Thermo Scientific Scios 2 DualBeam扫描电子显微镜
Scios 2 DualBeam系统提供1nm的分辨率(在30kV下),适合观察细微结构。结合扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束技术,能够进行高质量样品制备和三维表征。配备Thermo Scientific Auto Slice&View4(AS&V4)软件,实现高质量、全自动的三维数据采集。使用Sidewinder HT离子束镜筒,快速制备高质量的透射电子显微镜(TEM)样品。
科研实验应用:1、材料科学:用于研究新材料的微观结构及其性能;2、纳米技术:在纳米材料的开发与表征中发挥重要作用;3、生物医学工程:用于生物样品的观察与分析,如细胞和组织;4、半导体研究:分析半导体材料的微观结构和缺陷;5、地质科学:用于矿物和岩石样品的微观分析。
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam扫描电子显微镜技术参数:
分辨率:
- 非常好的工作距离下
- 30keV下STEM0.8nm
- 1keV下1.6nm
- 1keV下电子束减速模式1.4nm
电子束参数:
- 探针电流范围:1pA~400nA
- 加速电压范围:200V~30kV
- 着陆电压范围:20eV~30keV
- 大水平视场宽度:7mmWD时为3mm,60mmWD时为7.0nm
- 导航蒙太奇功能,可额外加大视场宽度
离子光学:
- 大束流Sidewinder离子镜筒
- 加速电压范围:500V~30kV
- 离子束流范围:1.5pA~65nA
- 15孔光阑
- 标配不导电样品漂移抑制模式
- 离子源寿命至少1000小时
- 离子束分辨率30kV下3.0nm
样品室:
- 电子束和离子束重合点在分析工作距离处(SEM7mm)
- 端口:21个
- 内宽:379mm
样品台:灵活五轴电动样品台
- XY范围:110mm
- Z范围:65mm
- 旋转:360°连续
- 倾斜:-15°~+90°
- XY重复精度:3μm
- zui大样品尺寸,直径110mm,可沿X、Y轴完全旋转时
- zui大样品高度,与优中心点间隔为85mm
- zui大样品质量5kg(包括样品托)
- 同心旋转和倾斜
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam扫描电子显微镜使用方法:
- 准备样品:确保样品适合在FIB-SEM中观察,必要时进行初步处理。
- 安装样品:将样品固定在样品台上,确保其稳定。
- 设置参数:通过控制面板设置电子束加速电压、成像模式和其他参数。
- 启动系统:开启显微镜,进行初步对准和校准。
- 进行成像:选择合适的成像模式,开始采集图像和数据。
- 数据分析:使用配套软件分析采集到的数据,生成三维模型或其他分析结果。
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam扫描电子显微镜哪些实验室在用:
- 清华大学材料科学与工程系:用于新材料的微观结构研究。
- 北京大学物理学院:在纳米材料的表征中应用。
- 中国科学院金属研究所:用于金属材料的微观分析。
- 华东理工大学化学工程学院:在化学材料的研究中使用。
- 中科院地质与地球物理研究所:用于矿物样品的分析。
- 南方科技大学:在生物医学工程领域进行细胞和组织的观察。
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam扫描电子显微镜售后服务支持:
- 保修期:设备通常提供一定期限的保修期,涵盖制造缺陷和材料问题。
- 备件供应:确保常用备件的及时供应,减少设备停机时间。
- 软件更新:定期提供软件升级服务,添加新功能和修复已知问题。
- 硬件升级:可根据需求提供硬件升级服务,提升设备性能。
- 问题响应:针对客户反馈的问题,提供快速响应和解决方案。
- 保修范围:在保修期内,涵盖设备的材料和工艺缺陷。
- 在线资源:提供用户手册、操作指南和常见问题解答(FAQ)的在线访问。
- 满意度调查:定期进行客户满意度调查,收集反馈以改进服务质量。
相关产品:
透射电子显微镜(TEM):用于进一步分析样品的内部结构。
原子探针显微镜(APT):用于获取样品的原子级别信息。
X射线衍射仪(XRD):用于分析样品的晶体结构。
激光扫描共聚焦显微镜:用于观察样品的表面特征。
能谱仪(EDS):用于获取样品的元素组成信息。
扫描探针显微镜(SPM):用于表面形貌的高分辨率成像。
文章标签:扫描电子显微镜scios 2 dualbeamthermo scientific扫描电镜 扫描电子显微镜 SEM 评论收藏分享
采购、售后(仪器设备提交仪器设备信息
"Thermo Scientific Scios 2 DualBeam扫描电子显微镜"相关
- OPTO-EDU A63.7032扫描电子显微镜
- OPTO-EDU A63.7032扫描电子显微镜300000x放大倍率,带探测器SE+CCD,可选 LVD、BSE、EDS,标准5轴自动工作台,可选3轴自动工作台,通过旋钮控制面板或鼠标滚轮和手势快速
- HITACHI SU8600场发射扫描电子显微镜
- HITACHI的高亮度冷场发射源即使在超低电压下也能提供超高分辨率图像。配备了电子光学自动对准功能,可以稳定地设置光学条件。信号可以同时显示或存储在多达6个通道上。除了SEM图像外,还可以显示相机导航
- HITACHI S3400N扫描电子显微镜
- HITACHI S3400N扫描电子显微镜(SEM)拥有新开发的电光系统,具有更多的自动化功能,结合了自动轴功能,包括自动横梁设置、自动同轴轴。还具有3kV时低加速电压保证10nm分辨率、实时显示两幅