HORIBA MESA-50K X射线荧光分析仪
MESA-50KX射线荧光分析仪采用硅漂移检测器(SDD),适合高通量分析。体积小、重量轻,内部电池供电,较大的样品室,能够处理多种样品类型,包括固体、液体和粉末。无需液氮,减少维护工作,降低运行成本。支持多种语言(包括中文),配备Excel数据管理工具,操作简便。具备X射线防护,确保操作人员的安全。
科研实验应用:1、材料科学:用于分析金属、合金和陶瓷材料中的元素组成;2、环境监测:检测土壤和水体中的重金属污染,评估环境质量;3、电子行业:用于RoHS和ELV合规性测试,确保产品不含有害物质;4、矿业:分析矿石中的元素含量,优化采矿和冶炼过程。
HORIBA MESA-50KX射线荧光分析仪技术参数:
基本物品 | 原则 | 能量色散X射线荧光光谱法 |
---|---|---|
目标应用 | RoHS、ELV、无卤素 | |
测量元素 | 13Al-92U | |
样品类型 | 固体、液体、粉末 | |
X射线发生器 | X射线管 | 最大50kV,0.2mA |
X射线照射尺寸 | 1.2mm、3mm、7mm(自动切换) | |
X射线初级过滤器 | 4种(自动切换) | |
探测器 | 类型 | SDD(硅漂移探测器) |
信号处理器 | 数字脉冲处理器 | |
样品室 | 气氛 | 空气 |
样本观察 | CCD相机 | |
腔室尺寸 | 460x360x150毫米(宽x深x高) | |
系统 | 系统 | 个人电脑(Windows®7) |
电源 | 100-240伏,50/60赫兹 | |
尺寸 | 590x590x400毫米(宽x深x高) | |
重量 | 60公斤 | |
软件 | 分析功能 | 多层膜FPM(可选)、Sb/As分析(可选) |
HORIBA MESA-50KX射线荧光分析仪使用方法:
- 样品准备:根据需要准备固体、液体或粉末样品,确保样品均匀。
- 输入样品信息:在软件中输入样品名称和重量信息。
- 进样:将样品放入样品室,确保与检测器良好接触。
- 启动分析:通过软件控制分析过程,系统会自动执行所有步骤。
- 数据输出:分析完成后,结果可以以报告形式输出或通过LIMS导出。
HORIBA MESA-50KX射线荧光分析仪哪些实验室在用:
- 中国科学院金属研究所:用于金属材料中元素分析,确保材料质量。
- 清华大学材料科学与工程系:分析合金和陶瓷材料的元素组成。
- 北京大学环境科学与工程学院:检测环境样品中的重金属污染。
- 华东理工大学化学工程学院:研究电池材料中的元素组成。
- 中南大学冶金与环境学院:分析矿石中的元素含量,优化冶炼工艺。
- 复旦大学化学系:用于教学实验,帮助学生理解元素分析技术。
HORIBA MESA-50KX射线荧光分析仪售后服务支持:
- 电话与在线支持:提供专业的技术咨询,解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
- 现场服务:技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
- 故障诊断与维修:快速响应用户的维修请求,进行故障诊断和必要的维修。
- 更换零部件:提供原厂零部件的更换服务,确保设备的稳定性和长期使用。
- 操作培训:为用户提供设备操作培训,确保用户能够熟练使用仪器。
- 固件与软件升级:定期提供软件和固件的更新服务,以保证设备功能的最新和最佳性能。
- 用户手册:提供详细的用户手册和操作指南,帮助用户更好地理解和使用设备。
- 技术文献:提供相关的应用文献和案例分析,支持用户的研究和开发工作。
相关产品:
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气相色谱仪(GC):检测气体样品中的有害元素,评估其环境影响。
质谱仪(MS):用于元素的结构分析和定量,提供更详细的成分信息。
热重分析仪(TGA):分析样品在加热过程中的质量变化,评估元素的释放特性。
红外光谱仪(FTIR):用于检测样品中的化学成分,分析其结构。
自动化样品处理系统:提高样品处理效率,适用于大批量样品的元素分析。
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