Zeiss蔡司 Sigma 360场地发射扫描电子显微镜

 

Sigma 360场地发射扫描电子显微镜使用EDS几何结构快速方便地执行元素分析。以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。​FE-SEM技术与高级分析相结合。Gemini电子光学系统。从各种检测器选项中进行选择，可以对粒子、表面和纳米结构进行成像。使用低电压，在1 kV或更低的电压下受益于增强的分辨率和对比度。

科研实验应用：用于高分辨率观察微米/纳米尺度材料的表面形貌和微结构，可分析样品的元素组成和化学键合状态，广泛应用于材料科学、微电子、生物医学等领域的研究。

Zeiss蔡司 Sigma 360场地发射扫描电子显微镜技术参数：

• 仪器种类：落地式/传统大型
• 电子枪种类：热场发射
• 产地类别：进口
• 二次电子图象分辨率：0.9nm@15kV，1.3nm@1kV
• 放大倍数：10-1,000,000x
• 加速电压：0.02-30kV
• 最大样品尺寸：直径不超过179毫米
• 样品台：5轴电动优中心样品台
• 检测器系统：二次电子检测器、背散射电子检测器、In-Lens探测器

Zeiss蔡司 Sigma 360场地发射扫描电子显微镜使用方法：

1. 样品制备：清洗样品表面，去除污染物根据需要进行固定、脱水、包埋等处理，在样品表面喷镀导电薄膜(如金、碳等)。
2. 样品装载：将样品放置在样品台上，并夹紧固定，关闭样品室舱门，抽真空到合适压力。
3. 系统调试：打开电源，调整电子光学系统参数，选择合适的加速电压、工作距离等，调节亮度、对比度等，优化成像效果。
4. 扫描成像：选择所需的观察区域并进行扫描，采集二次电子图像、背散射电子图像等，调整扫描参数如放大倍数、分辨率等。
5. 能谱分析(可选)：选择感兴趣区域进行能量色散X射线(EDX)分析，获取样品的元素组成和分布信息。
6. 数据保存：保存所获得的电镜图像和分析数据，并做好相关实验记录和报告。

Zeiss蔡司 Sigma 360场地发射扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 复旦大学材料科学与工程学院
• 浙江大学先进制造技术研究所
• 华南理工大学材料科学与工程学院
• 四川大学材料科学与工程学院
• 中国科学技术大学先进材料研究院

Zeiss蔡司 Sigma 360场地发射扫描电子显微镜售后服务支持：

• 全国性售后服务网络：在北京、上海、广州等地设有服务中心。
• 专业的维修团队：拥有经验丰富的工程师团队提供专业维修服务。
• 快捷的备件供应：备有大量标准备件库存，确保及时供应。
• 用户培训和技术支持：定期开展操作培训课程，提供全方位技术支持。
• 升级改造服务：根据用户需求提供硬件和软件的升级改造方案。
• 应急响应机制：建立完善的 24小时应急响应服务体系。

相关产品：

超声波清洗机：用于清洗样品表面污染物。

离心机：用于样品的制备步骤，如离心沉淀。

涂膜/喷涂设备：用于在样品表面沉积导电层。

光学显微镜：可初步观察样品形貌，为SEM观察做准备。

X射线衍射仪(XRD)：可分析样品的晶体结构信息。