JEOL JIB-PS500i扫描电子显微镜

 

JIB-PS500i扫描电子显微镜结合了高分辨率的扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）系统，能够进行高精度的样品制备和成像。在15kV下分辨率可达0.7nm，在1kV下分辨率为1nm，适合观察微观结构。可容纳直径达130mm、高度达80mm的大型样品，配备STEMPLING2自动TEM样品制备系统。

科研实验应用：1、半导体行业：用于半导体材料的微观结构分析和缺陷检测；2、新能源材料：在电池和储能材料的研究中，分析材料的微观结构和性能；3、材料科学：用于金属、合金及复合材料的微观结构研究；4、生物医学：在生物材料的研究中，观察细胞和组织的微观结构；5、化学催化：用于催化剂的表征和性能分析。

JEOL JIB-PS500i扫描电子显微镜技术参数：

图像分辨率	0.7纳米(15kV) 1.4纳米(1kV) 1.0纳米(1kV，BD模式)
放大	×50至×1,000,000（STD模式） ×1,000至×1,000,000（UHR模式） ×10至×19,000（LDF模式） （128mm×96mm打印尺寸）
着陆电压	0.01至30千伏
束流	~1pA至500nA或更大
试样偏压	0.0至-5.0kV
电子枪	透镜内肖特基+场发射电子枪
光圈角度 控制镜头（ACL）	内置
物镜	电动稳定镜头
长景深 （LDF）模式	内置
探测器（标准）	二次电子探测器（SED）、 上电子探测器（UED）、 透镜内背散射电子探测器（iBED）
放大	×50～×300,000 （受加速电压限制）
加速电压	0.5至30千伏
束流	1.0pA至100nA， 13个阶段可切换（30kV）
可移动光圈	电机驱动，16级可切换 （3级为辅助）
离子源	Ga液态金属离子源
通过铣削加工形状	矩形、圆形、多边形、点、线、BMP
类型	全同心测角台
控制	计算机控制、5轴电机控制 3D干涉测量AVERT引擎
标本 运动	X：130毫米
	Y轴：130毫米
	Z：1.0mm～40mm
	倾斜：-40.0至93.0°
	旋转：360.0°无限位

JEOL JIB-PS500i扫描电子显微镜使用方法：

1. 样品准备：根据实验需求准备样品，确保样品符合仪器要求。
2. 设置仪器：启动JIB-PS500i，设置所需的操作参数，包括电压、束流等。
3. 样品放置：将样品放置在大型样品仓中，确保固定稳妥。
4. 选择探测器：根据实验需求选择合适的探测器。
5. 进行成像：启动扫描电子显微镜进行成像，观察样品的微观结构。
6. 数据分析：收集成像数据，进行后续分析和处理。

JEOL JIB-PS500i扫描电子显微镜哪些实验室在用：

• 中国科学院金属研究所：用于金属材料的微观结构分析。
• 清华大学材料科学与工程系：在新材料研发中进行微观成像。
• 北京航空航天大学：用于航空材料的缺陷检测和分析。
• 上海交通大学：在电池材料研究中进行微观结构观察。
• 武汉理工大学：用于复合材料的微观性能研究。
• 中南大学：在生物材料研究中观察细胞结构。

JEOL JIB-PS500i扫描电子显微镜售后服务支持：

• 服务内容：提供专业的安装和调试服务，确保设备正常运行。
• 定期维护：建议每年进行一次全面的维护，包括硬件检查和软件更新。
• 校准服务：按照国际标准对设备进行校准，保证测试结果的准确性。
• 热线支持：提供24小时技术热线，解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
• 在线支持：通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
• 原厂配件：提供原厂认证的配件和耗材，确保设备的长期稳定运行。
• 用户培训：为操作人员提供设备使用和维护的培训，确保用户熟练掌握操作技能。
• 定期研讨会：定期举办用户交流会，分享最佳实践和最新技术。

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