CIQTEK国仪量子 SEM2100扫描电子显微镜

 

SEM2100扫描电子显微镜分辨率在20kV下可达到3.9nm，支持30kV电压升级，适合观察亚微米尺度的样品。适合初级用户，简化的操作流程符合行业标准。具备大移动范围和多种扩展接口，支持背散射电子探测（BSED）、能量色散X射线光谱（EDS）等附件，能够提供高质量的图像。

科研实验应用：1、材料科学：用于观察和分析金属、陶瓷、聚合物等材料的微观结构；2、半导体制造：在高端芯片的研发和制造中，提供精确的微观结构分析；3、生物医学：用于生物样品的观察和分析，如细胞和组织的微观结构；4、纳米材料研究：用于纳米材料的形貌和结构分析，支持新材料的开发；5、地质科学：用于矿物和岩石样品的微观结构分析，帮助理解地质过程。

CIQTEK国仪量子 SEM2100扫描电子显微镜参数：

关键参数	分辨率	3.9nm@20kV,SE
		4.5nm@20kV,BSE
	加速电压	0.5kV～30kV
	放大倍率	1x～300,000x
样品室	低真空模式	无
	摄像头	光学导航+样品仓内监控
	样品台类型	三轴，XYZ轴真空电机驱动
	XY行程	125mm
	Z行程	50mm
	T行程	/
	R行程	/
探测器	镜筒内电子探测器(Inlens)	/
	仓室内二次电子探测器（ETD）	●
	背散射电子探测器(BSED)	○
	能谱仪（EDS）	○
	背散射衍射（EBSD）	○
扩展	样品交换仓	○
	旋钮板轨迹球	○
软件	操作软件	Windows操作系统，中文SEM软件
	导航	光学导航、手势快捷导航、轨迹球（选配）
	自动功能	自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

●标配○选配/无

CIQTEK国仪量子 SEM2100扫描电子显微镜使用方法：

1. 样品准备：将待观察的样品处理成适合的形状和大小，确保表面平整。
2. 安装样品：将样品固定在样品台上，确保其稳定。
3. 设置参数：根据样品类型选择合适的加速电压和其他成像参数。
4. 启动设备：打开扫描电子显微镜，等待设备稳定。
5. 成像：通过软件界面启动成像，观察样品的微观结构。
6. 数据记录：保存成像结果，并进行必要的数据分析。

CIQTEK国仪量子 SEM2100扫描电子显微镜哪些实验室在用：

• 中国科学技术大学：用于材料科学和纳米技术的研究。
• 清华大学：在生物医学研究中观察细胞和组织结构。
• 北京大学：用于半导体材料的微观结构分析。
• 复旦大学：在地质科学研究中分析矿物样品。
• 上海交通大学：用于纺织材料的质量监控和分析。
• 中科院物理研究所：用于纳米材料的形貌和结构研究。

CIQTEK国仪量子 SEM2100扫描电子显微镜售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

聚焦离子束显微镜（FIB）：用于样品的精细加工和缺陷分析。

X射线衍射仪（XRD）：用于材料的晶体结构分析，结合SEM进行全面研究。

原子力显微镜（AFM）：用于表面形貌的高分辨率观察，常与SEM结合使用。

能量色散X射线光谱仪（EDS）：用于元素分析，配合SEM进行材料成分的定量分析。

激光粒度分析仪：用于颗粒尺寸分布的测量，结合SEM进行材料特性研究。

热分析仪（TGA/DSC）：用于材料热性能的分析，结合SEM观察热处理后的微观结构变化。