SHIMADZU Kratos AXIS Nova X射线光电子能谱仪

Kratos AXIS Nova X射线光电子能谱仪具有自动样品装载、便于样品定位的正交摄像头和直观的数据采集软件。直径为110毫米的样品盘，可实现无与伦比的大样品处理和高样品吞吐量。通过 XPS成像测量整个表面元素或化学物质的分布。具有高灵敏度、出色的能量分辨率和快速、高空间分辨率成像。

科研实验应用：1、表面化学分析：用于分析材料表面的化学成分和化学状态，广泛应用于材料科学、物理化学和表面科学；2、薄膜分析：薄膜材料的成分分析，帮助研究薄膜的生长过程和性质；3、电子器件研究：在半导体和电子器件研发中，分析界面和表面污染；4、催化剂研究：催化剂表面的性质分析，研究催化剂的活性和选择性；5、腐蚀和污染研究。

SHIMADZU Kratos AXIS Nova X射线光电子能谱仪参数：

SHIMADZU Kratos AXIS Nova X射线光电子能谱仪使用方法：

1. 设备准备：确保设备处于良好状态，检查电源和各个部件的连接。
2. 样品准备：将待测样品清洁并固定在样品台上，确保表面干净且平整。
3. 设定参数：在操作界面上设置测试参数，包括能量范围、光源类型和扫描模式。
4. 真空环境：启动设备，抽真空至所需压力，以提高测量的准确性和灵敏度。
5. 数据采集：启动测量，设备会自动扫描样品表面，收集X射线光电子信号。
6. 数据分析：测量完成后，使用软件分析采集的数据，识别样品中的元素和化学状态。
7. 结果记录：保存和导出分析结果，生成报告以供后续研究和参考。
8. 设备清理：测试结束后，进行设备的初步清理，确保样品台和其他部件的干净。

SHIMADZU Kratos AXIS Nova X射线光电子能谱仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院物理研究所动态光学与光谱研究室
• 北京大学化学与分子工程学院表面与界面分析中心实验室
• 中国科学院广州物质科学与技术国家实验室分光技术部
• 中国科学技术大学物质科学与工程学院实验室
• 同济大学表面与界面工程研究所表面分析中心
• 上海交通大学表面与界面科学国家重点实验室
• 复旦大学理论物理与材料科学学院表面分析实验室

SHIMADZU Kratos AXIS Nova X射线光电子能谱仪售后使用注意事项：

• 使用前检查设备各部件是否完好，防止操作过程中因设备故障造成事故。
• 设定样品测试参数时要保证有效积蓄积光电子信号，积累时间不宜过短或过长影响效率和结果精准度。
• 操作过程中严禁随意打开设备外壳探头，以免损坏探头或危及人身安全。
• 测试样品表面应做好电导与光导处理，以提高信号强度和测量质量。
• 使用过程要保持操作环境清洁整齐，防止杂质污染干扰结果。
• 使用完毕后及时关闭设备电源，并卸下样品对设备做好保护措施。
• 如遇设备参数异常或问题，及时制定补救措施或报告技术人员处理。
• 必要时须接受培训或自主学习设备使用手册以正确操作。
• 定期对设备进行防护和维护保养，确保设备常年良好运行状态。
• 操作人员应遵守相关操作规程和安全操作规则。

相关产品：

• 扫描电子显微镜 (SEM)：用于观察样品的表面形貌和结构，提供与XPS分析互补的信息。
• 透射电子显微镜 (TEM)：适用于分析样品的微观结构，结合XPS数据进行深入研究。
• X射线衍射仪 (XRD)：用于研究材料的晶体结构，与XPS互补，分析材料的相和成分。
• 傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR)：用于分析样品的化学结构，结合XPS分析化学状态。
• 激光共聚焦显微镜：用于表面和界面特征的高分辨率成像，与XPS数据结合进行材料研究。

SHIMADZU Kratos AXIS Nova X射线光电子能谱仪在科研实验中发挥着关键作用，能够提供详细的表面化学分析数据，广泛应用于材料科学和表面研究。