Phenom ProX扫描电子显微镜

 

Phenom ProX配备了EDS光谱仪(SDD技术)，因此可以分析样品的元素组成。凭借其长寿命高亮度CeB6电子源，PhenomProX可以在用户维护干预最少的情况下创建最先进的图像。专用于轻松获取最高质量的SEM图像，放大倍数高达350000倍，图像分辨率小于6nm。从装载样品到获取SEM图像的时间不到30秒。

科研实验应用：材料科学：可用于分析各类固体材料的微观形貌、结构和成分,如金属、陶瓷、高分子等；2、能源领域：可用于分析电池、燃料电池、太阳能电池等新能源材料的微结构；3、生命科学：可用于观察细胞、生物组织、微生物等样品的超微结构；4、环境检测：可用于分析土壤、矿物、微粒等环境样品的成分和形貌。

Phenom ProX扫描电子显微镜技术参数：

• 样品加载时间：光学：5秒；电子光学：30秒
• 放大倍数范围：80–350000X
• 图像分辨率：<6nm(SED)、<10nm(BSD)
• 探测器：背散射电子探测器
• 样品尺寸：最大直径32mm
• 样品高度：最高100mm
• EDS光谱仪：轻松的样品导航
• 长寿命电子源(CeB6)：经过优化的电子源可获得高成像分辨率
• 多功能自动诊断系统
• 独特的样品架可消除探测器或真空系统任何部件受损的风险
• 真空模式：标准模式，降低荷电效应模式
• 加速电压：5kV–15kV（20kV可选）
• CCD导航摄像头：光学图像和电子光学图像之间完美关联
• 背散射电子探测器具有两种成像模式：完整、地形
• 图像格式：TIFF、JPEG、BMP

Phenom ProX扫描电子显微镜使用方法：

• 样品准备：根据样品类型采取合适的预处理方法，如真空镀膜、离子溅射等。
• 样品装载：将处理好的样品固定在专用样品台上，并抽真空。
• 参数设置：通过操作界面设置加速电压、电子束电流、扫描模式等参数。
• 成像观察：启动扫描，电子显微镜可获得样品的高分辨率二维图像。
• 数据分析：利用配套软件对获得的图像进行分析、测量和处理。

Phenom ProX扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院物理研究所等国家级科研机构结构分析实验室
• 同济大学等一些授课与研究并重的大学实验教学中心
• 武汉光谷内一些科技企业的技术研发中心
• 中国冶金科技集团等企业内部材料结构分析部门
• 中国科学院半导体研究所等半导体管制分析专业实验室

Phenom ProX扫描电子显微镜售后服务支持：

• 专业技术人员负责现场安装调试，确保设备达到设计性能。
• 提供操作维护培训，通过在线或线下方式传授操作技能。
• 提供包括设备检查、软件升级在内的定期维护服务。
• 通过专用在线平台进行远程诊断和升级服务。
• 定期进行检定以满足各类检测认证要求。
• 如设备故障提供上门检修和更换部件服务。
• 长期备配常用备件支持客户维修需求。
• 提供全天候技术支持热线解答问题。
• 根据用户反馈提供最新版本软件升级。
• 定期用户见面会交流使用心得和需求交流等。

相关产品：

能谱仪(EDS)：可连接能谱仪对样品进行元素成分分析，实现形貌观察和元素分析的一体化

电子背散射衍射仪(EBSD)：可连接EBSD系统对样品进行结构和取向分析，可获得样品的晶体取向、相组成等信息。

拉曼光谱仪：可与拉曼光谱系统联用进行化学成分鉴定，能实现形貌观察和化学组成分析的一体化。

原子力显微镜(AFM)：可与AFM系统联用获取样品的形貌和表面性质，实现高分辨率形貌成像和力学性质测试。