放置样品：将样品放置在仪器的测试台上，确保位置准确，避免样品移动。
5. 启动测试：启动仪器，开始测试过程。仪器会自动进行元素分析，并记录数据。
6. 数据分析：测试完成后，使用配套软件分析数据，生成测试报告。
7. 清理与维护：测试后清理仪器，定期进行维护和校准，确保设备的准确性和可靠性。

Amptech XRF-K5X射线荧光光谱仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院过程工程研究所：有色金属材料成分锁定与环境保护研究组
• 北京大学材料科学与工程学院：新型建筑材料与建筑遗产保护国家重点实验室
• 同济大学材料科学与工程学院：表面修改与检测国家重点实验室
• 西南科技大学微工器件制备与测试国家重点实验室
• 四川大学功能材料重点实验室：高端新型材料研发中心
• 浙江大学先进制造技术国家重点实验室：物质增强制造重点实验室
• 武汉理工大学材料科学与工程学院：高分辨表征与分析国家重点实验室

Amptech XRF-K5X射线荧光光谱仪售后服务支持：

• 提供7x24小时在线技术支持，远程解答使用问题和维修故障。
• 多地设立售后服务站，提供设备安装、检修和技术培训等现场服务。
• 定期上门服务和检测，及时发现问题并提供解决方案。
• 软件和数据处理算法持续升级优化，提高分析效率和准确度。
• 在线下单备品备件，保证测试不间断进行。
• 积累客户使用数据，制定定期维护计划延长设备使用寿命。
• 定期培训培养专业人员为客户提供更全面技术支持。
• 接收用户反馈改进售后服务体系，提高用户满意度。

相关产品：

扫描电子显微镜 (SEM)：用于高分辨率观察样品表面结构，分析与成分测试结果的关系。

能谱仪 (EDS)：与SEM结合使用，进行元素成分的定量分析，增强材料特性研究。

金相显微镜：用于观察金属和合金的微观结构，为成分分析提供更多信息。

硬度计：测量材料的硬度，与XRF分析结果结合，评估材料性能。

激光粒度仪：用于分析粉末或颗粒材料的粒度分布，补充成分分析的数据。