国仪量子 HEM6000高速扫描电子显微镜

 

HEM6000扫描电子显微镜采用高亮度大束流电子枪和高速电子偏转系统，确保成像质量和速度。该显微镜的成像速度是常规场发射扫描电镜的5倍以上，适合大面积样品的快速成像。全自动上下样流程和采图作业，放大倍数范围从66x到1,000,000x。

科研实验应用：1、半导体工业：用于芯片结构的成像和缺陷分析；2、生命科学：在生物医学研究中进行细胞和组织的高分辨成像；3、材料科学：分析材料的微观结构和成分；4、地质科学：用于矿物和岩石样品的成像和分析；5、纳米技术：研究纳米材料的形貌和特性。

国仪量子HEM6000高速扫描电子显微镜参数：

关键参数	分辨率		1.3nm@3kV，SE；1.5nm@1kV，SE
			1.9nm@3kV,BSE；2.3nm@1kV,BSE
			0.9nm@30kV，STEM
	加速电压		100V~6kV(减速模式)
			6kV~30kV(非减速模式)
	放大倍率		66~1,000,000x
	电子枪类型		高亮度肖特基场发射电子枪
	物镜类型		浸没式电磁复合物镜
	偏转系统		静电偏转器
样品装载系统	真空系统		全自动控制，无油真空系统
	样品监控		样品仓监控水平摄像头；换样仓监控垂直摄像头
	样品最大尺寸		直径4英寸
	样品台	类型	电机驱动3轴样品台（*可选配压电驱动样品台）
		行程	X、Y轴：110mm；Z轴：16mm；
		重复定位精度	X轴：±0.6μm；Y轴：±0.3μm；
	换样方式		全自动控制
	换样时间		＜15min
	换样仓清洗		全自动控制等离子清洗系统
图像采集与处理	驻点时间		10ns/pixel
	图像采集速度		2*100Mpixel/s
	图像大小		24K*24K
探测器和扩展	标配		镜筒内混合电子探测器
	选配		低角度背散射电子探测器
			镜筒内高角度背散射电子探测器
			明场透射电子探测器
			高角/中角/底角暗场透射电子探测器
			压电驱动样品台
			高分辨大场模式
			样品仓等离子清洗系统
			6英寸样品装载系统
			主动减震台
			AI降噪；大图拼接；三维重构
软件	语言		中文
	操作系统		Windows
	导航		光学导航、手势快捷导航
	自动功能		自动样品识别、自动选区拍摄、自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

国仪量子 HEM6000高速扫描电子显微镜使用方法：

1. 设备准备：确保显微镜已正确连接电源，检查各部件状态。
2. 样品准备：将待观察样品固定在样品台上，确保样品表面平整。
3. 设置参数：根据实验需求设置加速电压、放大倍数和成像模式。
4. 启动显微镜：打开显微镜，进行自检和预热。
5. 成像：启动成像程序，实时监控图像质量，调整焦距和对比度。
6. 数据记录：保存成像数据，进行后续分析和处理。

国仪量子 HEM6000高速扫描电子显微镜哪些实验室在用：

• 西湖大学生物医学实验技术中心：用于生物样品的高分辨成像和三维重构研究。
• 中国科学技术大学理化科学实验中心：进行材料科学和纳米技术的研究。
• 复旦大学材料科学与工程学院：分析新材料的微观结构。
• 上海交通大学半导体研究所：用于芯片缺陷分析和结构成像。
• 中科院地质与地球物理研究所：研究矿物和岩石样品的微观特性。
• 北京大学环境科学与工程学院：分析环境样品中的污染物。

国仪量子 HEM6000高速扫描电子显微镜售后服务支持：

• 保修期：设备通常提供一定期限的保修期，涵盖制造缺陷和材料问题。
• 备件供应：确保常用备件的及时供应，减少设备停机时间。
• 软件更新：定期提供软件升级服务，添加新功能和修复已知问题。
• 硬件升级：可根据需求提供硬件升级服务，提升设备性能。
• 问题响应：针对客户反馈的问题，提供快速响应和解决方案。
• 保修范围：在保修期内，涵盖设备的材料和工艺缺陷。
• 在线资源：提供用户手册、操作指南和常见问题解答（FAQ）的在线访问。
• 满意度调查：定期进行客户满意度调查，收集反馈以改进服务质量。

相关产品：

聚焦离子束显微镜（FIB）：用于样品的精细加工和缺陷修复。

高效液相色谱仪（HPLC）：用于样品成分的分离和定量分析。

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冷冻电子显微镜（Cryo-EM）：用于生物大分子的三维结构解析。

电泳仪：用于分离生物分子，如DNA和蛋白质。

温湿度记录仪：监测实验环境的温湿度，确保实验条件的稳定性。