JEOL JSM-7200F扫描电子显微镜

 

JSM-7200F扫描电子显微镜电子光学系统“In-Lens SchottkyPlus”的技术，并采用了TTLS（通过镜头系统），因此在高加速电压和低加速电压下，空间分辨率高，最大探针电流300nA， In-Lens肖特基电子枪能够进行高通量分析（EDS、WDS、EBSD 等）。

科研实验应用：1、材料科学：用于研究材料的微观结构、成分分析以及表面形貌，适用于金属、陶瓷、聚合物等材料的表征；2、生物学：观察细胞和组织的超微结构，分析生物样品的形态特征和组成，广泛应用于生物医学研究；3、纳米技术：用于纳米材料的形貌观察和特性分析，支持纳米尺度的研究；4、半导体行业：分析半导体器件的微观结构和缺陷，确保产品质量和性能。

JEOL JSM-7200F扫描电子显微镜技术参数：

	JSM-7200F	JSM-7200F低真空模式(LV)*选配
分辨率（1kV）	1.6纳米
分辨率（20千伏）	1.0纳米
解析度（分析）	3.0nm （15kV，WD：10mm，探针电流：5nA）
放大	x10至x1,000,000
加速电压	0.01至30kV
探针电流	1pA至300nA
探测器（标准）	UED、LED
电子枪	透镜内肖特基场发射电子枪
光圈角度控制镜头	内置
物镜	锥形透镜
标本台	完全同心测角台
移动	X：70毫米，Y：50毫米，Z：2至41毫米， 倾斜：-5至70°，旋转：360°
电机控制	5轴电机控制
标本交换室	最大直径：100毫米 最大高度：40毫米 （用干燥氮气排出）
大景深（LDF）	内置
低压模式	-	内置
低压检测器	-	LV-BED、LV-SED （可选）
低压分辨率	-	1.8纳米（30千伏）
LV模式下的压力	-	10Pa至300Pa
孔口控制	-	在操作GUI上
引入气体		氮
抽真空系统（SIP、TMP）	SIPx2，TMP
疏散系统（RP）	RPx1	RPx2

JEOL JSM-7200F扫描电子显微镜使用方法：

• 样品准备：确保样品干燥且具有导电性。非导电样品应涂覆一层金属（如金或碳）以增强导电性。
• 设备设置：打开显微镜，设置真空系统，确保样品室达到所需的真空度。
• 样品安装：将样品固定在样品台上，确保样品位置准确。
• 调节显微镜参数：根据实验需求设置加速电压、工作距离和探测器类型等参数。
• 开始观察：启动电子束，调节扫描速度和图像对比度，实时观察样品的表面形貌。
• 数据采集：保存图像和其他数据，方便后续分析和报告生成。
• 清理与维护：实验结束后，清理样品台，确保仪器处于良好状态，为下次使用做准备。

JEOL JSM-7200F扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院上海微系统与信息技术研究院材料与结构分析实验室
• 华中科技大学材料科学与工程学院材料组织与性能测试中心
• 浙江大学材料科学与工程学院固体表面与界面研究室
• 清华大学材料科学与工程学院高性能复合材料与表面研究室
• 中山大学深圳研究生院材料科学与工程学院功能材料与设备分析室
• 东南大学材料科学与工程学院高等功能材料中心

JEOL JSM-7200F扫描电子显微镜售后服务支持：

• 保修服务：提供一定期限的保修服务，涵盖因制造缺陷导致的故障和问题。
• 技术支持：提供全天候技术支持，用户可通过电话或在线方式获取专业的技术咨询和故障排除帮助。
• 维修服务：提供专业的维修服务，包括现场维修和远程故障诊断，确保仪器快速恢复正常运行。
• 定期维护：建议定期进行设备维护，以确保其性能和可靠性，延长设备的使用寿命。
• 用户培训：提供用户培训服务，帮助用户熟悉仪器操作、数据分析和维护保养，提升使用效率。
• 备件供应：提供原厂认证的备件，确保设备性能和兼容性，及时满足用户的维修需求。
• 软件更新：定期提供软件更新和升级服务，以提高设备的功能和性能，确保用户能够使用最新的分析技术。

相关产品：

透射电子显微镜 (TEM)：用于对样品进行更高分辨率的观察，适合纳米结构分析。

能谱仪 (EDS)：结合扫描电子显微镜，进行元素成分分析，提供样品的化学组成信息。

扫描探针显微镜 (SPM)：用于表面形貌的高分辨率观察，适合超高分辨率的表征。

X射线衍射仪 (XRD)：结合使用可提供样品的晶体结构信息，适用于材料科学研究。

光学显微镜：用于初步观察和样品筛选，适合较大样品的观察。