HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜
SU9000场发射扫描电子显微镜在30kV下,二次电子分辨率可达0.4nm,在1kV下为1.2nm,适合观察纳米级别的样品。样品位于物镜极靴的上下间隙中,确保最佳的成像质量和稳定性。配备2+2探测系统,支持表面、成分和透射观察,在低电压下(如1kV)仍能保持高分辨率,适合观察电子束敏感样品。
科研实验应用:1、材料科学:用于金属、陶瓷和聚合物等材料的微观结构分析;2、半导体研究:观察半导体器件的表面形貌和故障分析;3、生物医学:用于生物样品的形貌观察和成分分析;4、纳米技术:分析纳米材料的形态和组成;5、催化剂研究:研究催化剂的微观结构和性能。
HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜技术参数:
项目 | 技术指标 | |||
二次电子分辨率 | 0.4nm (加速电压30kV,放大倍率80万倍) | |||
1.2nm (加速电压1kV,放大倍率25万倍) | ||||
STEM分辨率 | 0.34nm(加速电压30kV,晶格象) | |||
观测倍率 | 底片输出 | 显示器输出 | ||
LM模式 | 80~10,000x | 220~25,000x | ||
HM模式 | 800~3,000,000x | 2,200~8,000,000x | ||
样品台 | 侧插式样品杆 | |||
样品移动行程 | X | ±4.0mm | ||
Y | ±2.0mm | |||
Z | ±0.3mm | |||
T | ±40度 | |||
标准样品台 | 平面样品台:5.0mm×9.5mm×3.5mmH | |||
截面样品台:2.0mm×6.0mm×5.0mmH | ||||
专用样品台 | 截面样品台:2.0mm×12.0mm×6.0mmH | |||
双倾截面样品台:0.8mm×8.5mm×3.5mmH | ||||
信号检测器 | 二次电子探测器 | |||
TOP 探测器(选配) | ||||
BF/DF 双STEM探测器(选配) |
HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜使用方法:
- 设备检查:确保显微镜处于良好状态,检查电源、真空系统和电子枪是否正常工作。
- 样品准备:将待观察样品固定在样品台上,确保样品表面清洁且适合电子束照射。
- 开机:打开显微镜电源,启动系统,等待系统自检完成。
- 预热:根据设备要求,预热电子枪和真空系统,通常需要几分钟以达到最佳工作状态。
- 侧插式样品台:使用侧插式样品台将样品放入显微镜中,确保样品正确对齐并固定。
- 调整样品位置:通过控制面板调整样品位置,使其位于电子束的焦点范围内。
- 选择模式:根据实验需求选择合适的观察模式(如二次电子成像SE或透射电子成像STEM)。
- 调整加速电压:设置适当的加速电压(如30kV),以获得最佳分辨率(SU9000在30kV下的分辨率可达0.4nm)。
- 启动扫描:启动电子束扫描,观察实时图像。
- 调整焦距:根据需要调整焦距和对焦,以获得清晰的图像。
- 图像捕获:使用控制面板捕获所需的图像,保存数据以供后续分析。
- 数据分析:利用配套软件进行数据处理和分析,生成报告。
HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜哪些实验室在用:
- 清华大学:用于材料科学研究,分析金属和非金属材料的微观结构。
- 中科院物理研究所:在半导体器件的故障分析中应用。
- 复旦大学:用于生物医学研究,观察生物样品的微观特征。
- 南昌大学:在纳米材料研究中进行形态和成分分析。
- 华东理工大学:用于催化剂的微观结构和性能研究。
- 北京大学:在环境科学研究中分析污染物的微观结构。
HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜售后服务支持:
- 电话与在线支持:提供专业的技术咨询,解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
- 现场服务:技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
- 故障诊断与维修:快速响应用户的维修请求,进行故障诊断和必要的维修。
- 更换零部件:提供原厂零部件的更换服务,确保设备的稳定性和长期使用。
- 操作培训:为用户提供设备操作培训,确保用户能够熟练使用仪器。
- 固件与软件升级:定期提供软件和固件的更新服务,以保证设备功能的最新和最佳性能。
- 用户手册:提供详细的用户手册和操作指南,帮助用户更好地理解和使用设备。
- 技术文献:提供相关的应用文献和案例分析,支持用户的研究和开发工作。
相关产品:
能谱仪(EDS):用于元素成分分析,提供样品的化学组成信息。
背散射电子衍射仪(EBSD):用于晶体取向和微观织构分析,适合材料科学研究。
激光共聚焦显微镜:用于样品的三维形貌分析,结合SEM数据进行综合研究。
离子刻蚀机:用于样品表面处理,改善观察效果。
超声波清洗机:用于清洗样品,确保样品表面无污染。
高效液相色谱仪(HPLC):用于样品的化学分析,提供与SEM数据互补的信息。
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