Malvern Panalytical Epsilon 1 X射线荧光光谱仪

 

测量直接在样品上进行，无需样品制备。借助彩色相机将所需细节定位在小测量点上方，启动测量并获取结果。准直X射线束可以轻松分析样品中的小碎片或小杂质。样品上的光斑尺寸通常为0.8x1.2毫米。彩色摄像头和图片中的十字线，用户可以手动将样品定位在仪器的分析点上。分析后，分析点的照片都会存储在内置计算机中。只需单击一下，即可生成包含照片的分析报告。

科研实验应用：广泛应用于化工、材料、环境等领域的元素定性定量分析，可测定从纳微克到百分位浓度的元素，覆盖从Na到U的周期表元素适用于固体、粉末、液体等多种样品类型的分析。

Malvern Panalytical Epsilon 1 X射线荧光光谱仪参数：

样品处理：

• 任何最大尺寸为15x12x10厘米（宽x深x高）的样品
• 使用彩色摄像头和数字投影十字线定位样品

X射线管：

• 15瓦高稳定性半陶瓷侧窗管
• 最大电流1.5mA，可实现最大迹线灵敏度
• 银阳极，适用于周期表中的大多数元素
• 最大电压为50kV，非常适合分析较重的元素

探测器：

• 高分辨率，通常为135eV
• 高计数率容量的SDD10探测器
• 高透明度薄铍窗

软件功能：

• Onian无标分析，适用于任何样品
• 自动存储摄像图像
• 操作员模式，操作简便
• 高级模式设置专用应用程序

Malvern Panalytical Epsilon 1 X射线荧光光谱仪使用方法：

1. 根据样品状态选择合适的样品制备方法，如压片、熔融成型等。需要注意保证样品的均一性和代表性。
2. 打开Epsilon软件，选择合适的测试方法。
3. 设置管电压、管电流、测量时间等参数。不同样品需要调整这些参数以获得最佳测试效果。
4. 选择合适的分析模式，如基质校正、标准曲线或基于基本参数的定量分析。
5. 将制备好的样品安装到样品台上，确保样品位置正确。
6. 启动测试程序，开始数据采集。测试过程中要注意样品位置的稳定性。
7. 待测试完成后，系统会自动进行光谱数据处理和元素含量分析。
8. 使用Epsilon软件查看测试结果，包括光谱图、定性和定量分析结果。
9. 根据结果对样品成分进行判断和分析，必要时可进行数据校正和再分析。
10. 保存测试报告，记录样品信息、测试条件和分析结果。

Malvern Panalytical Epsilon 1 X射线荧光光谱仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院上海硅酸盐研究所功能材料重点实验室
• 华南理工大学材料科学与工程学院实验中心
• 东南大学材料科学与工程学院复合材料重点实验室
• 北京化工大学材料科与工程学院材料分析中心
• 武汉理工大学材料科学与工程学院分析测试中心
• 天津大学材料科学与工程学院分析中心
• 中国地质大学(北京)材料科学与工程学院复合材料质谱中心

Malvern Panalytical Epsilon 1 X射线荧光光谱仪售后服务支持：

• Malvern Panalytical提供专业的上门维修和保养服务，确保仪器长期稳定高效运行。
• 定期组织用户培训课程，传授样品制备、数据分析等专业知识，提高用户的操作水平。
• 提供丰富的应用文献资料，并设有专业的技术支持团队，随时解答用户在使用过程中遇到的各种问题。
• 提供备件供应，确保客户能够及时获得所需的备件。
• 设有专业的技术支持团队，随时解答用户在使用过程中遇到的各种问题。
• 建立在线技术支持平台，用户可随时通过电话、邮件或在线留言的方式获得技术支持。

相关产品：

X射线衍射仪(XRD)：可与Epsilon 1 XRF联用，实现对材料的更全面表征。

扫描电子显微镜(SEM)：可与Epsilon 1 XRF结合，进行微区元素分析。

电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)：可与Epsilon 1 XRF互补使用，实现对样品的多元素测定。

热重分析仪(TGA)、傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)等，可与Epsilon 1 XRF协同分析，获得更丰富的材料信息。