SAIFEI GROUP赛菲 S4800冷场发射扫描电子显微镜
S4800冷场发射扫描电子显微镜ExB设计提高了电子束的聚焦和稳定性,增强成像质量。1KV低加速电压,适合观察热敏感材料和脆弱样品,减少因电子束造成的损伤。可选样品台I型50mmx50mm标准样品台适合小型样品的观察,II型110mmx110mm大样品台适合较大或多样品的观察,提供更大的操作空间。
科研实验应用:材料科学:研究材料的微观结构、晶体缺陷和表面形态;2、纳米技术:观察纳米材料和器件,进行纳米级别的成像和分析;3、生物医学:观察生物样品(如细胞和组织切片),进行生物材料的分析;4、电子设备:研究电子元件的微观结构和失效分析;5、化学分析:分析化学反应中样品的微观变化。
SAIFEI GROUP赛菲 S4800冷场发射扫描电子显微镜技术参数:
- 二次电子分辨率:1.4nm(1kV,减速模式)1.0nm(15kV)
电子光学:
- 电子枪:冷场发射电子源
- 加速电压:0.5~30kV(0.1KV/步,可变)
- 放大倍率:x20~x800,000
- 物镜光阑:4孔,真空外选择和调校(内置加热器)
- 检测器:二次电子检测器(高位/低位)透射电子检测器法拉第杯阴极荧光检测器
样品台l型:
- X:0~50mmY:0~50mmZ:1.5~30mmT:-5~+70°R:360°
- 驱动:手动(可选3轴驱动)
- 扫描模式:标准,Split/dualmag./linescan,positionset,spot,AAF,SAA,oblique
- 画面储存:640x480,1280x960,2560x19205,120x3840
- 扫描速度:TV,慢速(0.5~40s/帧)用于观察慢速(40~320s/帧)用于记录
- 成像过程:自动调节亮度和对比度
- 光栅旋转,自动聚焦,自动像散校正
- 平均,帧积分,伪彩色显示
- 自动数据记录:胶卷号,加速电压,微米标尺,放大倍率,日期,时间,工作距离
- 电子图像移动:±12u(W.D.=8mm)
SAIFEI GROUP赛菲 S4800冷场发射扫描电子显微镜使用方法:
- 准备显微镜:确保设备连接正常,检查真空系统和冷却系统。
- 样品准备:将待观察样品固定在样品台上,确保样品表面干净且平整。
- 选择样品台:根据样品大小选择I型(50mm x 50mm)或II型(110mm x 110mm)样品台。
- 设定电压:根据实验需求设置加速电压(如1KV),以获得最佳成像效果。
- 调整电子束:使用显微镜控制面板调整电子束的聚焦和扫描模式。
- 观察样品:开始观察样品,实时调整焦距和对比度,优化成像效果。
SAIFEI GROUP赛菲 S4800冷场发射扫描电子显微镜有哪些实验室在用:
- 清华大学材料科学与工程系:用于材料微观结构分析。
- 北京大学纳米科学与技术研究中心:研究纳米材料和器件。
- 中国科学院材料研究所:进行材料科学的深入研究。
- 中国科学院生物物理研究所:用于生物材料和细胞样品观察。
SAIFEI GROUP赛菲 S4800冷场发射扫描电子显微镜售后服务支持:
- 技术支持在线和电话支持:提供专业的技术咨询,解决用户在使用过程中的问题。
- 设备保养:建议定期进行维护和校准,以确保显微镜的性能和准确性。
- 故障处理:在设备出现故障时,提供上门维修服务,减少设备停机时间。
- 快速备件供应:确保用户能够迅速获得必要的备件,保障设备的持续运行。
- 操作培训:提供设备操作和维护的培训,确保用户熟悉显微镜的使用。
- 定期更新:提供软件的更新与升级,确保用户使用最新的功能和技术支持。
相关产品:
能谱仪 (EDS):结合扫描电子显微镜进行元素分析,提供样品的组成信息。
X射线衍射仪 (XRD):用于分析材料的晶体结构,与SEM观察结果相结合。
扫描探针显微镜 (SPM):进行表面特性分析,补充SEM的观察数据。
热分析仪:评估材料的热特性,与显微观察相结合,进行深入研究。
图像处理软件:用于后续数据分析和图像处理,生成报告并进行可视化分析。
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