FEI Tecnai G2-F20电子透射显微镜

 

FEITitanTecnai G2F20是一款多功能透射电子显微镜，配备Gatan Tridiem 863P柱后图像滤光片(GIF)和高角度能量色散X射线(EDX)探测器。该设置允许进行各种实验。

科研试验应用：G2-F20电子透射显微镜广泛应用于材料科学、纳米科学实验室、生物学实验室、材料电子学实验室等领域的研究和分析。用于对各种材料进行高分辨率的表征和分析。如：晶体学分析、晶格缺陷研究、纳米材料的形貌观察、尺寸分布分析、纳米颗粒组装、电子束辐照效应等。

FEI Tecnai G2-F20扫描透射电子显微镜技术参数：

• 加速电压：200kV
• TEM点分辨率：0.24nm
• STEM分辨率：0.2nm
• EDX能量分辨率：136eV(Mn-Ka)
• EELS能量分辨率：0.75eV
• 旋进电子衍射：晶体取向分辨率1°，空间分辨率3nm
• 多功能、多用户环境的200kV场发射透射，将各种透射电镜技术（BF/DF、SAED、HRTEM、PED、STEM、EDX、EELS等）方便灵活地有机组合，形成强大的综合分析功能

FEI Tecnai G2-F20电子透射显微镜使用方法：

• 准备样品：根据需要，制备适合电子显微镜观察的样品，并将其放置在样品支架上。
• 调节仪器参数：根据样品类型和观察需求，调节电子透射显微镜的参数，如电子束亮度、对比度、聚焦等。
• 获取显微图像：将样品放入电子透射显微镜的样品室中，并使用电子束透射样品，通过检测器捕捉电子透射信号，并生成显微图像。
• 分析和解释：对所获得的显微图像进行分析和解释，例如测量尺寸、分析晶格缺陷、进行元素定性和定量分析等。

FEI Tecnai G2-F20电子透射显微镜有哪些实验室在用：

• 中科院上海应用物理研究所固体电子学国家重点实验室
• 浙江大学材料科学与工程学院
• 北京理工大学新型电池技术实验中心
• 西安电子科技大学微电子学院
• 西安理工大学电子科学与技术学院

FEI Tecnai G2-F20电子透射显微镜售后服务：

在保修期内，如果设备出现制造缺陷，FEI或其授权代理商将提供免费的维修或更换服务。保修范围通常包括设备的零部件和工艺缺陷。

如果设备需要维修，您可以联系FEI或其授权代理商安排维修服务。他们将派遣经过培训的技术人员进行维修和保养，以确保设备在维修后正常运行。

FEI或其授权代理商将提供技术支持，包括设备操作、问题排除和应用咨询等。您可以通过电话、电子邮件或在线支持平台与他们联系，以获取技术支持和指导。

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