HITACHI日立 SU8700扫描电子显微镜

 

SU8700扫描电子显微镜日立的肖特基发射极可提供高达40960x30720像素的高分辨率图像和超快速微分析,并具有高探针电流。其0.1kV成像能力无需载物台偏压,扩大了光束敏感样品的应用范围。多种检测器和选项可供选择,双显示器配置支持灵活高效的工作空间。同时显示和保存6个信号,以便在更短的时间内获取更多信息。

HITACHI日立 SU8700扫描电子显微镜

科研实验应用:1、材料科学:用于研究金属、合金、陶瓷和聚合物的微观结构和表面形貌,评估材料的性能;2、半导体行业:分析半导体器件的表面和界面特征,帮助优化制造工艺;3、生物医学:观察生物样品(如细胞和组织)结构,研究生物材料的性能;4、纳米技术:用于纳米材料的表征与分析,研究纳米结构的特性和应用。

HITACHI日立 SU8700扫描电子显微镜技术参数:

电子光学 二次电子图像分辨率 0.6纳米@15千伏
0.8纳米@1千伏
0.9纳米@0.3千伏
放大 20至2,000,000x
电子枪 肖特基发射极
加速电压 0.1至30kV
着陆电压(*1)(*3) 0.01至7kV
探针电流 最大200nA
探测器 标准探测器 上探测器(UD)
下部探测器(LD)
选项检测器 中部探测器(MD)
半导体型BSED(PD-BSED)
超可变压力检测器(UVD)
STEM探测器
可选配件(*2) 能量色散X射线光谱仪(EDS)
电子背散射衍射探测器(EBSD)
可变压力模式(*3) 真空范围 5~300帕
标本台 舞台控制 5轴电机驱动
可动范围
0至110毫米
0至110毫米
1.5至40毫米
电视 -5至70°
R 360°
标本室 样本尺寸 最大φ150毫米(*4)

HITACHI日立 SU8700扫描电子显微镜使用方法:

  1. 设备准备:确保扫描电子显微镜处于良好状态,检查电源和各个部件的连接。
  2. 样品准备:将待测样品清洁,并通过镀金或其他导电处理,确保样品能够导电。
  3. 样品装载:将样品固定在样品台上,确保其位置稳定。
  4. 设置参数:在操作界面上设置加速电压、束流强度、扫描模式等参数。
  5. 真空环境:启动设备,抽真空至所需压力,以提高成像质量。
  6. 图像采集:启动扫描,观察实时图像,调整焦距和对比度,获取清晰的样品图像。
  7. 数据分析:使用设备内置或外部软件分析采集的图像和数据,提取所需信息。
  8. 结果保存:保存图像和数据,生成实验报告以供后续参考。
  9. 设备清理:测试结束后,进行设备的初步清理和维护,确保样品台和其他部件的干净。

HITACHI日立 SU8700扫描电子显微镜有哪些实验室在用:

  • 武汉大学光科学与工程学院图像检测与分析中心
  • 北京理工大学材料科学与工程学院扫描电子显微镜室
  • 中国科学院武汉物理与数学研究所纳米技术室
  • 西安交通大学微电子学与固体电子学国家重点实验室
  • 哈尔滨工业大学微系统国家重点实验室
  • 中国科学技术大学微米工程国家重点实验室

HITACHI日立 SU8700扫描电子显微镜售后服务支持:

  • 提供7x24小时遥测在线故障报警和远程诊断系统。
  • 定期提供软件和固件升级,升级后可以改进功能和操作性。
  • 全国售后服务中心提供上门安装、调试和培训支持。
  • 提供主电子系统的升级和维修保养服务。
  • 保证10年内供应95%以上的常规件质量配件。
  • 提供定期培训以提升用户操作技能和问题定位能力。
  • 收集用户反馈并整改行之有效的改进措施。
  • 如设备损坏,提供免费修复或同等性能替代设备。

相关产品:

  • 透射电子显微镜 (TEM):用于高分辨率观察样品内部结构,提供与SEM互补的信息。
  • X射线衍射仪 (XRD):用于分析材料的晶体结构,与SEM结合研究材料的物理性质。
  • 原子力显微镜 (AFM):用于获取材料表面的三维形貌信息,与SEM图像结合进行深入分析。
  • 光谱仪:用于分析样品的化学成分,提供进一步的材料特征信息。
  • 样品制备设备:包括离子束刻蚀机和冷却台,用于样品的精细制备和处理。

HITACHI 日立 SU8700扫描电子显微镜在科研实验中广泛应用,其高分辨率和高灵敏度使其成为微观结构分析的重要工具。支持科研人员的研究工作。

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