HITACHI EA1400 X射线荧光分析仪

 

EA1400 X射线荧光分析仪配备新型硅漂移探测器（SDD），能够在高能量区域实现高灵敏度和高通量测量，采用垂直入射方式，确保X射线照射均匀，可测量从钠（Na，原子序数11）到铀（U，原子序数92）的多种元素，支持12组样品的自动进样系统，提升实验效率。

科研实验应用：1、材料科学：用于金属、合金和其他材料的成分分析；2、环境监测：检测土壤和水样中的重金属污染物；3、电子行业：分析电子元件中的有害物质，确保符合RoHS标准；4、建筑材料：分析水泥、混凝土等建筑材料的成分，确保质量控制；5、化学工业：用于化学品的成分分析和质量控制。

HITACHI EA1400 X射线荧光分析仪技术参数：

• 主要功能：适用于RoHS筛查和通用分析的高性能多用途XRF光谱仪
• 应用领域：多用途材料分析・薄膜分析・快速材料识别・快速RoHS/ELV合规性筛查，及无卤素合规性筛查
• 测量范围：13Al- 92U​，11Na-92U可选真空泵
• 测量大气：空气，真空泵(可选)
• 样品测量：单一位置或12位置转盘
• 测量光斑尺寸：1,3和5mmØ(程控)
• 样品观察：彩色CCD相机
• 检测器：高性能SDD
• 样品舱尺寸：304（宽）×304（深）×110（高）mm

HITACHI EA1400 X射线荧光分析仪使用方法：

1. 样品准备：根据实验要求准备样品，确保样品表面平整，适合进行X射线照射。
2. 设备设置：连接电源，打开EA1400，检查气氛控制系统和冷却系统。
3. 选择分析模式：根据样品类型选择合适的分析模式（如RoHS筛查）。
4. 样品放置：将样品放置在样品台上，确保其位置正确。
5. 启动分析：启动仪器，开始进行元素分析。
6. 数据处理：分析完成后，使用配套软件处理数据，生成分析报告。

HITACHI EA1400 X射线荧光分析仪哪些实验室在用：

• 中国科学院地质与地球物理研究所：用于矿物和土壤样品的重金属分析。
• 清华大学材料科学与工程系：分析金属合金的成分和质量控制。
• 复旦大学化学系：用于化学品的成分分析和质量检测。
• 华东理工大学：检测建筑材料中的有害物质。
• 中南大学环境科学与工程学院：分析水样和土壤样品中的污染物。
• 厦门大学宝石与材料科学研究中心：用于翡翠等宝石的成分鉴定。

HITACHI EA1400 X射线荧光分析仪售后服务支持：

• 在线支持：提供在线技术支持，用户可以通过电子邮件或官方网站提交问题。
• 电话支持：专业技术团队可通过电话为用户提供实时帮助。
• 保修期限：提供一定期限的保修服务，具体视购买协议而定。
• 现场维修：提供现场维修服务，确保设备快速恢复正常运行。
• 运输维修：若设备不能现场修复，可以安排运输至服务中心进行维修。
• 维护计划：提供定期维护服务，以确保设备的最佳性能和准确度。
• 校准服务：定期校准设备，确保测量结果的可靠性。
• 用户培训：提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 应用培训：针对特定应用提供培训，以帮助用户发挥设备的最大潜力。

相关产品：

能谱仪（EDS）：用于样品元素成分的定性和定量分析。

扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品的微观结构。

热重分析仪（TGA）：用于测量材料的热稳定性和分解特性。

差示扫描量热仪（DSC）：分析材料的热特性和相变行为。

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