HITACHI S-3400N扫描电子显微镜

 

S-3400N扫描电子显微镜在高真空模式下二次电子探头的分辨率可达3.0nm，低真空模式下被散射探头的分辨率可达4.0nm。加速电压范围从0.3kV到30kV，适应不同样品的需求。放大倍数从5倍到300,000倍，适合观察各种微观结构。

科研实验应用：1、材料科学：用于分析材料的微观形貌和组织结构；2、生物医学：观察细胞和组织的超微结构，进行病理分析；3、纳米技术：研究纳米材料的形貌和成分；4、电子行业：分析电子元件的表面缺陷和材料特性。

HITACHI S-3400N扫描电子显微镜技术参数：

项目	描述
SE分辨率	3.0nm(30kV)，高真空模式/10nm(3kV)，高真空模式
BSE分辨率	4.0nm(30kV)，低真空模式
加速电压	0.3~30kV
低真空范围	6~270Pa
最大样品尺寸	直径200mm
样品台	I型II型
X	0~80mm0~100mm
Y	0~40mm0~50mm
Z	5~35mm5~65mm
R	360o360o
T	-20o~+90o-20o~+90o
T	-20o~+90o-20o~+90o
最大样品高度	35mm(WD=10mm)80mm(WD=10mm)
驱动类型	手动五轴马达驱动
灯丝	预对中钨灯丝
物镜光栏	可移动式4孔物镜光栏
枪偏压	固定比例偏压、手动偏压和自动4偏
检测器	二次电子检测器高灵敏度半导体背散射电子检测器
分析位置	WD=10mm，TOA=35o
控制	鼠标、键盘，手动旋钮
自动调校	自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦消像散、自动亮度对比度

HITACHI S-3400N扫描电子显微镜使用方法：

1. 样品准备：根据需要准备固体、液体或粉末样品，确保样品均匀且适合观察。
2. 开机和真空抽取：打开扫描电镜，启动真空系统，等待设备达到所需的真空状态。
3. 输入样品信息：在操作界面输入样品的相关信息。
4. 进样：将样品固定在样品台上，确保样品处于显微镜的观察范围内。
5. 设置参数：根据样品类型选择合适的加速电压和放大倍数。
6. 启动观察：开始扫描，实时观察样品图像，进行必要的调整。
7. 数据记录：保存观察结果和图像，进行后续分析。

HITACHI S-3400N扫描电子显微镜哪些实验室在用：

• 中国科学院金属研究所：用于金属材料的微观结构分析。
• 清华大学材料科学与工程系：分析合金和复合材料的显微组织。
• 北京大学生命科学学院：观察细胞和组织的超微结构。
• 华东理工大学化学工程学院：研究化学材料的微观特性。
• 中南大学冶金与环境学院：分析矿石和冶炼产品的微观形貌。
• 复旦大学化学系：用于教学和科研，帮助学生理解材料的微观特性。

HITACHI S-3400N扫描电子显微镜售后服务支持：

• 服务内容：提供专业的安装和调试服务，确保设备正常运行。
• 定期维护：建议每年进行一次全面的维护，包括硬件检查和软件更新。
• 校准服务：按照国际标准对设备进行校准，保证测试结果的准确性。
• 热线支持：提供24小时技术热线，解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
• 在线支持：通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
• 原厂配件：提供原厂认证的配件和耗材，确保设备的长期稳定运行。
• 用户培训：为操作人员提供设备使用和维护的培训，确保用户熟练掌握操作技能。
• 定期研讨会：定期举办用户交流会，分享最佳实践和最新技术。

相关产品：

能谱仪（EDS）：用于元素成分分析，提供样品的化学组成信息。

透射电子显微镜（TEM）：用于更高分辨率的微观结构观察，适合纳米材料研究。

激光粒度仪：用于测量颗粒的大小分布，补充扫描电镜的形貌分析。

热重分析仪（TGA）：分析样品在加热过程中的质量变化，评估材料的热稳定性。

红外光谱仪（FTIR）：用于检测样品中的化学成分，分析其分子结构。

自动化样品处理系统：提高样品处理效率，适用于大批量样品的分析。