HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜

 

SU9000场发射扫描电子显微镜在30kV下,二次电子分辨率可达0.4nm,在1kV下为1.2nm,适合观察纳米级别的样品。样品位于物镜极靴的上下间隙中,确保最佳的成像质量和稳定性。配备2+2探测系统,支持表面、成分和透射观察,在低电压下(如1kV)仍能保持高分辨率,适合观察电子束敏感样品。

HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜

科研实验应用:1、材料科学:用于金属、陶瓷和聚合物等材料的微观结构分析;2、半导体研究:观察半导体器件的表面形貌和故障分析;3、生物医学:用于生物样品的形貌观察和成分分析;4、纳米技术:分析纳米材料的形态和组成;5、催化剂研究:研究催化剂的微观结构和性能。

HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜技术参数:

项目 技术指标
二次电子分辨率 0.4nm (加速电压30kV,放大倍率80万倍)
1.2nm (加速电压1kV,放大倍率25万倍)
STEM分辨率 0.34nm(加速电压30kV,晶格象)
观测倍率 底片输出 显示器输出
LM模式 80~10,000x 220~25,000x
HM模式 800~3,000,000x 2,200~8,000,000x
样品台 侧插式样品杆
样品移动行程 X ±4.0mm
Y ±2.0mm
Z ±0.3mm
T ±40度
标准样品台 平面样品台:5.0mm×9.5mm×3.5mmH
截面样品台:2.0mm×6.0mm×5.0mmH
专用样品台 截面样品台:2.0mm×12.0mm×6.0mmH
双倾截面样品台:0.8mm×8.5mm×3.5mmH
信号检测器 二次电子探测器
TOP 探测器(选配)
BF/DF 双STEM探测器(选配)

HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜使用方法:

  1. 设备检查:确保显微镜处于良好状态,检查电源、真空系统和电子枪是否正常工作。
  2. 样品准备:将待观察样品固定在样品台上,确保样品表面清洁且适合电子束照射。
  3. 开机:打开显微镜电源,启动系统,等待系统自检完成。
  4. 预热:根据设备要求,预热电子枪和真空系统,通常需要几分钟以达到最佳工作状态。
  5. 侧插式样品台:使用侧插式样品台将样品放入显微镜中,确保样品正确对齐并固定。
  6. 调整样品位置:通过控制面板调整样品位置,使其位于电子束的焦点范围内。
  7. 选择模式:根据实验需求选择合适的观察模式(如二次电子成像SE或透射电子成像STEM)。
  8. 调整加速电压:设置适当的加速电压(如30kV),以获得最佳分辨率(SU9000在30kV下的分辨率可达0.4nm)。
  9. 启动扫描:启动电子束扫描,观察实时图像。
  10. 调整焦距:根据需要调整焦距和对焦,以获得清晰的图像。
  11. 图像捕获:使用控制面板捕获所需的图像,保存数据以供后续分析。
  12. 数据分析:利用配套软件进行数据处理和分析,生成报告。

HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜哪些实验室在用:

  • 清华大学:用于材料科学研究,分析金属和非金属材料的微观结构。
  • 中科院物理研究所:在半导体器件的故障分析中应用。
  • 复旦大学:用于生物医学研究,观察生物样品的微观特征。
  • 南昌大学:在纳米材料研究中进行形态和成分分析。
  • 华东理工大学:用于催化剂的微观结构和性能研究。
  • 北京大学:在环境科学研究中分析污染物的微观结构。

HITACHI SU9000场发射扫描电子显微镜售后服务支持:

  • 电话与在线支持:提供专业的技术咨询,解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
  • 现场服务:技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
  • 故障诊断与维修:快速响应用户的维修请求,进行故障诊断和必要的维修。
  • 更换零部件:提供原厂零部件的更换服务,确保设备的稳定性和长期使用。
  • 操作培训:为用户提供设备操作培训,确保用户能够熟练使用仪器。
  • 固件与软件升级:定期提供软件和固件的更新服务,以保证设备功能的最新和最佳性能。
  • 用户手册:提供详细的用户手册和操作指南,帮助用户更好地理解和使用设备。
  • 技术文献:提供相关的应用文献和案例分析,支持用户的研究和开发工作。

相关产品:

能谱仪(EDS):用于元素成分分析,提供样品的化学组成信息。

背散射电子衍射仪(EBSD):用于晶体取向和微观织构分析,适合材料科学研究。

激光共聚焦显微镜:用于样品的三维形貌分析,结合SEM数据进行综合研究。

离子刻蚀机:用于样品表面处理,改善观察效果。

超声波清洗机:用于清洗样品,确保样品表面无污染。

高效液相色谱仪(HPLC):用于样品的化学分析,提供与SEM数据互补的信息。

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