HITACHI HF5000透射电子显微镜
HF5000透射电子显微镜200kV像差校正TEM/STEM,0.078nm的空间分辨率与高样品倾斜能力和大立体角EDX探测器一起实现,所有这些都在单个物镜配置中实现。全自动探针成型球面像差校正仪,高亮度高稳定性冷FE电子枪(ColdFEG)。
科研实验应用:1、材料科学:用于分析金属、合金、陶瓷和聚合物等材料的微观结构和缺陷;2、生物科学:观察细胞、组织及其内部结构,研究生物样品的超微结构;3、纳米技术:研究纳米材料的形态、大小和分布,分析其性能与应用;4、半导体行业:检测和分析半导体材料及器件的微观结构,帮助开发新型电子器件;5、化学与物理研究。
HITACHI HF5000透射电子显微镜技术参数:
物品 | 描述 | |
---|---|---|
电子源 | W(310)冷场发射电子源 | |
加速电压 | 200千伏、60千伏*1 | |
成像 分辨率 | 干 | 0.078nm(ADF-STEM图像) |
透射电子显微镜 | 0.102nm(晶格像) | |
放大 | 干 | ×20~×8,000,000 |
透射电子显微镜 | ×100~×1,500,000 | |
标本台 | 标本台 | 全同心测角仪五轴平台 |
标本尺寸 | 3毫米φ | |
试样横移 | X,Y=±1.0毫米,Z=±0.4毫米 | |
试样倾斜 | α=±25°,β=±35°(日立双倾斜样品架*1) | |
像差校正器 | 日立自主研发的探针式球面像差校正器(标准设备) | |
图像显示 | 监视器 | 27英寸宽LCD面板(用于标准显示器和第二显示器*1) |
相机 | 标准伸缩摄像 头屏幕摄像头*1(用于观察荧光屏) |
尺寸和重量
物品 | 宽×深×高(mm) | 重量(公斤) |
---|---|---|
柱(含电子枪) | 1,060×1,742×2,970 | 2,300 |
主机盖 | 1,678×1,970×3,157 | 410 |
控制台单元 | 1,400×819×740 | 160 |
控制台扩展*1 | 580×819×740 | 53 |
FE罐 | 1,041×840×1,317 | 520 |
V0罐 | 398×630×1,046 | 180 |
控制电源 | 1,400×693×816 | 190 |
校正器电源 | 606×529×1,096 | 90 |
疏散电源 | 913×663×1,790 | 470 |
偏转电源 | 913×663×1,790 | 430 |
重量 | 280×130×130 | 二十五 |
Gatan控制器*1 *2 | 576×648×1,173 | 150 |
冷却水控制单元 | 470×540×350 | 三十 |
冷却水循环器*1 *2 | 518×724×1,371 | 95 |
干泵*1 | 252×400×336 | 23 |
空气压缩机*1 | 275×560×576 | 二十五 |
HITACHI HF5000透射电子显微镜使用方法步骤:
- 仪器准备:确保HF5000在水平、稳固的工作台上,连接电源和必要的气体源(如氮气)。
- 样品制备:根据样品类型准备薄片,通常厚度需小于100nm,以确保电子束能够透过。
- 样品安装:将处理好的样品放置在样品支架上,并将支架安装到显微镜的样品室内。
- 真空抽取:启动真空系统,抽取样品室至所需真空水平,以减少电子束的散射。
- 调节显微镜设置:设置加速电压(通常在80kV至200kV之间),选择合适的成像模式(如亮场或暗场)。
- 成像:观察和调整显微镜焦距及放大率,实时监控样品图像,确保图像清晰。
- 数据记录:保存所需的图像和数据,记录实验条件以便后续分析。
- 样品取出:完成观察后,关闭高真空系统,取出样品支架,清洁显微镜及样品室。
HITACHI HF5000透射电子显微镜有哪些实验室在用:
- 中国科学院材料研究院:新材料成像结构分析
- 中国科学院武汉物质结构研究院:固体结构特性观察
- 中国科学院金属研究所:金属材料颗粒特征检测
- 武汉理工大学:新型能源材料微观组织研究
- 南京大学:生物组织细胞微结构成像
- 中国矿业大学(北京):矿产微形态学研究
- 中南大学:功能性材料界面结构光谱分析
HITACHI HF5000透射电子显微镜售后服务支持:
- 提供标准保修期,涵盖因制造缺陷导致的设备故障。
- 提供24x7小时电话和在线技术支持,解答用户在使用过程中遇到的各种问题。
- 建议用户制定定期维护计划,确保设备正常运行和性能优化。
- 提供快速故障诊断服务,确保用户的问题得到及时解决。
- 提供现场或在线培训,帮助用户熟悉设备操作和维护。
- 确保用户能够及时获得原厂配件和耗材,保障设备的正常使用。
- 收集用户反馈,持续改进产品和服务质量。
相关产品:
扫描电子显微镜(SEM):用于表面形貌和组成分析,常与透射电子显微镜结合使用。
X射线衍射仪(XRD):用于材料的晶体结构分析,提供与HF5000相结合的材料特性数据。
原子力显微镜(AFM):补充电子显微镜的高分辨率表面分析。
样品制备设备:如离子束抛光机或超薄切片机,用于制备适合透射电子显微镜观察的样品。
能谱仪(EDS):与HF5000联用,进行元素分析和成分定量。
HITACHI HF5000透射电子显微镜是一款高性能的科研仪器,适用于多领域的微观结构分析。为科研人员提供了强有力的支持,助力高水平的科学研究。
文章标签:透射电子显微镜hf5000hitachi透射电镜 透射电子显微镜 TEM 评论收藏分享
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